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时间:2019-11-22
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1、Ce掺杂对PCrNi-4压电陶瓷性能的影响班级:研0801学生:鞠超指导教师:黄世峰教授汇报内容1、研究背景及意义PZT压电陶瓷具有优异的压电、介电和光电等电学性能,广泛地应用于电子、航天等高技术领域,用于制备传感器、换能器、存储器等电子元器件。因应用的场所和作用不同,对压电陶瓷材料性能有着不同的要求。发射型材料:“硬性”压电陶瓷材料,其d大,g则不一定大;接收型材料:“软性”材料,其g大,d则不一定大;收发兼用材料:其d与g的乘积要大;众所周知,在大功率器件的应用中会产生众多问题:例如,谐振频率的漂移;发热带来的机电耦合系数的减小和热稳定性变差等。其中的热量产生会
2、带来升温,当温度上升到一定值时,将使材料去极化,使材料的压电介电体系完全失去功效。所以大功率压电材料具有的损耗要小,承受的功率密度大,对稳定性的要求也比较高。收发兼备压电陶瓷能够实现机械能和电能之间的相互转化,且具有发射、接收信号于一体的特有属性,成为当前的一大研究热点;在众多的应用领域中,功率型压电陶瓷的应用需求越来越大,传统收发兼备配方生产的压电陶瓷已不能满足大功率应用的要求。因此制备具有大功率收发兼备的压电陶瓷具有广阔的应用前景。压电陶瓷主要性能参数机电耦合系数kp机械品质因数Qm介电常数及介电损耗压电陶瓷性能压电应变常数d332.1CeO2掺杂对压电陶瓷相组
3、成的影响2θ在10~70°区间的x射线衍射图2θ在40~50°区间的x射线衍射图2.2CeO2掺杂对压电陶瓷显观结构的影响2.3CeO2掺杂对压电及介电性能的影响2.5CeO2掺杂对温频稳定性的影响图8不同CeO2掺杂量的压电陶瓷谐振频率随温度的变化4结论研究了CeO2掺杂量对PCrNi-4压电陶瓷相结构、显微结构、压电及介电性能的影响,分析讨论了CeO2掺杂的作用机理,得到以下结论:Ce掺杂对相结构影响不大,均为为钙钛矿结构,但会引起晶格畸变。随着掺杂量的增多,使相结构由四方相逐渐转化为三方相,准同性相界向四方相移动;研究了CeO2掺杂量对PCrNi-4压电陶瓷相
4、结构、显微结构、压电及介电性能的影响,分析讨论了CeO2掺杂的作用机理,得到以下结论:Ce掺杂对相结构影响不大,均为为钙钛矿结构,但会引起晶格畸变。随着掺杂量的增多,使相结构由四方相逐渐转化为三方相,准同性相界向四方相移动;适量的Ce掺杂能够促进晶粒的生长,空隙减少,使结构更加致密。当CeO2掺杂为0.3wt%,陶瓷的晶形饱满,晶粒大小均匀。当CeO2掺杂量为0.3wt%,烧结温度为1280℃时,制备的压电陶瓷试样的介电损耗最小,同时其他性能参数分别为:εr=1400,tanδ=0.00238,d33=375pC/N,Kp=0.70,Qm=460;制备适用于大功率要
5、求的压电陶。汇报结束敬请老师批评指正!
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