SMD分光机使用.doc

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1、作业指导书主题SMD分光机作业指导书页次1/7第一步：（机器检查和启动）1、检查SMD分光机是否正常，并将材料盒清除干净。2、将分光机的所有数据清零。同时启动电脑，打开光电测试系统。第二步：（基本参数设置）设置分光机的基本参数。（图A-1）1、首先选者“LED类型”（见图A-1）、A.单色光LED：一般指单色，红，黄，绿。B.白光LED：指一般白光(暖白，正白/冷白)2、选者LED的脚位架构可测试：两脚单晶，两脚双晶，三脚双晶四脚三晶，六脚三晶（常规3825两脚单晶；5050六脚三晶）文件编号:版次:V1发行日期:发行核准审核作业指导书

2、主题SMD分光机作业指导书页次2/73、中间脚位：如LED类型为三脚双晶或三脚三晶时，则应设置共阴（负极）或共阳（正极）否则选择“无”；4、排向测试：如果所有LED进行测试时都是一个方向，则测试时不用对每一个LED进行排向测试，只要设定方向即可，如正极在前，则择“正极”，负极在前则选者“负极”；5、光强测量选择：是利用光谱卡加积分球还是探测器进行测量。（常规选择“探测器”）如选择光谱卡测量亮度〈光强IV〉则可设置测量亮度的哪一种物理量，可选者亮度〈Mcd〉，能量〈Lm〉两种。6、临界波长可设定A．临界波长：适用于双晶，设定两个晶片之间的

3、波长分界点或适用与三晶，设定第一个晶片和其它晶片着间的下限波长分界点，以便排向测试。B．临界波长2：仅适用于三晶片，设定第一个晶片和其它晶片之间的上限波长分界点（临界波长为下限值，临界波长2为上限值），以便选择晶片。7、VF采样方式：（常规选择“内部”）选定内部：指VF值从电路内部读取（其中VF值会包括接线阻抗压差，但比较稳定）选择外部：指测量VF值时电路采用Kelvin法，可避免接触电阻和线阻造成之测量误差。8、XY打靶点数与结果记录数A．可设定对在量测白光时，材料在色坐标图上的打靶点数。（常规3528为2000/5050为1000）

4、B．可设定对在量测材料时，软件对量测数据保存的材料数量。（常规5000-10000）9、几台分级数：可设定测试机分级输出最大数目，〈注意：改动数据需在规格文件中修改〉10、光谱仪设置：算法（一般为默认设置/“是”为XY坐标来落点，“否”通过颜色来落点），波峰(一般为默认值“荧光波峰”)，暖白-是/正白-否（更据产品修改即可）11．设置好后保存到合适位置。文件编号:版次:V1发行日期:发行核准审核作业指导书主题SMD分光机作业指导书页次3/7第三步：（电气检测）进行电气检查，如下图A-2所示检测后为绿色PASS状态，则可机台作业，如检测后

5、为红色Fail状态则需维修人员检查。a.检测前图A-2b.检测后第四步：（参数校准）1、.将机台调为手动模式：如图A-5所示在机台主界面运转选择中选择分光探针，把标准件放入吸嘴将分光探针闭合。然后点击分光触发看是否能点亮。a分光机画面（图A-5）b分光探针开启文件编号:版次:V1发行日期:发行核准审核作业指导书主题SMD分光机作业指导书页次4/72、参数校准：当标准件放置好后如图A-6-a所示更据“标准件”设置白光设置（IV，XY，VF，）或图A-6-b所示单色光设置（IVλd/λpVF）设置6好后先清零在选择校准，当校准到偏移值为0时

6、，既可选择“保存”。（此选项波峰图中的波峰高低通过积分时间来调整，但不能低于波峰图显示的1/2图A-6a白光校准图A-6a单色光校准文件编号:版次:V1发行日期:发行核准审核作业指导书主题SMD分光机作业指导书页次5/7第五步：（晶片规格设置）晶片规格设置：如图A-3/A-4所示POL,IR,XY测试为默认设置不需修改（电流3528为20mA/5050为60mA，POL测试项目电流不变为默认20MA）VF,IV,λd更据晶片规格或标准件设置最大和最小值(晶片规格中的最小与最大设置应较为放宽以便测试)图A-3a白光晶片规格设置选项b单色光

7、晶片规格设置选项文件编号:版次:V1发行日期:发行核准审核作业指导书主题SMD分光机作业指导书页次6/7第六步：（运行及XY打点界面）1、当标准件设置保存好后，如图A-7选择“运行”中多次点击单步为画色区做准备，在点击“XY打点图”界面中的“XY分级”点击色坐标中的“分析”进入“白光分级界面”如图A-8，先点击打靶显示出标准件落点后，在更据产品所对应的分光色区图表中色区的X，Y，坐标输入进“白光分级界面”中(XY1,XY2,XY3,XY4)输入第一个色区时应选择“重新分级”，当要继续增加色区时应更改为“累加分级”每完成一个色区时都要进行

8、“打靶图”与“分级”保存，（如图A-8所示点击“白光分级界面”中的“分级”出现“自动分级”界面在更据产品分级要求输入VF和IV的“起始值”“公差”“分级数”，分级方式默认IV等差，输入完后在点击“载入”图A