材料分析方法试卷5

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1、材料现代分析方法试题5材料学院材料科学与工程专业_年级_班级材料现代分析方法课程200—200学年第—学期（）卷期末考试题（120分钟）考生姓名学号考试时间题号得分分数主考教师：阅卷教师：—、基本概念题（共10题，每题5分）1.若X射线管的额定功率为1.5kW,在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？2•证明（no）.（121）.（321）.（oil）、（1【2）晶面属于［111］晶带。3.当X射线在原子例上发射时，相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍，则此方向上必然不存在放射，为什么

2、？4.某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来，其。较高抑或较低？相应的d较大还是较小？5.已知CgAu为面心立方结构，可以以有序和无序两种结构存在，请画出其有序和无序结构［001］晶带的电子衍射花样，并标定出其指数。6.（1）试说明电子束入射固体样品表面激发的主要信号、主要特点和用途。（2）扫描电镜的分辨率受哪些因素影响？给出典型信号成像的分辨率，并说明原因。（3）二次电子（SE）信号主要用于分析样品表面形貌，说明其衬度形成原理。（4）用二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？

3、7.何为偏离参量S?试分别画出s+g=s.g,s+g=0以及sig>0时产生电子衍射的厄瓦尔德球构图。&请说明层错的一般衬度特征。9.若只含碳氢两种元素的一种不饱和有机物有三个双键，如何用一种光谱来确定其双键可能的排列类型？9.红外谱图在2100-2400CH1有吸收峰，则可能含有几种什么基团？二、综合及分析题（共5题，每题10分）1.试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射強度（公式）、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。2.试述X射线衍射物相分析步骤？及其鉴定

4、时应注意问题？3.菊池线产生的原因是什么？表现出什么样的几何特征？请画出不同取向条件下发生菊池线衍射和斑点衍射的厄瓦尔德球构图，以及菊池线对与衍射斑点的相对位置图。4.已知衍衬动力学理论的衍射强度表达式为式中，%亠*,其中S为偏移参量，&为消光距离，请讨论等厚消光与等倾消光现象，并与运动学理论比较。5.推断谱图中可能含有什么基团？材料现代分析方法试题5（参考答案）—、基本概念题（共10题，每题5分）1.若X射线管的额定功率为1.5kW,在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？答：1.5kW/35kV=

5、0.043A1.证明（110）、（121）、（321）、（011）、（1辺）晶面属于［111］晶带。答：根据品带定律公式Hu+Kv+Lw=O计算(no)品面：1x1+1xi+oxi=i—i+o=o(応I)晶面:1X1+1X24-1X1=1—2+1=0■一(321)晶面：3X1+2X14-1X1=(—3)+2+1=0(011)晶面：0X1+1X1+1X1=0+(―1)+1=0(132)晶面：1X1+EX1+1X2=1+(—3)+2=0因此，经上五个晶面屈于［111］晶带。2.当X射线在原子例上发射时，相邻原

6、子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍，则此方向上必然不存在放射，为什么？答：因为X射线在原子上发射的强度非常弱，需通过波程差为波长的整数倍而产生干涉加强后才可能有反射线存在，而干涉加强的条件z—•必须存在波程差，且波程差需等于其波长的整数倍，不为波长的整数倍方向上必然不存在反射。3.某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来，其。较高抑或较低？相应的d较大还是较小？答：背射区线条与透射区线条比较8较高，d较小。产生衍射线必须符合布拉格方程2dsin0=X,对于背射区属于20高角度区，根据d=入/

7、2sin0,()越大d越小。4.已知C113A11为面心立方结构，可以以有序和无序两种结构存在，请画出其有序和无序结构［001］晶带的电子衍射花样，并标定出其指数。答：如图所不：1.（1）试说明电子束入射固体样品表面激发的主要信号、主要特点和用途。（2）扫描电镜的分辨率受哪些因素影响？给出典型信号成像的分辨率，并说明原因。（3）二次电子（SE）信号主要用于分析样品表面形貌，说明其衬度形成原理。（4）用二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？答：（1）背散射电子:能量高；來自样品表面

8、几百nni深度范围；其产额随原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。二次电了:能量较低；来自表层5-lOnm深度范围；对样品表面状态十分敬感.不能进行成分分析•主要用于分析样品表面形貌。吸收电子:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电子的衬度互补.吸收电了能产生原了序数衬度，即可用來进行定性的微区成分分析.透射电子：透射屯子信号曲微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成分分析.特征X射线：用