西南大学材料分析

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1、名词解释X射线相干散射与非相干散射答：相T散射：当x射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞吋，电子振动吋向四周发射电磁波的散射过程。非相干散射：当x射线光了与束缚不大的外层电了或价电了或金属晶体中的自由电了相撞时的散射过程。光电子.荧光x射线以及俄歇电子答：光电了：光电效应中由光了激发所产生的电了（或入射光量了与物质原了中电了相互碰撞时被激发的电子）。荧光x射线:ihx射线激发所产半的特征x射线。俄歇电了：原了外层电了跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位，这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收，受激发逸

2、出原了的电子叫做俄歇电了。X射线吸收规律、线吸收系数答：X射线吸收规律：强度为I的特征X射线在均匀物质内部通过时，强度的衰减与在物质内通过的距离X成比例，即-dI/I=Mdxo线吸收系数：即为上式中的「指在X射线传播方向上单位长度上的X射线强弱衰减程度。衍射矢量与倒易矢量答：衍射矢量:当束X射线被晶面P反射时,假定N为晶面P的法线方向,入射线方向用单位矢量SO表示，衍射线方向用单位矢量S表示，则S-SO为衍射矢量。倒易矢量：从倒易点阵原点向任一倒易阵点所连接的矢量叫倒易矢屋，表示为:r*=Ha*+Kb*+Lc*d1

3、结构因子：2d'Sine=nA2—答：定屋表征原子排布以及原了种类对衍射强度影响规律的参数，即晶体结构对衍射强度的影响因子焦深:指在保持影像较为清晰的询捉下，焦点（焦平而）沿着镜头光轴所允许移动的距离。二次电子入射电子从固体中直接击出的的原了的核外电了和激发态原了退回基态时产生的电子发射，前者叫二次电子，后者叫特征二次电子质厚衬度非晶样品透射电子显微图像衬度是由于样品不同微区间存在的原了序数或厚度的差异而形成的，即质量厚度衬度（质量厚度定义为试样上表面单位面积以下柱体中的质量）,也叫质厚衬度明场像与暗场像在电了显微

4、镜中，用透明样品的非散射电了以及在物镜孔径角区域内的散射电了的电子束对样品所形成的像。在电了显微镜中，仅利用透过样品的散射电了束对样品所形成的像球差亦称球Mi像差。轴上物点发出的光束，经光学系统以后，与光轴夹不同角度的光线交光轴于不同位置，因此，在像面上形成一个圜形弥散斑，这就是球差。一燉是以实际光线在像方与光轴的交点相对于近轴光线与光轴交点（即高斯像点）的轴向距离来度量它。场深背散射电子：入射电子与固体作用后乂离开固体的总电子流。衍射衬度：由于晶体对电子的衍射效应而形成的衬度。热分析（thermalanalysi

5、s）是指用热力学参数或物理参数随温度变化的关系进行分析的方法。程序控制温度:指按一定的速率升温（或降温）差热分析（DTA）是指在程序控制温度卜•测量物质和参比物的温度差与温度关系的技术参比物（或基准物，中性体）指在分析温度范围内不产生热效应（既不吸热，也不放热）的物质。差示扫描量热法（DSC）差示扫描量热法（DSC）是在程序控制温度下，测量输给物质和参比物的功率差与温度关系的一种技术。热重法（TG或TGA）在程序控温卜•，测量物质的质量与温度关系的技术。简答题1窗述多晶体X射线衍射强度影响因素及其应用多重性因子:等

6、同晶面对衍射强度的影响吸收规律：试样形状和衍射方向的不同，衍射线在试样中穿行的路径便不同，引起吸收效果的不一样。解：参考P42-P50影响X射线衍射强度的因索有如下5项：①结构因子②角因子包括极化因子和洛仑兹因子③多重性因子④吸收因子⑤温度因子。应用：利用各影响因了对衍射强度的影响，可判断出晶胞内原了的种类，原了个数，原了位冒。结专因子：①消光规律的判断；②金属间化合物的有序度的判断。角因子：利用谢乐公式研究晶粒尺寸温度因了：研究晶体的热运动，测定热膨胀系数等。2电子束与试样物质作用产生那些信号？说明其用途。1）二

7、次电了。当入射电了和样品中原了的价电了发生非弹性散射作用时会损失其部分能量（约30〜50电了伏特），这部分能量激发核外电了脱离原了，能量大于材料逸出功的价电了可从样晶表而逸出，变成真空中的自山电子，即二次电子。二次电子对试样表而状态非常敏感，能有效地显示试样表而的微观形貌。（2）背散射电了。背散射电了是指被固体样品原了反射回来的一部分入射电了。既包括与样品中原子核作用而形成的弹性背散射电子，乂包括与样品中核外电了作用而形成的非弹性散射电子。利用背反射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可以用来显示原子序数衬度，进

8、行定性成分分析。（3）X射线。当入射电了和原子中内层电了发生非弹性散射作用时也会损失英部分能量（约儿百电了伏特），这部分能量将激发内层电了发生电离，失掉内层电了的原了处于不稳定的较髙能量状态，它们将依据一•定的选择定则向能量较低的量子态跃迁，跃迁的过程中将可能发射具冇特征能虽的x射线光了。由于x射线光了反映样品中元索的组成情况，因此可以用于分析材料的成分。3