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时间:2019-10-23
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1、1、判断1)原子的X射线发射源于其外层电子跃迁X2)俄歇效应是一个无辐射跃迁过程V3)荧光和磷光都是光致发光,两者区别在于吸收一次光子和发射二次光子间的延误时间不同。V4)材料吸收电子与吸收辐射相同,都是被使物质粒子发牛由低能级到高能级的跃迁。X5)同一晶带中,品面与其品带轴平行V6)衍射线在空间的方位仅収决于品胞的形状与大小,而与品胞中的原子位置无关。V7)衍射线的强度则仅取决于晶胞屮原子的位直,而与晶胞的形状及大小无关。X8)一束X射线照射一个一维晶体,只有镜面反射方向才有可能产生射线。X9)XRD滤波是通过吸收Ka,保证入射X射线为单色光。X10)XR
2、D选靶的F1的是选择入射X射线的波长,减少样品对X射线吸收的程度。V11)单晶衍射花样中所冇斑点对应的晶面属于同一个晶带V12)SAED照片屮多晶衍射坏和粉末徳拜衍射花样一样,随着环直径增人,衍射晶面指数也由低到咼。J13)在原子对电子的散射过程中,原了核对电了的弹性散射是透射电镜中成像和衍射的棊础。V14)样品中的凸起,二次粒子等在SEM~次电子像中亮度较高。V15)二次电子像的衬度是最典型的形貌衬度。V16)在DSC测试屮,不涉及气相的物理变化,压力对其峰温影响很小V17)分子振动时发生偶极短的变化是分了产生红外吸收的必要条件Z—。V18)由于不同基团的
3、极性差別较大,能级跃迁吋光子效率不同,即使红外光谱的吸收峰强度相等,対应基团的含量可差别很大V19)CO2的反对称伸缩振动形式不具有红外活性。X20)与对称伸缩振动相比,水分了的反对称伸缩振动的位于高频区。V21)在醇类化合物屮,O-H伸缩振动频率随溶液浓度的增加向低波数方向位移。V22)CS2的对称伸缩振动形式不具有红外活性,可以产生3个基频吸收带。X23)由于分了电了能级的跃迁伴随着振动、转动能级的跃迁,分了的紫外■可见吸收光谱是带状光谱。V24)紫外可见吸收光谱中,与跃迁和比,nr*跃迁产生的吸收峰为强峰。V25)紫外可见吸收光谱中d・d跃迁产生的吸收
4、峰位于可见光范围,仇为弱吸收峰。V二、简答2、解释并区别连续X射线、特征X射线和X射线荧光连续X射线:是覆盖很人波长范围且连续变化的电磁辐射3、区分吸收限和短波限。吸收限:物质对电磁辐射的吸收随辐射频率的增人而增加至某一限度即骤然增人,称吸收限。也就是引起原子内层电子跃迁的最低能最。短波限:连续X射线在某一特定管电压下的波长,与管电压成反比,不随管电流和原子序数的变化而变化4、简述X射线的K系、L系的区别,和Ka和KB谱线的区别1>K层产生空位,其外层电子向K层跃迁产生的X射线统称为k系特征辐射。若L层产生空位,其外层电子向L层跃迁产生的X射线统称为L系特征
5、辐射。跃迁的电子的位置不同2、按电子跃迁时所跨越的能级数口不同把同一辐射线系一系列分为儿类,对跨越1个能级引起的辐射线称为Ka,对跨越2个能级引起的辐射线称为KPKa和KB谱线,特征X射线是在某些特定波长位置出现的叠加在连续谱上出现的高而窄的谱线。5、简述多数元素的特征X射线波长与其化学结合状态无关的原因。内层轨道电了通常不参与成键.6、区别晶体结构的基本术语:点阵、阵点、晶格、晶胞和晶体结构点阵、阵点:组成品体的粒子在三维空间中形成有规律的某种对称排列,如果我们用点来代表组成品体的粒子,这些点的总体就称为空间点阵。点阵中的各个点,称为阵点。晶格:将阵点用直
6、线连接起來形成的平行六面体(空间格子)。晶胞:晶格屮表达晶体最小重复单元的结构称为晶胞。晶体结构:晶体的微观结构,晶体的实际质点的具体排列情况。7、电子与固体作用产生的多种粒子信号屮,SEM检测中利用了哪些信号,分別用于哪方面性能的检测。二次电子信号、背散射电子信号做形貌分析吸收电子、特征X射线、透射电子进行成分分析8、计算空气对CuKa辐射的质量吸收系数。假定空气中含80%(垂虽)的氮和20%(重量)的氧。查表得:Cu対N的质量吸收系数Mm二8.51;Cu対0的质量吸收系数Pm=12.7Um=0.8X8.51+0.2X12.7=22.16+8.02=9.3
7、48(cm2/g)u=UmXp=9.348X1.29X10-3=1.206X10-2cm-19、简述TEM分析过程中图像衬度冇哪儿种,各冇何特点?主要有两种:质厚衬度、衍射衬度质厚衬度特点:來源于电子的弹性散射,质量和原子序数差界造成,质量越大,亮度越低衍射衬度特点:①强度主要受晶体取向和结构振幅影响。②决定作用是晶体对电子衍射。③单相材料衍射衬度样品各处是否满足布拉格条件程度的差异决定。10、对比说明EDS和背散射电子像进行样品成份分析的特点。EDS:优点:1•分析速度快;2.灵敏度高;3•谱线重复性好。缺点:1•能量分辨率低、峰背较低;2.工作条件要求严
8、格背散射电子进行样品成分分析特点:①分辨率低于二次电
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