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1、第29卷第4期苏州大学学报(工科版)Vol29No.42009年8月JOURNALOFSUZHOUUNIVERSITY(ENGINEERINGSCIENCEEDITION)Aug.2009文章编号:1673-047X(2009)-04-0070-03LCD常见点缺陷的修复马宝平,陈再良(苏州大学机电工程学院,江苏苏州215021)摘要:TFTLCD(薄膜电晶体液晶显示器)在生产中会产生很多点缺陷,例如亮点、暗点、闪点,还有碎亮点等,这些亮点缺陷常常给显示带来一些缺憾,但是可以通过暗点化、亮点化、ITO隔离、镭射炸
2、射等方法对其进行修复或者淡化。在实际生产中会有大约5%~8%的点缺陷产生,通过镭射修复或者被淡化后,每年大约可给公司节约1000万美金,大大降低了整个生产的成本。关键词:TFTLCD;点缺陷;镭射修复;ITO隔离;暗点化中图分类号:TN27文献标识码:A0引言TFTLCD的显示是由很多子像素组成的,如果其中有一些子像素不能正常工作,就造成部分区域显示不良。LCD显示器一般有两种,一是常白画面;一种是常黑画面。常白画面就是不通电的状况下是白色的,相反常黑画面就是通电后是白色的。如果通电后还不能变成黑色的话,那这个点就被称
3、为亮点(BrightPiont),简称BP。也就是在黑色画面下,这个点是透光的。在白色画面下的黑色的点,被称为暗点。亮点的检查画面是L0画面与L92画面,判定基准是30cm处平视与模拟点比对亮度,即30cm内无明显可见的红色、绿色、蓝色小光点。如图1所示,完整的一颗子像素发亮者称为亮点。如果这个点时亮时不亮就属于闪点,闪点也是亮点的一种,其修复方法与亮点相同。图1亮点显示画面1点缺陷的修复方法一般的点缺陷都可以通过激光进行修复,其修复方法如下。1.1暗点化(Darken)利用焊接工艺将Gate线路与ITO层导通提供像素电压强
4、迫液晶旋转让该像素永远呈现暗点化状态。暗点化的修复方法一般有三种:SelfLeak修复、Gate修复、CS修复。SelfLeak修复的修复方法是用激光把TFT收稿日期:2009-03-04作者简介:马宝平(1980-),男,硕士研究生,主要研究方向为制造信息工程。第4期马宝平,陈再良:LCD常见点缺陷的修复71打穿,使得信号线与像素的ITO层导通,给ITO层供电,所以其特性是驱动电压随信号电压改变,如图2所示,修复后电流方向如箭头所示。Gate修复是把信号线与TFT切断,然后打通Gate线与像素的ITO之间的通路,使用G
5、ate线给信号供电,其特性是驱动电压随Gage电压改变。修复方法与电流走向如图3所示。CS修复就是把CS和ITO导通,让电流通过Gate到ITO给相邻的像素供电,这样TFT组件部位就被屏蔽,像素常有电,就常是暗点,达到了我们维修的目的。CS修复的特性也是驱动电压随Gate电压改变。其修复方法与修复后电流走向如图4所示。图2SelfLeak修复图解图3Gate修复图解图4CS修复图解1.2亮点化(Brighten)切断Gate线连接处,则Vg无法控制驱动开关,造成像素内处于无法给予电场状态,
6、造成永远可透光。亮点化的原因是由于如果不修为亮点就会有一条亮线,所以会牺牲一个点为亮点。其修复方法如图2所示,只做切断Gate线一步,而不用焊接信号线。这个点将没有电流通过,故常为亮点。1.3ITO隔离(ITOisolation)利用ITO隔离方式将异物四周ITO切断让其余地区回复正常点。一般像素内的异物,理论上都是可以用ITO隔离的方法修复的,上图显示了异物在像素内可能的位置。按照我们的隔离方法把异物隔离就可以实现暗点化了,隔离前后的效果如图5所示。图5ITO隔离前后对照图可以很明显地看到,隔离的地方还是有漏光现象,所以在隔
7、离的时候必须注意要尽量靠近异物,如图6所示。图6ITO隔离方法示意图72苏州大学学报(工科版)第29卷一般常用的是图6中所示的第一种方法;本文提出的第二种方法现在已经开始实施,使用第二种方法设备的制程能力已经可以达到要求,但是在操作上还有些不成熟;第三种方法是一种理想的方法,在现实中较难达到设备制程能力的要求,如果可以把显示的倍率提高到一定的高度,也是可以实现的,不过在考虑到性价比时,就不是很实用了,所以没有必要设计那样的修复方法。但是可以利用切割PI的方法来修复,由于PI的面积较大又不是导体,所以切割不会由于颗粒残留
8、而产生其他不良,但是由于PI的材质问题,激光切割的能量还需要进一步调整,故当前还在试验阶段。如果试验成功可以大大提高修复良率、节约成本。1.4激光炸射(Bomb)利用激光将小于一定范围的异物炸碎可使该亮点或闪点成为正常点。激光炸射就是把小于一定范
