模拟电子技术 5.3 场效应管FET

模拟电子技术 5.3 场效应管FET

ID:43217091

大小:476.00 KB

页数:12页

时间:2019-10-03

模拟电子技术 5.3 场效应管FET_第1页
模拟电子技术 5.3 场效应管FET_第2页
模拟电子技术 5.3 场效应管FET_第3页
模拟电子技术 5.3 场效应管FET_第4页
模拟电子技术 5.3 场效应管FET_第5页
资源描述:

《模拟电子技术 5.3 场效应管FET》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库

1、第5章场效应管(FET)参见:模拟部分5.3节、5.1节应用电场效应工作的电子器件。单极型晶体管。电压控制电流器件。功耗小,输入阻抗高、抗干扰能力强。广泛应用于大规模集成电路中。FET是1增强型耗尽型N沟道P沟道N沟道P沟道N沟道P沟道(耗尽型)FET场效应管JFET结型MOSFET金属-氧化物-半导体型(绝缘栅型)分类:耗尽型:场效应管没有加偏置电压时,就有导电沟道存在增强型:场效应管没有加偏置电压时,没有导电沟道2源极用S或s表示N型导电沟道漏极用D或d表示P型区P型区栅极,用G或g表示栅极用G或g表示符号符号1.结构5.3结

2、型场效应管(以N型沟道为例)符号中箭头方向——g结正向偏置时,g极电流方向。32.工作原理(正常工作vGS<0,vDS>0)①设vDS=0Vⅰ).若vGS=0V→PN结耗尽层只占N型本体很小部分→导电沟道很宽ⅱ).若

3、vGS

4、↑→PN结耗尽层加宽→导电沟道变窄ⅲ).若

5、vGS

6、↑↑到vGS=Vp(Vp—夹断电压)→PN结耗尽层合拢→导电沟道夹断结论:vGS负压可以控制导电沟道宽度1)vGS对iD的控制作用4②vDS加一定正压电子从sd在电场作用下运动iD(漏极电流)即vGS=0VRDS最小iD=IDSS(栅源短路饱和漏极电

7、流)沟道电阻而沟道长度沟道横截面积

8、vGS

9、↑→RDS↑iD↓vGS→VpiD→0(夹断)∴vGS对iD有控制作用。5vDS对iD的影响:vDS>0,从漏极到源极呈现电位梯度导电沟道呈楔型vDS较小时,近D端导电沟道仍很宽iD随vDS↑而↑vDS进一步↑至vGD=vGS-vDS=VP即vDS=vGS-VPVP<0近D端导电沟道预夹断此后vDS↑对电子吸引力↑予夹断长度↑达到动态平衡→iD不随vDS↑而↑VP0的情况漏极电流饱和6vGS=-1V时,输出特性曲线怎样画?7∵vDS很小,沟道没有预夹断,iD随vD

10、S↑而↑且vGS越负iD↑越缓慢3.JFET的特性曲线(1)输出特性ⅰ).可变电阻区(vDS很小时)∴管子可视为受vGS负压控制的可变电阻特点:为随vGS不同而不同的一族曲线。分四个区域:8ⅱ).饱和区(线性放大区、恒流区)ⅲ).击穿区iD不再随vDS↑而↑--恒流特性∵vDS↑↑→在靠近d极处发生予夹断vDS过大使得g、d间PN结反向击穿→iD急剧↑↑且vGS负压对iD有控制作用,体现为一族平行线。ⅳ)夹断区(vGS≺VP)应使vGD=vGS-vDSVBR9VP(2).转移特性曲线由于JFET栅源反偏,几乎没有栅流,研究输入特

11、性无意义转移特性曲线:研究vGS对iD的控制作用。转移特性可以直接从输出特性用作图法得出。VDS=10V10①沟道中只有一种类型的多数载流子参与导电,所以场效应管也称为单极型晶体管。③∵vGS对iD有控制作用,∴JFET是电压控制电流器件②∵栅极g、源极s之间反偏∴g极几乎不取电流iG0,∴Ri很高达109Ω综上分析(JFET)vGS负压越大,iD越小。11由于VGS≺0,栅、源间PN结反偏,想得到更小的IG,更大的Ri对于JFETIG很小,Ri很大(109)→绝缘栅型场效应管MOSFET12

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。