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1、假设所选探头和试块如下:1. 双晶探头5P20,F102. 试块:阶梯试块DB-D1b操作步骤:1. 按 键,在通道选择状态下,转动旋轮选择某一通道,然后清空该通道。2. 选择探头类型为双晶探头,分别设置探头频率为5MHz和探头晶片尺寸为20mm3. 将检测范围设置为50mm;将材料声速设置为5920m/s。4. 单击 进入探头零偏校准界面,设置起始距离为12mm,终止距离为24mm,(或选择与探头焦点深度相近的试块上两处底波作为起始距离与终止距离);将探头在阶梯试块上移动,找到12mm处的
2、大平底回波,由于双晶探头零偏较大,目标回波可能不在闸门内,甚至不在屏幕显示范围内,此时可调节检测范围和闸门,使两个闸门分别锁定一次回波和二次回波,并调节增益使一次回波到80%高度。最后,选择零偏声速并按 键,完成探头零偏和材料声速的校准。5. 存储校准后的系统参数到当前参数通道文件。 双晶探头DAC。如需制作DAC曲线,在探头零偏声速校准完成后,可以按照斜探头DAC曲线的制作方法,制作双晶探头DAC曲线。注:双晶探头存在焦点深度,测零偏声速时注意选取与焦点深度接近的试块作为起始距离,否则测得的零偏声速误差可能较大。双晶探头的正确使
3、用方法及射频方式检测表面缺陷来源:微波在线 浏览:666次 时间:2014-03-05近日,不少客户在利用双晶探头对薄板母材探伤的过程中,打电话给我们咨询如何正确选择和使用双晶探头探伤。本文分三个部分和大家一起探讨“双晶探头的结构和工作原理”、“如何正确选择双晶探头”、“射频检波方式的表面探伤应用”。1、双晶探头的结构和工作原理一般来讲,一个探头壳体内装有两个晶片的探头我们称之为双晶探头,又称分割式探头。由两个纵波晶片组合成的双晶探头称为纵波双晶探头,又称双晶直探头;由两个横波晶片组成的双晶探头称为横波双晶探头,又称双晶斜探头。这两种双晶
4、探头中,双晶直探头的应用较为广泛,以下以双晶直探头为例重点探讨双晶直探头的结构和工作原理:双晶直探头的两个纵波晶片一个用于发射超声,一个用于接收超声(图一)。发射压电晶片大都采用发射性能好的锆钛酸铅,接收压电晶片大都采用接收性能好的硫酸锂。区别于单晶探头而言,双晶探头的发射灵敏度和接收灵敏度都更高。双晶探头的两个晶片之间有一片吸声性强、绝缘性好的隔声层,它不仅用于克服发射声束与反射声束的相互干扰和阻塞,而且能使脉冲变窄、分辨率提高、消除发射晶片和延迟块之间的反射杂波进入接收晶片,有效减少杂波。(图一)由于双晶探头的发射部分和接收部分都带有
5、延迟块,能使探伤盲区大幅减小,故双晶探头对表面缺陷的探伤十分有利。2、如何正确选择双晶探头a、探头频率的选择超声的发射频率在很大程度上决定了超声波探伤的检测能力。频率高时,波长短,声束指向性好,扩散角较小,能量集中,因而发现小缺陷的能力则比较强、分辨力好、缺陷定位准确。但高频率超声在材料中衰减较大,穿透能力较差,反之亦然。由于双晶探头适用于较薄工件的探伤,不需要较强的穿透力。因此可以采用较高频率的探头。对于锻件,板材,棒材等晶粒细小的工件,可以采用5MHz的双晶探头(若被检工件表面较粗糙,高频超声散射较大,不易射入,则容易出现林状回波)。
6、对于晶粒粗大,超声散射严重的材料,如奥斯体不锈钢和铸造件等,频率高时,也会出现晶界引起的林状回波,致使无法探伤,对于这一类材料,建议选用1MHz~2.5MHz的低频率双晶探头。b、晶片尺寸的选择从以上介绍的双晶探头的工作原理来看,双晶探头探伤主要取决于双晶探头的声能集中区,跟晶片的大小没有直接的关系。双晶探头的晶片大小,只与工件探测面积的大小有关,当检测面积大时,为了提高探伤效率,宜采用晶片尺寸较大的探头,如?14mm,?20mm等。当检测面积较小,或者检测面带有一定曲率的情况下,为了减少耦合损失宜用晶片尺寸小的探头。c、焦距的选择双晶探
7、头的两个晶片都有一定的倾斜角度。发射声束与接收声束必然会产生相交,形成棱形的区域,此区域即为探伤区域(图二)。(图二)处于棱形区的缺陷,其反射信号强,同时对于同样大小的缺陷,位于棱形区中心时,反射信号最强。因此在实际探伤过程中,要根据被检工件的厚度选取适当的焦距。焦距越小,则对薄工件的探伤越有利。一般来说,选择双晶探头的焦距小于被检工件厚度5~10mm左右。3、射频检波方法的表面探伤应用双晶探头的探伤方法与直探头基本相同,这里着重介绍利用双晶探头和数字超声探伤仪的射频检波方式检测表面缺陷。传统超声探伤仪的检波方式大都为正弦波检波或者全波检
8、波,此两种检波方式在薄板探伤时,由于仪器设置声程较小,反射波的根部较宽,对于同一个部位的多个缺陷不能明显分辨。射频检波方式则可以有效解决这一问题。下图是利用射频检波方式检测CSK-IA试块上深
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