JTAG接口.doc

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1、JTAG接口目录JTAG接口基本信息JTAG的一些说明JTAG接口定义展开JTAG接口基本信息JTAG的一些说明JTAG接口定义展开JTAG接口　　1JTAG(JointTestActionGroup；联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。　　JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（TestAcce

2、ssPort；测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-SystemProgrammable？在线编程），对FLASH等器件进行编程。　　JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程。　　具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：　　

3、TCK——测试时钟输入；　　TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；　　TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；　　TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。　　可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。　　含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。　　JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。TAP控制器的状态机通过TCK和TMS进行状态的改变，实现数据和指令的输入。图1为TAP控制器的状态机框图。　　2JTAG芯片的边界扫描寄存器　　JTAG标准定义了一个串行的移

4、位寄存器。寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-ScanCell）边界扫描单元。这个串联的BSC在IC内部构成JTAG回路，所有的BSR（Boundary-ScanRegister）边界扫描寄存器通过JTAG测试激活，平时这些引脚保持正常的IC功能。图2为具有JTAG口的IC内部BSR单元与引脚的关系。　　3JTAG在线写Flash的硬件电路设计和与PC的连接方式　　以含JTAG接口的StrongARMSA1110为例，Flash为Intel28F128J3216MB容量。SA1110的JTAG的TCK、

5、TDI、TMS、TDO分别接PC并口的2、3、4、11线上，通过程序将对JTAG口的控制指令和目标代码从PC的并口写入JTAG的BSR中。在设计PCB时，必须将SA1110的数据线和地址线及控制线与Flash的地线线、数据线和控制线相连。因SA1110的数据线、地址线及控制线的引脚上都有其相应BSC，只要用JTAG指令将数据、地址及控制信号送到其BSC中，就可通过BSC对应的引脚将信号送给Flash，实现对Flash的操作。JTAG的系统板设计和连线关系如图3所示。　　4通过使用TAP状态机的指令实行对Flash的操作　　通过TCK、TMS的设置，可将JT

6、AG设置为接收指令或数据状态。JTAG常用指令如下：　　SAMPLE/PRELOAD——用此指令采样BSC内容或将数据写入BSC单元；　　EXTEST——当执行此指令时，BSC的内容通过引脚送到其连接的相应芯片的引脚，我们就是通过这种指令实现在线写Flash的；　　BYPASS——此指令将一个一位寄存器轩于BSC的移位回路中，即仅有一个一位寄存器处于TDI和TDO之间。　　在PCB电路设计好后，即可用程序先将对JTAG的控制指令，通过TDI送入JTAG控制器的指令寄存器中。再通过TDI将要写Flash的地址、数据及控制线信号入BSR中，并将数据锁存到BSC

7、中，用EXTEST指令通过BSC将写入Flash。　　5软件编程　　在线写Flash的程序用TurboC编写。程序使用PC的并行口，将程序通过含有JTAG的芯片写入Flash芯片。程序先对PC的并口初始化，对JTAG口复位和测试，并读Flash，判断是否加锁。如加锁，必须先解锁，方可进行操作。写Flash之前，必须对其先擦除。将JTAG芯片设置在EXTEST模式，通过PC的并口，将目标文件通过JTAG写入Flash，并在烧写完成后进行校验。程序主流程如图4所示。　　通过JTAG的读芯片ID子程序如下：　　voidid_command(void){　　put

8、p(1,0,IP);//Run-Test/Idle;使JTAG复位