磁粉检测物理基础(PPT-363)

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1、磁粉检测物理基础河南省鹤壁市锅炉压力容器检验所代纯军联系电话:0392-336823813569636075中国工业检验检测网http://www.industryinspection.com第一章:绪论磁粉检测的发展简史和现状中国工业检验检测网http://www.industryinspection.com1.2漏磁场检测与磁粉检测1.2.1漏磁场检测铁磁性材料工件被磁化后,在不连续性处或磁路截面变化处,磁力线离开和进入工件表面形成的磁场称为漏磁场。所谓不连续性,就是工件正常组织结构或外形的任何间

2、断,这种间断可能会也可能不会影响工件的使用性能。通常把影响工件使用性能的不连续性称为缺欠。由于磁力线逸出工件表面形成磁极并形成可检测的漏磁场,检测漏磁场的方法称为漏磁场检测,包括磁粉检测与检测元件检测。中国工业检验检测网http://www.industryinspection.com磁粉检测是利用铁磁性粉末——磁粉,作为磁场的传感器,即利用漏磁场吸附磁粉形成的磁痕(磁粉聚集形成的图像)来显示不连续性的位置、大小、形状和严重程度。检测元件检测是利用磁带、霍耳元件、磁敏二极管或感应线圈作为磁场的传感器,

3、检测不连续性处漏磁场的位置、大小和方向。中国工业检验检测网http://www.industryinspection.com1.2.2磁粉检测磁粉检测(MagneticParticleTeSting,缩写符号为MT),又称磁粉检验或磁粉探伤,属于无损检测五大常规方法之一。中国工业检验检测网http://www.industryinspection.com1.2.2磁粉检测原理铁磁性材料和工件被磁化后,由于不连续性的存在,使工件表面和近表面的磁力线发生局部畸变而产生漏磁场,吸附施加在工件表面的磁粉,形成

4、在合适光照下目视可见的磁痕,从而显示出不连续性的位置、形状和大小。如图1-1所示。中国工业检验检测网http://www.industryinspection.com图l—l不连续性处漏磁场分布1—裂纹2—漏磁场3—近表面气孔4—内部气孔5—磁力线6—工件磁粉检测的基础是不连续性处漏磁场与磁粉的磁性相互作用。中国工业检验检测网http://www.industryinspection.com1.2.3磁粉检测适用范围(1)适用于检测铁磁性材料(如16MnR、20g、30CrMnSiA)工件表面和近表面

5、尺寸很小、间隙极窄(如可检测出长0.1mm、宽为微米级的裂纹)和目视难以看出的缺陷。(2)适用于检测马氏体不锈钢和沉淀硬化不锈钢材料(如Cr17Ni7、T91/P91),但不适用于检测奥氏体不锈钢材料(如1Cr18Ni9、1Cr18Ni9Ti)和用奥氏体不锈钢焊条焊接的焊接接头,也不适用于检测铜、铝、镁、钛合金等非磁性材料。(3)适用于检测未加工的铁磁性原材料(如钢坯)和加工的半成品、成品件及在役与使用过的工件及特种设备或零部件。(4)适用于检测管材、棒材、板材、型材和锻钢件、铸钢件及焊接件。(5)适

6、用于检测工件表面和近表面的裂纹、白点、发纹、折叠、疏松、冷隔、气孔和夹杂等缺陷,但不适用于检测工件表面浅而宽的划伤、针孔状缺陷、埋藏较深的内部缺陷和延伸方向与磁力线方向夹角小于200的缺陷。中国工业检验检测网http://www.industryinspection.com1.2.2.3磁粉检测程序磁粉检测的七个程序是:(1)预处理;(2)磁化;(3)施加磁粉或磁悬液;(4)磁痕的观察与记录:(5)缺陷评级;(6)退磁;(7)后处理。中国工业检验检测网http://www.industryinspec

7、tion.com1.2.2.4表面缺陷无损检测方法的比较磁粉检测、渗透检测和涡流检测都属于表面缺陷无损检测方法,但其方法原理和适用范围区别很大,并且有各自独特的优点和局限性。所以无损检测人员应熟悉掌握这三种检测方法,并能根据工件材料、状态和检测要求,选择合理的方法进行检测。如磁粉检测对铁磁性材料工件的表面和近表面缺陷具有很高的检测灵敏度,可发现微米级宽度的小缺陷,所以特种设备对铁磁性材料工件表面和近表面缺陷的检测宜优先选择磁粉检测,确因工件结构形状等原因不能使用磁粉检测时,方可使用渗透检测或涡流检测。

8、表面缺陷无损检测方法的比较中国工业检验检测网http://www.industryinspection.com第2章磁粉检测物理基础磁现象和磁场磁极间相互排斥和相互吸引的力称为磁力。磁力的大小和方向是可以测定的,同一个磁体两个磁极的磁力大小相等,但方向相反。把一个磁体靠近原来没有磁性的铁磁性物体时,该物体不仅能被磁体吸引,还能被磁体磁化,并具有了吸引其它铁磁性物体的性质。使原来没有磁性的物体得到磁性的过程叫磁化。中国工业检验检测网http://www.i

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