集成电路开短路测试.doc

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1、摘要本次设计针对测试集成电路的开短路。作品设计以AT89S52,两个CD4051，一个待测芯片MC34063为主，用AT89S52来控制CD4051输入引脚从而使得输出其中一个引脚，此引脚用来连接被侧的其中一个引脚。34063芯片测试仪基本功能是集成电路的开短路测试、基准电压测试、集成电路等级评定；自动分装时能够与机械手系统通信；用数码显示基准电压和集成电路等级评定结果。在评定集成电路等级时，第一种测试仪只需分辨合格与不合格。芯片的测试分两次。在芯片制造完成后必须对圆片上的芯片（小片）进行测试。测试后进行切割。测试合格的芯片

2、才能进行封装。封装完成后的芯片还要进行第二次测试。当已经封装的芯片被测出故障，厂商应当拆掉封装进行测试，找出故障原因。这时候的故障可能是由于焊接等过程中的静电等原因造成的。关键词：一片AT89S52；两片CD4051；一片MC3406310目录一、选题意义2二、原理分析2三、总体设计3四、详细设计31、硬件设计3（1）恒电流电路设计（2）判决电路设计（3）控制电路设计（4）选通电路设计2、软件设计5五、系统实现81、硬件原理图六、测试9七、总结.........................................

3、..............................................................................9八、参考文献..................................................................................................................................1010集成电路开短路测试一．选题的意义对集成电路厂家来说，开短路测试(openshorttest)

4、是集成电路生产商必须具备的一项关键技术，关系到企业的生存；对消费者使用者来说，开短路测试关系到一个项目的生产效率，在很大程度上决定着工作的质量。二．原理分析集成电路开短路测试分为开路测试(openshorttoVDD)和短路测试(openshorttoVSS)。一般来说，芯片的每个引脚都有泄放或保护电路是两个首尾相连的二极管，一端接VDD，一端接VSS，信号是从两个二极管的接点进来测试时测试时,先把芯片的VDD引脚接0伏(或接地),再给每个芯片引脚供给一个100uA到500uA从测试机到芯片的电流,电流会经上端二极管流向VD

5、D（0伏），然后测引脚的电压,正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,我们一般设上限为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VDD测试.open_short_to_VSS测试的原理基本相同.同样把先VDD接0伏，然后再给一个芯片到测试的电流,电流由VSS经下端二级管流向测试机.然后测引脚的电压,同样正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,只是电压方向相反,上限还是为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为ope

6、nfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VSS测试.三．总体设计判决电路恒流源电路控制电路选通电路四．详细设计(一)硬件设计1.恒电流电路设计105V电压源通过电路产生2.5V电压，供电流源使用。电流源是通过Q1和Q2两个PNP管基极共联以及三个电阻按右上图所示连接而成，该电流源主要用于提供100mA到500mA的电流用于测试输入，其中C4电容主要是在瞬间断电起到缓冲作用1.判决电路设计比较电路上端接2.5V，通过电阻的分压作用在芯片LM358AM的2号引脚产生1.5V的电压，在5

7、号引脚产生0.2V的电压；将3和6号引脚电位与他们比较，以此来选通二极管D1或D2，当3和6号引脚电位高于1.5V或低于0.2V时二极管其中一个导通，介于两电位之间时两个二极管全部截止，其中3和6号引脚电位等于所U3选通引脚电位。2.控制电路设计10控制电路主要通过对AT89S52编程控制U2和U3的6，9，10，11号引脚实现；右上图是AT89S52的复位电路。1.选通电路设计选通电路主要用于选择被测芯片的引脚，芯片U2选通的引脚通过其3号引脚将被测引脚点置0，芯片U3选通的引脚置于与其3号引脚相同的电平，之后通过发光二极

8、管来显示两引脚是开路或短路，还是正常。(二)软件设计#include#include#defineuintunsignedint10#defineucharunsignedcharsbitP1_0=P1^0;//定义p1.0口sbitP1_1=P1^