检验测量与实验设备管理程序

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1、深圳万鑫光电子有限公司检验测量和试验设备管理程序检验测量和试验设备管理程序文件编号：WX-GP-18版本号：A编制2011年08月01日审核2011年08月01日批准2011年08月01日文件修改记录序号版本修改内容简述修改日期批准人编号:WX-GP-18版本:A生效日期:2011年08月01日第9页共9页深圳万鑫光电子有限公司检验测量和试验设备管理程序1.目的对检验、测量和试验设备进行有效控制，规范校验与维护设备的步骤和要求，保证其准确性和测试能力，使产品在验证后确实符合规格要求。2.范围适用于公司所有检验、测量和试验设备。3.定义无。4.权责4

2、.1.使用部门负责本部门的检验、测量、试验设备的维护、保管和采购申请工作。4.2.品管部负责公司所有的检验、测量、试验设备的校验管理、协助检测设备的采购和规划以及校验作业指导书的编写。5.作业内容文件年度校验计划检验.测量和试验设备履历卡校验报告相应的标签标签纠纠正与预防措施要求书书校验不合格通知书书报废单检验检验.测量和试验役备一览表5.1.流程图流程校验记录的维持记校验不合格的处置NOOK合格判定与标示设备的校验管理设备的外校设备的内校权权责责品管部内校：品管部外校：外校单位品管部品管部品管部编号:WX-GP-18版本:A生效日期:2011年0

3、8月01日第9页共9页深圳万鑫光电子有限公司检验测量和试验设备管理程序5.2.校验分类管理5.2.1.设备的编码规则设备校验管理人员均须依以下编码规则赋予每一设备唯一的编码并在设备或其包装上适当的位置标识。流水号类别种别□□——XX5.2.2.所有的检验、测量和试验设备需列入内校或外校的“设备一览表”（附件一）并按规定进行校验。5.2.3.检验、测量和试验设备履历卡（附件二）5.2.3.1.新购入的设备须经设备校验管理人员确认其校验状况是否符合要求。5.2.3.2.凡需内校和外校的设备均须由设备校验管理人员建立履历卡（附件二）管理。5.3.设备年度

4、校验计划设备校验管理人员必须发布“设备年度校验计划”（附件三），校验计划分为内校验计划和外校验计划两种。5.3.1.设备校验管理人员须于每年12月前发布下一年度的内校与外校校验计划。5.3.2.设备校验管理人员依据“检验、测量和试验设备一览表”（附件一）规定校验周期、排定校验计划日期。5.3.3.遇到新增量设备时，设备管理人员必须更新设备年度校验计划。5.4.设备的内校5.4.1.内校仪器的对象凡公司有能力对其进行校验的仪器,其校验系统应追溯至国家或国际标准.5.4.2.校验人员资格曾受过相关知识训练或领有证书的合格人员。5.4.3.校验环境规定若

5、设备校验作业指导书无特别规定时，则校验环境在常温常压下进行。5.4.4.进行校验作业5.4.4.1.依设备校验作业指导书的校验步骤进行校验。要求校验仪器的准确度是待校设备准确度的三分之一以下。5.4.4.2.将校验结果记录于校验报告上。5.4.4.3.校验结果分析与判定编号:WX-GP-18版本:A生效日期:2011年08月01日第9页共9页深圳万鑫光电子有限公司检验测量和试验设备管理程序在完成校验记录后，须根据校验记录计算测量误差和准确度，并将计算结果和“检验、测量和试验设备履历卡”（附件二）的判定基准比较，以判定检验结果。5.4.4.3.1.计

6、算误差：误差=测量值-标准值。5.4.4.3.2.计算准确度（误差的平均值）5.4.4.3.3.比较计算的准确度（平均误差）是否在判定基准的允许误差范围。5.4.4.3.4.比较所有的个别误差是否都在判定基准的允许误差范围。5.4.4.3.5.若计算的准确度与个别误差都在判定基准内时方可判定合格。若有一项不在判定基准内时，则判定不合格。5.4.4.3.6.若判定合格时将校验报告送主管审查，确认校验报告内容后存档备查。5.4.4.3.7.若判定不合格时将校验报告送主管审查，确认校验报告内容后视情况决定送外维修或报废处理,并将结果填写在履历卡上.5.5

7、.设备的外校5.5.1.外校仪器的对象凡本公司所有测量设备,厂内无此项检验技术,无法校验,由国家认可的校验单位或仪器设备的原供货商执行校正.内校系统应追溯至国家或国际标准.如所有电子称、游标卡尺等。校验有效期为一年。5.5.2.送国家校验标准单位或原设备的生产厂家送外校的设备，校验管理人员在确定设备已妥善包装保护后，将设备安排送合格的外校单位进行校验。可行时，也可请校验机构人员来公司执行校验。5.5.3.判定校验人员须根据外校校验报告的测量计算误差及准确度和设备履历卡（附件二）的判定基准比较，判定校验结果。要求校验设备的准确度是待校设备的三分之一以

8、下。5.5.3.1.计算误差：误差=测量值-标准值。5.5.3.2.计算准确度（误差的平均值）。5.5.3.3.比较计算的