欢迎来到天天文库
浏览记录
ID:44229261
大小:193.83 KB
页数:6页
时间:2019-10-19
《APF控制器测试方案》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在工程资料-天天文库。
1、>目的:初步检查电路板各部分工作正常>人员:>内容:1)器件参数检查2)15V/5V电源测试3)DSPA,DSPB与仿真器连接情况及简单运行情况4)FPGA初步程序下载,简单运行情况测试5)通过DSP仿真器,测试DSPA对FGPA各缓冲区的读写情况6)通过DSP仿真器,测试DSPB对FPGA各缓冲区的读写情况DSPA主体部分程序初步测试>目的:初步测试DSPA主体部分程序及其与外围通信部分的连接情况>人员:>内容:1)主体程序基本运行情况测试2)与人机界面的连接和通信情况>目的:初步测试DSPA电流补偿算法部分程序及其与外围通信部分的连接情况>人员:>内容
2、:1)电流补偿算法部分程序基本运行情况测试DSPA程序的初步联调FPGA控制的AD采样环节测试>目的:1)确定AD7658芯片工作正常2)FPGA能够正确实现总体控制时序河AD采样时序3)同步信号电路工作正常4)各路AD采样结杲和同步角度结构能够正确放入到相应的缓冲区中>人员:>方式:连接到HIL测试平台,通过测试程序实现>内容:1)控制时序:用示波器观察各信号时序,CONVA,CONVB,CONVC,EXINTA,EXINTB,ADCS1,ADCS2,ADRD等信号,对比总体控制时序图和AD采样控制时序图2)通过HIL平台,给出各路模拟信号,通过DSP仿
3、真器从DSP侧读取AD采样结果缓冲区。通过HIL为各路模拟通道给岀不同的直流电压信号(・5V〜0V〜5V),测试AD采样结果的顺序和釆样值的正确性。3)通过HIL平台,给出交流正弦波形,用示波器观察测试硬件部分PLL电路工作正确性,并通过DSP仿真器从DSP侧读取AD釆样结果缓冲区中的wt信息。DSPA电流补偿算法部分程序的HIL测试>目的:1)确定各路模拟量AD采样工作正常2)测试各种给定负荷电流情况下的补偿参考电流计算情况3)测试各种给定情况下的电流有效值计算情况>人员:>方式:连接到HIL测试平台>内容:1)通过DSP仿真器测试,在CCS中观察各模拟
4、通道采集数据缓冲区的波形。2)HIL设置为各种不同的工作条件(例如:负荷电流可以分别调整正序幅值、相位、负序幅值,谐波模式、整流负荷模式等),测试补偿参考电流的计算结果正确性(一直检验到DPRAMA2B缓冲区的相应各数据。3)HIL设置为各种不同的工作条件,测试各模拟量的有效值计算结杲。DSPA主体部分程序的测试>目的:1)在能够实现的条件下,测试DSPA主体部分程序设计>人员:>内容:1)测试DSPA与显示模块的通信连接设计2)测试人机界而的设置参数情况和状态显示情况3)测试DSPA与FPGAZ间的信号交换情况4)测试DSPA程序的流程与逻辑根据相关设计
5、说明DSPA整体程序的HIL测试>目的:1)测试DSPA程序整体的运行情况,侧重于人机界面显示、参数设置、补偿电流计算等的整体运行情况>人员:>方式:连接到HIL测试平台>内容:1)通过HIL给出各种工作条件,测试各种整体的功能,例如:有效值计算后的结果显示、参数设置后对实际计算结果的影响等等。FPGA功能的测试>目的:测试FPGA的主要功能设计实现情况>人员:>内容:根据FPGA的功能设计逐项测试,主要包括1)数据缓冲区功能2)故障逻辑和状态逻辑处理功能3)PLOCK逻辑处理功能4)SOE事件处理功能5)AD采集功能(前血已经测试过)®DSPB功能的HI
6、L测试>目的:测试DSPB的电流闭环控制功能>人员:>内容:模拟给出参考电流的各命令信息,通过DSPB控制程序进行闭环电流控制,产生参考电压,通过FPGA发出脉冲,送到HIL平台中,实现电流闭环控制功能。>目的:DSP控制板涉及闭环控制功能的各环节的联合测试>人员:>内容:通过HIL给出各种工作条件,测试涉及闭环控制功能的各环节,包括:参数设置、状态显示、参考电流计算、直接电流控制、脉冲发生等。信号板功能测试>目的:信号板的主要功能测试>人员:>方式:继电保护测试仪>内容:1)模拟量采集部分2)逻辑部分:开入/开岀3)过流保护控制器模拟采集部分校准>目的:
7、DSP板和信号板联合测试模拟量采集部分>人员:>方式:继电保护测试仪>内容:1)采集2)校准控制器逻辑部分联合测试>目的:DSP板和信号板联合测试逻辑部分>人员:>方式:模拟各种开入、开出和故障信号>内容:1)设置2)显示3)保护4)信号传递>目的:DSP板和信号板联合测试逻辑部分>人员:>方式:模拟各种开入、开出和故障信号>内容:1)设置2)显示3)保护4)信号传递
此文档下载收益归作者所有