3 晶体结构缺陷 材料科学基础.ppt

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1、第二章晶体结构缺陷2.1晶体结构缺陷的类型2.2点缺陷2.3线缺陷2.4面缺陷2.5固溶体2.6非化学计量化合物缺陷的含义:通常把晶体点阵结构中周期性势场的畸变称为晶体的结构缺陷。理想晶体:质点严格按照空间点阵排列。实际晶体:存在着各种各样的结构的不完整性。缺陷对材料性能的影响:由于缺陷的存在,才使晶体表现出各种各样的性质,使材料制备过程中的动力学过程得以进行,使材料加工、使用过程中的各种性能得以有效控制和改变,使材料性能的改善和复合材料的制备得以实现。2.1晶体结构缺陷的类型分类方式:几何形态:点缺陷、线缺陷、面缺陷等形成原因:热缺陷、杂质缺陷、非化学计量缺陷

2、等一、按缺陷的几何形态分类1.点缺陷2.线缺陷3.面缺陷4.体缺陷1.点缺陷(零维缺陷)缺陷尺寸处于原子大小的数量级上,即三维方向上缺陷的尺寸都很小。包括:空位(vacancy)、间隙质点(interstitialparticle)、杂质质点(foreignparticle),如图2-1所示。点缺陷与材料的电学性质、光学性质、材料的高温动力学过程等有关。图2-1晶体中的点缺陷(a)空位(b)杂质质点(c)间隙质点2.线缺陷(一维缺陷)指在一维方向上偏离理想晶体中的周期性、规则性排列所产生的缺陷,即缺陷尺寸在一维方向较长,另外二维方向上很短。如各种位错(dislo

3、cation),如图2-2所示。线缺陷的产生及运动与材料的韧性、脆性密切相关。图2-2(a)刃位错(b)螺位错(a)(b)3.面缺陷面缺陷又称为二维缺陷,是指在二维方向上偏离理想晶体中的周期性、规则性排列而产生的缺陷,即缺陷尺寸在二维方向上延伸,在第三维方向上很小。如晶界、表面、堆积层错、镶嵌结构等。面缺陷的取向及分布与材料的断裂韧性有关。图2-3面缺陷-晶界图2-4面缺陷-堆积层错 面心立方晶体中的抽出型层错(a)和插入型层错(b)图2-5 面缺陷-共格晶面 面心立方晶体中{111}面反映孪晶二、按缺陷产生的原因分类1.热缺陷2.杂质缺陷3.非化学计量缺陷4.

4、其它原因,如电荷缺陷,辐照缺陷等1.热缺陷定义:热缺陷亦称为本征缺陷,是指由热起伏的原因所产生的空位或间隙质点(原子或离子)。类型:弗仑克尔缺陷(Frenkeldefect)和肖特基缺陷(Schottkydefect)热缺陷浓度与温度的关系:温度升高时,热缺陷浓度增加图2-6热缺陷产生示意图(a)弗仑克尔缺陷的形成(空位与间隙质点成对出现)(b)单质中的肖特基缺陷的形成2.杂质缺陷定义:亦称为组成缺陷,是由外加杂质的引入所产生的缺陷。特征:如果杂质的含量在固溶体的溶解度范围内,则杂质缺陷的浓度与温度无关。杂质缺陷对材料性能的影响:微量杂质的存在,会极大地改变机制

5、晶体的物理性能。3.非化学计量缺陷定义:指组成上偏离化学中的定比定律所形成的缺陷。它是由基质晶体与介质中的某些组分发生交换而产生。如Fe1-xO、Zn1+xO等晶体中的缺陷。特点:其化学组成随周围气氛的性质及其分压大小而变化。是一种半导体材料。4.其它原因,如电荷缺陷,辐照缺陷等电荷缺陷:电荷缺陷是指质点排列的周期性未受到破坏,但因电子或孔穴的产生,使周期性势场发生畸变而产生的缺陷。辐照缺陷:辐照缺陷是指材料在辐照之下所产生的结构的不完整性。辐照可以使材料内部产生各种缺陷。Engineeringmaterialsarecomposedofverylargenum

6、bersofatomsinsmallvolumes.Becauseofthelargenumberofatomsinvolved,weshouldexpectahighprobabilityforsome“mistakes”tooccurintheatomicarrangement.Incrystallinesolidsthesemistakesarecalleddefects,andtheymayoccurinseveraldifferentforms,includingsingleatoms(pointdefects),rowsofatoms(lineard

7、efects),planesofatoms(planardefects),andsmallthreedimensionalclustersofatoms(volumedefects).Wewillseethatitisimpossibletoavoiddefectsinmaterials.Itisobservedthattoobtain100%purityofanymaterialisextremelydifficult.Ofcourseitisdesirabletoaddadditionalatomspeciestootherwise“pure”materia

8、l.Forpurpose

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