材料分析方法整理

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1、第一章-、选择题1•用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（B）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它2.M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（B）AKa；B.KP；C.Ky；D.Lao3.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（C）ACu；B.Fe；C.Ni；D.Moo4.当电了把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（A）A短波限入0；B.激发限入k；C.吸收限；D.特征X射线5•当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子冋迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（C）A光电子；B.二次荧光；C.俄歇电子；D.（A

2、+C）第二章一、选择题1•有一倒易矢量为g*=2c*+2b*+c*,与它对应的正空间晶面是（C）oA.（210）；B.（220）；C.（221）；D.（110）；。2.有一体心立方品体的品格常数是0.286nm,用铁靶（XK..=0.194nm）照射该品体能产生（）衍射线。A.三条；B.四条；C.五条；D.六条。3.—束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（A）。A.是否满足布拉格条件；B.是否衍射强度IHO；C.A+B；D.晶体形状。4.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（B）oA.4；B.8；C.6；D.12o第三章二、选择题1.最常用的X射线衍射方法是（B）oA.

3、劳也法；B.粉末多法；C.周转晶体法；D.德拜法。22徳拜法屮有利于提高测量精度的底片安装方法是（C）oA.IE装法；B.反装法；C.偏装法；D.A+B。3.德拜法中对试样的要求除了无应力外，粉末粒度应为（C）。A.<325目;B.>250目;C.在250-325目之间;D.任意大小。4.测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（B）0A.保持同步1：1；B.2：1；C.1：2；D.1：0o5.衍射仪法中的试样形状是（B）。A.丝状粉末多晶；B.块状粉末多晶；C.块状单晶；D.任意形状。第四章三、选择题1.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（B）。A.外

4、标法；B.内标法；C.直接比较法；D.K值法。2.X射线物相定性分析时，若己知材料的物相町以查（A）进行核对。A.Hanawalt索引;B.Fenk索引;C.Davey索引；D.A或B。3.徳拜法中精确测定点阵常数具系统误差来源于（D）0A.相机尺寸误差;B.底片伸缩;C.试样偏心；D.A+B+Co4.材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定（D）。A.第一类应力（宏观应力）；B.笫二类应力（微观应力）；C.笫三类应力；D.A+B+Co1.Sin2屮测量应力，通常取屮为（D）进行测量。A.确定的屮角；B.0-45°之间任意四点;C.0°、45。两点;D.0。、15。、30°

5、、45。四点。第五章四、选择题1.若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是（）。A.1000：B.10000；C.40000；D.600000。2.可以消除的像差是（B）。A.球差；B.像散；C.色差；D.A+B。3.可以提高透射电了显微镜的衬度的光栏是（B）。A.第二聚光镜光栏；B.物镜光栏；C.选区光栏：D.其它光栏。4.电子衍射成像时是将（A）。A.中间镜的物平而与与物镜的背焦面重合；B.中间镜的物平而与与物镜的像平面重合；C.关闭中间镜;D.关闭物镜。5.选区光栏在透射电了显微镜镜筒中的位置是（B）。A.物镜的物平面；B.物镜的像平而C.物

6、镜的背焦而；D.物镜的前焦面。第八章五、选择题1.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B）。A.背散射电子；B.二次电子；C.吸收电子；D.透射电子。2.在扫描电子显微镜屮，下列二次电子像衬度最亮的区域是（B）。A.和电子束垂直的表面;B.和电子束成30。的表面;C.和电子束成45°的表面;D.和电子束成60。的表面'O3.可以探测表面lnm层厚的样品成分信息的物理信号是（D）。A.背散射电了；B.吸收电了；C.特征X射线；D.俄歇电了。4.扔描电子显微镜配备的成分分析附件屮最常见的仪器是（B）。A.波谱仪；B.能谱仪；C.俄歇电了谱仪；D.特征电了能量损失谱。5.波谱仪

7、与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（A）。A.快速高效；B.精度高；C.没有机械传动部件；D.价格便宜。部分习题解1.X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？答：X射线学分为三大分支：X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。X射线透射学的研究对象有人体,工件等，用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。X射线衍射学是根据衍対花样,在波长已知的情况下测定品体结构，研究与结构和结构变化的相关的各种问题。X射线光谱学是根据衍射花样,在分光品体结构已知的情况下，测定各种物质发出的