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1、微型计算机在s测试中的应用’徐中枯内容摘要本文首先介绍了用S一1一1或MEKO)微型计算机测试各种SI电路的。,原理和方法进而介绍了运用S一1一1机的并行接口IA一组成通用测试接口、、、、直接对DJS一061机的MpU分片电路PIA接口EPROMROMRAM等多种L81进。行测试的有关技术Z本文的后一部分介绍了用DSJ一061一1型(或MEK680oD型)微型计算机为控制机,J、组成一个小的LSI芯片测试系统的有关技术包括ISI芯片测试的保护与隔离探针不。良的计算机辅助诊断和LSI常见工艺缺陷的计算机辅助分析此外
2、还介绍了运用DJS一:J。061一1(或MEK680oD)组成全自动工SI芯片测试系统的设计技术言Lsl)的测试,,大规模集成电路(简称是微型计算机电路研制厂家的耳目和枢纽。,,也是整机应用单位必不可少的手段微型计算机有关的1,51品种繁多逻辑关系复杂、。用简单的测试仪和中小规模集成电路的测试方法是无法胜任的微型计算机在功能和。:价格上的双重优势使它成为LSI的最佳测试手段ISI的微型计算机辅助测试已在国外,。先进国家获得广泛的应用形成了各种微型计算机控制的LSI测试系统,口为了适应我所研制微型计算机的迫切需要7
3、9年底我们开始将国外进的微型计算:。机MEK6800D用于DSJ一061机分片电路的测试在我所研制的DJS一。61一1微型计,ZJ算机获得成功后又用该机代替MEK6800D继续进行ISI的计算机辅助测试应用研。,、』究80年2月完成了包括卫IAEPROM在内的十种Is1测试程序和探针的计算机诊,,。,断程序用于上述品种的芯片测试和成测在使用中逐步完善经两个多月使用效果。。。良好提高工效五倍以上80年4月底开始研制用微型机组成芯片测试系统同时带上。半自动四十探根微动台和TTY进行I治I芯片的全自动测试该系统于5月中
4、旬试验成。,、、,功它能对多种I,8I芯片进行全自动测试并对断铝连铝PN结及输入端漏电探,TTY针接触不良等常见芯片失效模式进行计算机辅助诊断并在大片测完后由自动打,。出各种失效模式的分布矩阵为进一步分析提供良好的数据图象,用微LSI,0,L6,0,半年来型计算机测试芯片约200片次sl成品约0管次测试。结果与上机情况吻合本刊于1980年8月22日收至1!一10王一,。微型计算机的采用使LSI的测试工作获得了彻底解放半年来的实践使我们深:切体会到用微型机测LSI有四大好处一.11,,品种通用性强DJS一06机本身
5、功能较强与M68。。了系列软件兼容硬件互,DJS0,,换加上我们采用了一61机套片之一pIA甲B作测试接口为各种I51测试提。,—,。供了高度灵活性变换品种时只须改换管脚换接插板和程序首址不必改换测试接口.2,I名I,提高了可靠性复杂的测试过程往往是十分繁锁的极易因人工送程序或。,。,探计不良引起误测采用微型机后测试程序完全由计算机控制芯片测试前先经过,。探针检查程序从而完全排除了误测3.提高了效率。4.简化了操作步骤一、用微型计算机测试LSI的原理与方法,、,用计算机测LSI时首先将被侧Lsl的动能分为若千细节
6、编成数据图案按时序,其流程图如下:逐项检查用微L,型机测试SI的方法很多纳起来可分为两类,即自检法和外检。人故据法取朝j自检法即将被测ISI插入微型计算立_入极,机内作为微型机本身的一个组成部份。来加以检查这种方法要求LSI不仅功LSI,能正确而且能和其它相配合要求,比较严格通常作为微型计算机有关。LSI的最终检测手段国外微型机公司出售的测试软件包中主要是这种自检程。,序自检法的缺点是由于被测ISI的端子直,,接挂在计算机总线上必须保证电路本身是合格的或基本合格的否则容易引起其。它电路的损坏,。外检法即将被测电路
7、作为计算机整体之外的一部分加以检测主要用于LSI的芯。,,。片和一般成测具体可分为两大类一种为组合格式法另一种为符号差比较法,即把完成测试所需要的全部信息L,组合格式法(包括送入SI的输入数据预先确、、、。认的正确数据和送数取数比较转移等过程)按功能检查次序混合编制程序进行测试,即把输入数据同时送入被测电路和一已知合格电路,符号差比较法然后从两电路的相应输出端取信号加以比较,符号,,(逻辑电平符号)相异为失效相同则通过再检。,查下一功能直至查完也可将合格电路有关数据图案预先取到某存储器中再将被测电路输出信息与存储
8、器内信息进行比较(存储模拟法)、,,组合格式法和比较法各有长短前者程序较复杂占有存储量大但不用合格电路;,,:伴陪后者程序少而简不必预先计算合格输出图案其缺点是必须有合格电路伴陪存一102一,用存,,储模拟法储器代替了合格电路并可对有关数据加以修改和电平调节在国外测。,试系统中获得广泛应用但此法须增加海量存储器在比较信号的同步上也有一些麻。烦,。在本文介绍的测试应用中我们
