CREO2.0扫描建模详解.doc

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1、零件建模——扫描1、扫描概述当使用“扫描”工具创建扫描时，可以创建实体或曲面特征。可在沿一个或多个选定轨迹扫描截面时通过控制截面的方向、旋转和几何来添加或移除材料。可使用恒定截面或可变截面创建扫描。扫描工具的主元件是截面轨迹。草绘截面定位于附加至原点轨迹的框架上，并沿轨迹长度方向移动以创建几何。原点轨迹以及其他轨迹和其他参考(如平面、轴、边或坐标系的轴)定义截面沿扫描的方向。创建扫描时，根据所选轨迹数量，扫描截面类型会自动设置为恒定或可变。单一轨迹设置恒定扫描，多个轨迹设置为可变截面扫描。如果向扫描特征添加或从中移除轨迹，扫描类型会相应调整。但是，可以覆盖默认设置，也可以通过单击或手动设置扫描

2、类型。“恒定截面”(constantsection)-在沿轨迹扫描的过程中，草绘的形状不变。仅截面所在框架的方向发生变化。“可变截面”(variablesection)-将草绘图元约束到其他轨迹(中心平面或现有几何)，或使用由trajpar参数设置的截面关系来使草绘可变。草绘所约束到的参考可更改截面形状。另外，以关系(由trajpar设置)定义标注形式也能使草绘可变。草绘在轨迹点处重新生成，并相应更新其形状。2、扫描特征用户界面2.1单击“模型”(Model) ▶“扫描”(Sweep)。“扫描”(Sweep)选项卡随即打开。2.2扫描选项卡3、创建扫描特征的一般过程3.1单击“模型”(Mode

3、l) ▶“扫描”(Sweep)。“扫描”(Sweep)选项卡随即打开。3.2要选择一条或多条轨迹，单击“参考”(References)选项卡，单击“轨迹”(Trajectories)收集器，然后选择现有曲线链或边链。——按住CTRL键以选择多个轨迹。按住SHIFT键以选择形成链的多个图元。如果需要，请单击“细节”(Details)打开“链”(Chain)对话框来选择轨迹段。——选择的第一个链随即变成原始轨迹。一个箭头出现在原始轨迹上，从轨迹的起点指向扫描将要跟随的路径。单击该箭头，将轨迹的起点更改到轨迹的另一个端点。——要移除轨迹，右键单击并选取“移除”(Remove)。这对除原点轨迹外的所有

4、轨迹均有效。要移除x轨迹或法向轨迹，清除X或N复选框以移除属性，然后移除轨迹。不能替换或移除存在相切参考的轨迹。3.3要更改截面类型，在“扫描”(Sweep)选项卡上，单击创建大小和形状保持不变的截面，或单击创建大小和形状可以沿扫描变化的截面。——除非指定了截面类型，否则开始选择轨迹时会自动设置。如果选择了一条轨迹，截面类型会被设置为恒定。如果选择了多条轨迹，它会被设置为可变。单击截面类型命令可覆盖自动设置。3.4单击创建实体扫描，或单击创建曲面扫描。3.5要沿着扫描移除材料，可单击。单击反向从中移除材料的草绘侧。3.6要给出扫描厚度，请单击，然后键入或选择厚度值。使用在草绘的一侧、另一侧或两

5、侧之间切换加厚方向。3.7对于移除材料的曲面扫描，单击“面组”(Quilts)收集器，然后选择要修剪的面组。3.8单击“参考”(References)选项卡，然后按下列要求选择相应的项：A、在“截平面控制”(Sectionplanecontrol)列表中，选择一个选项来确定如何定向截平面(扫描坐标系的z方向)：——“垂直于轨迹”(NormalToTrajectory)。如果也需要在水平/竖直控制下选择“自动”(Automatic)，可单击“起点的X方向参考”(Xdirectionreferenceatstart)收集器，并选择基准平面或基准曲线、线性边或坐标系的一个独立轴。——“垂直于投影”(

6、NormalToProjection)。单击“方向参考”(Directionreference)收集器并选择用于投影的参考。单击“反向”(Flip)反转方向。——“恒定法向”(ConstantNormalDirection)。单击“方向参考”(Directionreference)收集器并选择用于投影的参考。——如果也需要在水平/竖直控制下选择“自动”(Automatic)，可单击“起点的X方向参考”(Xdirectionreferenceatstart)收集器，并选择基准平面或基准曲线、线性边或坐标系的一个独立轴。B、在“水平/竖直控制”(Horizontal/Verticalcontrol

7、)列表中，选择一个选项来确定绕草绘平面法向的框架旋转沿扫描如何定向(扫描坐标系的xy轴)：——“自动”(Automatic)-截平面由xy方向自动定向。计算x矢量的方向，以使扫描几何扭转程度最低。对于没有任何参考曲面的原点轨迹，“自动”(Automatic)为默认选项。——“垂直于曲面”(NormaltoSurface)-截平面y轴垂直于原点轨迹所在的曲面。如果原点轨迹参考为曲面上的曲线、曲面的单