本科毕业论文的翻译、读书报告、文献综述写作指导(佟艳群)

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1、本科毕业论文的翻译、读书报告、文献综述写作指导（佟艳群）本科毕业论文文献综述、读书报告、外文翻译学院名称：机械学院专业班级：光信1002学生姓名：蒋杰志指导教师姓名：佟艳群指导教师职称：讲师XX年06月文献综述摘要本文介绍了当前激光散斑技术的一些比较成熟的应用领域、现今的一些表面分析技术和激光散斑法对金属表面状态的分析。激光测量技术具有快速、非接触、无损特点,一直是研究的焦点。随着人们深入认识相干激光产生的散斑特性，作为一种统计测量技术，越来越多的人把散斑技术应用到测量表面粗糙度、位移、旋度、流体等领域。在线检测表面状态一直以来都是研究的热潮，为了

2、寻找一种简单，无损的方法评估表面的状态，国内外提出了众多的课题研究，详细的分析别的方法的优缺点，结合本次研究课题讨论本次研究的意义。引言随着现代社会经济的迅猛发展，对精密工件也提出了更高的要求，如何衡量加工工件表面质量，即表面状态的分析是精密工件加工中至关重要的一环。而大多数的精密工件都是金属，所以本文主要研究重点是激光散斑法对金属表面状态的分析。以前激光散斑技术用来测量振动、位移、应变、流体速度、传热、表面粗糙度[1-4],不仅用于工业测量，在医学[5-7]＞生态学等众多领域也有相当重大的贡献，然而激光散斑技术在表面分析领域中尚未有深入研究。表面

3、粗糙度是对零件加工表而所具有的微小间距和微小峰谷以及微观几何尺寸特性的综合评价，单独作为评估金属表面状态的参数显得太过主观，为了更详细的评定表面状态，结合激光散斑法对表面状态分析，提供了一个客观的分析结果。1•激光散斑技术激光散斑当激光光束投射到能散射光的粗斑表面的全息图；另一次是记录变化以后的物光波的全息图。这两张全息图记录在同一张干板上，记录时顺序可逆。当用照明光波再现时，将出现两个物光波面且是相干的，可以观测到它们之间的干涉条纹。通过干涉条纹的分布情况，可以了解波面的变化。3.散斑图底片的处理方法[1]散斑图底片的处理通常采用两种方法：一种是

4、全场分析法，采用平行光束垂直照明二次曝光散斑底片，并应用傅里叶变换透镜，在其后焦平面上观察散斑图底片的频谱分布；另一种是逐点分析法，采用细激光束垂直照明二次曝光散斑图底片，在其后面距离Z0处平行放置观察屏，每次考察底片上一个小区域的频谱。4.激光散斑法测表面粗糙度[2]利用CCD元件测量散斑反差图1测量光路图如图1所示，氨氛激光器Ls发出的激光束被望远镜Lx扩束并均匀照明孔径P1、通过P2,的激光束被透镜L0会聚于被测表面P2上，光斑的大小可以由改变孔径尺寸来控制。入射激光束经被测表面反射，在远场形成散斑图样,在P3平面上放置CCD元件。信号电流I

5、通过放大，在示波器上显示出强度变化，利用照相机记录可以得到如图2所示的特性曲线。上述信号利用数字解析系统，可以按下列公式求得其平均反差V：[?I2???I?]V??I?式中？..？内表示集平均。上述进行测试的各标准样板的平均反差值相应为、6、和。122由上述实验可以看出，测量散斑的反差可以确定表面的粗糙度，它与轮廓测得的Ra值具有一定的关系，并近似地保持线性。利用消相关条件确定表现粗糙度我们利用不同入射角和不同波长激光照明金属表面，利用二次曝光，在一张感光底片上得到相关的两个散斑图样；在激光光束照明下，不同表面粗糙度对应得到不同反差的杨氏干涉条纹。

6、为了得到角度相关的散斑图样，仍采用图1所示装置，在透镜组L0前面安置一个带有两个小孔的光阑板，使两细光束的夹角为度，而在P3平面上安放感光底片H,分别遮去一个小孔，进行二次曝光。图2所示为标准样板?3和?4的杨氏干涉条纹，可以看出它们的反差的显著差别。根据近似分析表明，杨氏干涉条纹的反差v可V?exp{?[Rqsin???]2}这一公式表明，反差V与表面粗糙度的标准偏差具有一定关系，因而利用狭缝型式的光接收器可以由测定的V值来确定表面的粗糙度。图2标准样板?3和?4的杨氏干涉条纹同样，我们仍采用图1的系统，利用臼激光器代替氨氛激光器，并在其前面插入

7、不同波长的滤光片。当分别插入一片滤光片，进行二次曝光，也可以记录下二个相关的散斑图样。图3为由此得到的?7和?6标准样板的干涉条纹，它们的反差显然也有大差别。因此，利用测定杨氏干涉条纹的反差值可以确定金属表面的粗糙度。图3?7和?6标准样板的干涉条纹上述初步实验表明表面粗糙度测量可以利用激光散斑特性，这种测量方法与微处理机结合，可以达到数字化是一种参数测量法。5.表面分析技术表面分析技术，按用途大致可分为表面结构、成分和状态分布三大类。目前表面分析技术已超过三十余种，在我国主要被采用的有EPMA、AES、EELS、XpS、SIMS、FIM[3-5]

8、等。近年来材料科学和表面技术工程的研究正向纵深发展。为获得表面的微观尺寸内部结构、成分和状态，将给表面分析技术提出新的要求