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1、1・、X射线波长范围？用于衍射分析的X射线波长范围？X射线的波长在约0.01〜10nm范围内。用于衍射分析的范围在0.05〜0.25nm。2、X射线衍射方法有哪儿种？劳埃法、周转晶体法、粉末法3、在多晶体X射线衍射分析中，影响X射线衍射强度的因索冇哪些？教材第40页公式(3-5)中各参数代表的意义？4、不同品系品而的而间距公式，特别是立方品系而间距公式？dhk)=?书本25页(2・4)、(立方晶系面间距公式2・5)、(2-6)6、试述布拉格公式屮各参数的含义，以及该公式有哪些应用？2dsinO=nX应用：一用已知波长的X射线去照射未知结构的晶体，通过衍
2、射角的测量求得晶体中齐品面的面间距d,从而揭示晶体的结构，这就是结构分析(衍射分析);二用已知而间距的晶体来反射从样品发射出来的X射线，通过衍射角的测量求得X射线的波长，这就是X射线光谱学。10、几种点阵的结构因子的计算(教材34・35页简单点阵、体心点阵、面心点阵的结构因子的计算一定要掌握，必考)书本34-35页。简单点阵中，单胞中只有一个原了，其坐标为(0,0,0),结构因数
3、FHKL
4、2=[fcos27r(0)]2+[fsin27r(0)]2=f^休心点阵中，单胞中有两个原子，坐标分别为(0,0,0,)和(％,%,%),HkLHK结构因数
5、FHK
6、L
7、2=[fcos27r(0)+fcos2n(y+y)F+[fsin2兀(0)+fsin2兀(亍+£)]2=f2[l+cos7i(H+K+L)]2面心点阵中，单胞中有四个原子,坐标分别为(0,0,0,)、(0,%,%)、(%,%,0)、(%,0,%),K[HKH结构因数
8、FHKL
9、2==[fcos27i(0)+fcos27r(亍+㊁)+fcos27r(y+y)+fcos2^(yL?KLHKHL9)]~+[fsin27i(0)+fsin27r(y+㊁)+fsin27i(y)+fsin27r(y+㊁)]=f2[1+C0S7C(K+L)+COS7C(H+K)
10、+COS兀(H+L)]2,7、简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。书本34-35页。简单点阵屮，结构因数
11、FHkl
12、2=f2,即该种点阵的结构因数与HKL无关，即HKL为任意整数时均能产生衍射；体心点阵屮，
13、FHKLf=f2[l+COS7l(H+K+L)]2,当H+K+“奇数吋，
14、FhklF=O,即该种晶面的散射强度为零，该种晶面的衍射线不能出现；当H+K+L=偶数时，
15、FHkl
16、2=4f2,即体心点阵只有指数和为偶数的晶面可产生衍射。面心点阵中，
17、FnKL
18、2=f^[1+cos7r(K+L)+cos7r(H4-K)+cos7r(H+L)
19、]2,当H、K、L全为奇数或全为偶数吋，有
20、FHkl
21、2=16fS即面心立方点阵只有指数全为奇数或全为偶数的晶面才能产生衍射。8、透射电镜屮冇哪些主耍光阑？分别安装在什么位置？英作用如何？主要有三种光阑：①聚光镜光阑。在双聚光镜系统屮，该光阑装在第二聚光镜下方。作用:限制照明孔径角。②物镜光阑。安装在物镜后焦面。作用：提高像衬度；减小孔径角，从而减小像差；进行暗场成像。③选区光阑:放在物镜的像平而位置。作用：对样品进行微区衍射分析。9.磁透镜的像差是怎样产生的？如何来消除和减少像差？像差分两类，即儿何像差和色差。儿何像差是因为透镜磁场儿何形状上的缺陷而
22、造成的，主要指球差和像散。色差是由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变造成的。球羌：由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电了的折射能力不符合预定的规律而造成。像散：由透镜磁场的非旋转对称引起。方法：使用小角径成像可减小球差；通过引入--个强度和方位都可以调节的矫正磁场来进行补偿（消像散器）是像散减小；稳定加速屯压和透镜电流可减小色差。13、XRD,TEM,SEM是什么的简称？14、试述X射线衍射物相分析步骤？及其鉴定时应注意问题？单相物质定性分析的基本步骤是：（1）计算或查找出衍射图谱上每根峰的d值与I值；（2）利用I值最大的三根强线的对应d值查找索引
23、，找岀基本符合的物相名称及卡片号；（3）将实测的d、I值与卡片上的数据一一对照，若基本符合，就可定为该物相。鉴定时应注意的问题：（1）d的数据比1/1。数据重要。（2）低角度线的数据比高角度线的数据重要。（3）强线比弱线重要，特别要重视d值大的强线。（4）应重视特征线。（5）应尽可能地先利用其他分析、鉴定手段，初步确定出样品可能是什么物相,将它局限于一定的范围内。15、在电子显微分析中，电子的波长是出什么决定的？电子的波长与该因索的关系怎样？关系式？:电子的波长是由加速电压决定的，电子的波长与加速电压平方根成正比，九=12.25V必16、电子朿入射固体
24、样詁表面会激发哪些信号？它们有哪些特点和用途？18.二次屯子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度
