MOS管检查指导书

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1、IQC来料检验作业指导书发行部门品保部管理编号版本号A元件名称PMOSFET（功率场效应管）元件型号**3205**适用范围通用类别：电声类口电子类■第1页/共2页NO.检查项冃检查数使用工具检查方法1外观、表示一般检查水平II/1.0目视检查参照※1方法要求2封装方式、尺寸n=5目视、游标卡尺参照※2方法要求3供应商数据每批目视检查参照※3方法要求4塑封本休分解检查n=2台钳、游标卡尺参照※4方法要求5电气性能检查（试机）n=5功放样机功放老化测试仪等参照※5方法要求6可焊性n=2温控电烙铁参照※6方法要求怪1要求］•外观确认；①确

2、认元件外观无破损、划伤、裂纹不良，包装方式符合规定要求。②引脚无氧化、残缺、锈斑、污物，无变色不良。•表示确认；①确认来料标识卡中的材料编号或元件型号与BOM表中要求一致。②确认元件实物表示面型号与元件标识卡中的型号规格相同，表示面清晰；有要求的安规标识。判定标准:外观、表示符合以上要求,判定为合格。［探2要求］•封装方式（即外形特点）、尺寸要求检查；NXZlXiTO720IS无散热片图2xniiitB元nrtM①先根据BOM表（或规格书）中内容，确定元件的正确封装方式，再检查來料的实物封装。例如：封装方式TO-220,KEC有TO-

3、220AB和TO-220IS的两种类型；如下图所示：TO-220:表示单列直插形式；AB：表示带散热片的封装形式；图1所示IS:表示不带散热片的封装形式;图2所示②根据不同元件的封装方式來确认元件的安装尺寸，可参照元件规格书的规定尺寸对比判定。［探3耍求］•供应商数据确认；若供应商随出货附有实际检杳、测试数据，应按照部品规格书的内容与数据对应确认在规格内。判定标准:数据符合相应规格书要求,判定为合格。怪4要求］•塑封本体分解检查；①使用机械加工用的台钳，如右图所示，元件塑封体夹在台钳间，将塑封本体压碎;露出内部晶片后就可以了。拟制/日

4、期:类别：电声类口电子类■批准/日期:②分解后，与样品晶片人小进行比较；方法如下所示:OK样品判定标准：外观检查及尺寸大小在规定耍求范围内,min4.05mmNG样品判定为合格。［探5要求］•电气性能检查（试机）；①目的：为了验证来料元件的性能能否符合产晶整体性能要求，需要进行元件的试机确认。②试机验证项目内容与条件；*老化（1.3倍额定功率验证）条件：输入电压DC14.4V（电流：50AMax）,输入信号：1KH®118mVMax,输出负载：2Q/路、共四路。*电流冲击（10次，10秒/次电流冲击验证）条件：第一次老化保护结束，再二

5、次启动示，上述条件不变时做10次、1（）秒/次的开关冲击验证。*功放样机的设置；（控制面板设置如下图所示）X_0VER档：在AP位置2/4CH：在4CH位置2H<3LHtECLHz顺时针旋到底

6、“11”播置

7、!逆时针旋到底

8、位置(UkIMg®5.J③试机而，先对功放样机进行测试检查，内容是老化、电流冲击（同样条件）。④将来料抽检的元件样品交换到功放样机上；元件位号：0717、0716、0720、0719共四个。⑤验证过程屮，详细的连接方式参照功放的老化作业指导书；验证时要调整输入信号确保输入电流在50A时被检的元件没冇出现击穿，冒烟、

9、冒火的异常现象。⑥验证结束后再确认功放的输出信号波形，不能出现异常。判定标准:验证结果符合以上要求内容,判定为合格。［探5要求］•可焊性；*将可调恒温烙铁温度设査在230°C-240°C,再将元件的引脚加锡2-3秒后确认引脚上锡情况，确认锡面均匀、饱满，无不上锡现彖。判定标准:验证结果符合以上要求内容,判定为合格。检验数据记录在《来料检杳数据记录表》中。IQC来料检查数据记录表类别：电声类口电子类■元件名称元件型号送检口期物料编号供应商检査员/日期NO.项目规格检验结果记录判定备注1外观2表示3封装方式4尺寸5供应商数据6电气性能结果

10、判定不合格处理意见□□合格不合格□拒收口让步接收、特釆口挑选使用口返修口报废口其他不良现象IQC/H期：审核/日期：备注：当來料判定不合格时，需将结果提交相关部门评审，并由品保部部长（如有必要时由副总）最终裁核！开发部签字/日期：采购部签字/日期：品保部签字/日期:备注签字/日期:管理编号：FM-295