集成电路测试仪毕业论文

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1、北华大学毕业设计（论文）摘要随着数字集成电路日益广泛的应用，其相关的测试技术也显得愈发重要。为了保证数字集成电路的功能和性能参数符合技术要求，在集成电路的设计验证、产品检验以及现场维护等方面都需要对集成电路进行测试。而测试设备是必不可少的工具，因此研究它们的测试技术和开发测试设备具有重要的意义。本文所设计的集成电路测试仪采用MCS-51单片机为核心，构建数字集成电路的测试仪器，该仪器能够通过单片机程序对数字集成芯片插座进行控制和测试，可以完成对TTL74/54、CMOS4000/4500系列芯片的测试。测试仪使用了串口通信方式的LCD汉字液晶显示器，以便节省出更多的单片机接

2、口供测试更多管脚的集成电路。针对不同型号的集成电路Vcc和GND位置不同，在电路中使用了P沟道CMOS管来作为Vcc切换开关。测试仪设计了总线标准接口RS-232，能够实现与PC机的联机。通过对大量的TTL、CMOS集成电路的分析，建立了测试数据库。通过编写测试程序，最终以速度快、准确率高的测试结果实现了测试TTL74/54、CMOS4000/4500系列芯片的任务。论文第一章阐述此次设计的背景及意义、国内外数字电路测试系统现状、本文要解决的主要问题。第二章对系统总体方案进行描述。第三章详细说明整个硬件系统的构成。第四章主要说明软件测试的实现。第五章叙述测试结果。通过对实验

3、电路和程序进行测试和试运行，结果证明达到了设计要求。以MCS-51单片机为核心的数字集成电路测试仪，硬件电路简单可靠，软件测试精确快速。并且具有体积小、重量轻、成本低等优点。关键词：数字集成电路；功能测试；MCS-51单片机；LCD-41-北华大学毕业设计（论文）AbstractWiththeincreasinglywidespreadapplicationofdigitalintegratedcircuits,therelatedtestingtechnologybecomesincreasinglyimportant.Toensurethefunctionsofdigi

4、talintegratedcircuitsandperformanceparametersmeetthetechnicalrequirements,inintegratedcircuitdesignverification,producttestingandon-sitemaintenanceandotheraspectsneedtotestintegratedcircuits.Thetestequipmentisessentialtotools,testtechnologyresearchanddevelopmentoftheirtestequipmentisofgrea

5、tsignificance.ThisintegratedcircuittesterdesignedbyMCS-51microcontrollercore,builddigitalintegratedcircuittestingequipment,theequipmentisabletoprocessthedigitalsinglechipcontrolICsocketsandtest,tobecompletedonTTL74/54,CMOS4000/4500seriesofchiptesting.Testerusesserialcommunicationmethodchar

6、acterliquidcrystaldisplayLCDtosavemoreoftheMCUinterfacepinsoftheintegratedcircuitfortestingmore.DifferenttypesofICGNDandVCCdifferentpositions,thecircuitusedintheP-channelCMOStubeastheVccswitch.TesterdesignedbusstandardinterfaceRS-232,canbeachievedwithPC-Online.ThroughalargenumberofTTL,CMOS

7、integratedcircuitsanalysis,thetestdatabase.Bywritingtestprocedures,whichwilleventuallyspeed,highaccuracytestresultstoachievethetestTTL74/54,CMOS4000/4500serieschiptask。Thefirstchapterdescribedthebackgroundandsignificanceofthisdesign,digitalcircuittestsystemath