4、边长为1,某几何体的三视图如图所示，则该几何体的表面积为（）C.36+M+学D・36+9^2+9738•己知抛物线C:x2=2/?y（p>0）的焦点F到准线/的距离为2,点M在直线/上N是直线MF与抛物线C的一个交点，且F/W+4FN=0,过点"作垂直于y轴的直线，该直线与抛物线C的另一个交点为则△ONN'（0为坐标原点）的面积为（）B.76A.誓B.AC.普9.已知定义在/?上，且周期为2的函数/（兀）满足/（x）=二寫二J若函数如MU有3个零点，则实数R的取值范围是（C.22、<2J3'5丿A.o—,22B.
5、D.10.已知函数/(x)=3x/3si・Xsin—cos4扌+3cos芍+加在［0,刃上的最小值为扌，点A为函数/（x）的图象在x轴正方向上第一个最高点点B为函数/（x）的图象在x轴正方向上笫二个零点点。为坐标原点贝0lanAABO=A.丄719B.—3兀C-D.—3兀11.已知实数兀？满足4x>-3(y-])(3x+y-6)<0,则丄的取值范围为（）xA.-1B.-3,-L2丿C.(一3上<5D.12.已知正方体ABCD-A,B}C}D^.点E是线段BC的屮点，点M是直线BD、上界于乩耳的点，则平面DEM可能
6、经过下列点屮的（）A.AC.A,D.C第II卷（共90分）二、填空题（每题5分，满分20分，将答案填在答题纸上）13.已知向量加,n不共线，且（加+3舁）//（加2-2n）,则实数2的值为14.已知圆。的半径为6,OQQQa是圆0的两条相互垂直的直径，分别以q,O2，q，Q为圆心，4为半径作圆，圆0与各圆的交点与点0连线得到的三角形如图屮阴影部分所示，则往圆0内随机投掷一点，该点落在阴影部分内的概率为15.已知ABC中,角A,B,C所对的边分别为a,b,cacosB+Z?cosA=V2ccosC,则的面积为.（
7、i16.已知关于A•的不等式
8、lnx
9、-ln2>7?7x--的解集为（0,-ko）,则实数加的值为•厶）三.解答题（本大题共6小题，共70分•解答应写出文字说明、证明过程或演算步骤・）17.已知公差不为0的等差数列匕｝的前三项的和为15,且qq（）=禺4・（1）求数列｛匕｝的通项公式；（2）设4=—!—,数列｛»｝的前〃项和为S”,若S”5恒成立，求实数加的最小值.18.如图，四棱锥P-ABCD中，APCD为等边三角形，CD=AD=2ABtE,S,T,Q为CD,PA,PB,AD的中点,ZABC=ABCD=ZP
10、EA=90°,平面STRQc平面ABCD=RQ.（1）证明：平面〃E丄平面STRQ；（2）若=求三棱锥Q-BCT的体积.19.长沙某公司生产一种高科技晶片100片，生产过程中由于受到一些不可抗因素的影响，晶片会受到一定程度的磨损，因此在生产结束之后需要由测试人员进行相应的指标测试•指标测试悄况统计如表所示：若M>60,则称该晶片为合格品，否则该品片为劣质品.测试抬杯w「20,40)「40.60)[SO.1(H))rI00<1201频卓23282—252552525（1）试求本次生产过程中该公司生产出合格品的频率以
11、及数量；（2）求这批晶片测试指标的平均值；（3）现按照分层抽样的方法在测试指标在［60,80）与［1（）0,120］Z间的晶片屮抽取6个晶片，再从这6个晶片中任取2个晶片进入深入分析，求恰有1个晶片的测试指标在［60,80）之间的概率.19.己知椭圆C:务+話=l@>b>0）过点［-2，*，且离心率为扌，直线/过点（0-1）,是椭圆上关于/对称的两点.（1）求椭圆C的标准
