数字半导体测试基础2.doc

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1、VDDOutputTjfSSl.IDDGrossCurrentTest对象:VDDpin目的:粗略检测流入VDDpin的电源电流是否过大.(在wafertest屮很有用),判断是否有必要继续测试.方法:因为不要求精确预置(而只是简单预置,为了使DUT在一个稳定的状态),所以IDD标准应该放宽,一般是2-3倍.所有input用驱动接地或电源,outputs不加负载.用PMU在VDDpin上加VDDmax(最坏情况),测电流,观察结果是否符合限制值.错误分析:有除DUTZ外的其它的系统耗电导致电流过大电阻:在VDD和地之.间的最小总电阻.可以用一个等效电阻代替DUT来验证测

2、试系统的精确性2.IDDStaticCurrentTest对象:VDDpin目的:检测当DUT预置在报低电流消耗逻辑状态下(静态),消耗的电流是否过大.(是检测CMOS器件屮制程问题的有效方法)方法:执行testvectorpattern,将DUT精确预置在特定逻辑状态下.其它的同IDDGrossCurrentTest.错误分析:有除DUTZ外的其它的系统耗电导致电流过大电阻:在VDD和地之.间的报小总电阻.可以用一个等效电阻代替DUT来验证测试系统的精确性3.IDDDynamicCurrentTest对象:VDDpin目的:检测当DUT启动运行其功能时,消耗的电流是否

3、过大方法:在最高工作频率下,运行testvectorpattern,将DUT预置在启动逻辑状态下在测试过程屮pattern持续执行.其它的同IDDGrossCurrentTest.错谋分析:有除DUT之外的其它的系统耗电导致电流过大电阻:在VDD和地之间的最小总电阻.可以用一个等效电阻代替DUT来验证测试系统的精确性4.VOUIOL;VOH/IOHfla.VOL/IOL(定流测压)对象pin目的:测试output在逻辑()状态的时候,输出电阻是否过大.方法(串行/静态):VDD加VDDmin预置outputs逻辑0.用PMU向outputpin灌入一个固定IOL,测电压

4、,与标准做比较..重复步骤直到所有outputpin都测完.错误分析:1)VOL过大但是output逻辑状态正确,表明预置成功,可能器件木身有缺陷.2)VOL过大而且outputpin逻辑状态不正确,表明预置不成功,重新预置电阻:output在0逻辑状态下的最大输出电阻(outputpin与地Z问)用一个等效电阻代替失败的DUTpin可以用来验证测试系统的精确性b.VOH/IOH(定流测压)对象:outputpin目的测试output在逻辑1状态的时候,输出电阻是否过大.方法(串行/静态):VDD加VDDmin预置outputs逻辑1.用PMU向outputpin拉出一

5、个固定1OH,测电压,与标准做比较••重复步骤肓到所有ompulpin都测完.错误分析:1)VOH过小,但是output逻辑状态正确,表明预置成功,可能器件木身有缺陷.2)V0H过小,约为・0.7v(保护二极管起了保护作用).而且outputpin逻辑状态不正确,表明预置不成功,重新预置电阻:output在1逻辑状态下的最大输岀电阻(outputpin与VDDZ间)用一个等效电阻代替失败的DUTpin可以用来验证测试系统的精确性flVDD=VSSa.IIL对象:alli叩utpins目的:测试Eputpin到VDD电阻是否足够大方法(串行7静态):VDD为VDDmax(

6、最坏情况)用Drive固定所有的inputpin为逻辑1.撤除被测试的pin的Drive,在用PMU使这个pin接VSS(logic0),测电流.,比较是否超过标准范围.重复操作肓到所有pin都测完.错误分析:有除DUTZ外的其它的系统耗电导致电流过大器件有缺陷.电阻:i叩ut到VDD之间的最小电阻用一个等效电阻代替可以用来验证测试系统的精确性b.IIH对象:allinputpins目的测试inputpin到地电阻是否足够大方法(串行/静态):VDD为VDDmax(最坏情况)用Drive固定所有的Eputpin为逻辑0.撤除被测试的pin的Drive,在用PMU使这个p

7、in接VDD(logic1),测电流.,比较是否超过标准范围.重复操作直到所有pin都测完.错误分析::有除DUTZ外的其它的系统耗电导致电流过大器件有缺陷.电阻:input到地Z间的最小电阻用一个等效电阻代替可以用来验证测试系统的精确性IIUIIH并行测试法(parallelmethod)I叩utLeakageTest(IIL/IIH)ParallelMethodDUTVDDmax«5^5VPMUTestLimitsvss=ovGTLT-IO.O^iAApplyVDDmax.UsingPMUperpin,forceeachpintoVD

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