基于单片机的电容测量

基于单片机的电容测量

ID:41209738

大小:4.20 MB

页数:31页

时间:2019-08-18

基于单片机的电容测量_第1页
基于单片机的电容测量_第2页
基于单片机的电容测量_第3页
基于单片机的电容测量_第4页
基于单片机的电容测量_第5页
资源描述:

《基于单片机的电容测量》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库

1、基于单片机的电容测量仪设计摘要:本设计详细介绍了一种基于单片机的数字式电容测量仪设计方案及实现方法。设计的主要方法是由LM393组成的LC振荡器,由单片机测量LC振荡回路的频率,根据已知的电容值,通过单片机的运算功能,计算出电容容量,最后,再通过单片机的普通I/O口控制液晶屏显示出电容容量的计算结果。系统的测量范围为1pF~12000μF,具有多个量程,可根据用户需要由用户选择,与用户的交互是通过按键实现,不同量程的实现是通过开关的闭合与断开来选择不同的R值,从而实现不同的量程,系统具有一定的实用价值。关键词:电容;LM393;L

2、C振荡;单片机;LCDDesignofcapacitancemeasuringinstrumentIVbasedonsinglechipmicrocomputerAbstract:ThisdesignintroducesadesignschemeofdigitalcapacitancemeasuringinstrumentbasedonMCUandtherealizationmethod.ThedesignmethodoftheLCoscillatoriscomposedbyLM393,measuredbysinglechipmi

3、crocomputerLCoscillatingcircuitfrequency,accordingtotheknowncapacitancevalue,throughthesingle-chipcomputingfunction,calculatecapacity,finally,throughthemicrocontrollerI/OportcontrolLCDscreenshowsthecalculationresultsoftheelectricalcapacitance.Themeasurementrangeof1pF~

4、12000μF,havingapluralityofrange,accordingtouserneedscanbeselectedbytheuser,theinteractionwiththeuserisachievedthroughthekey,toachievedifferentrangeisthroughtheon-offoftheopenselectionofdifferentRvalue,soastoachievedifferentrange,Systemhascertainpracticalvalue.Keywords

5、:capacitance;LM393;LCshocks;MCU;LCDIV目录1前言11.1电容测试仪的发展历史及现状11.2电容测量手段22系统方案设计32.1设计要求32.2方案论证33硬件设计73.1电容原理73.1.1电容测量原理73.1.2电容测量电路83.2单片机最小系统93.3按键电路103.4显示电路114软件设计135系统测试135.1测量小电容145.2测量电解电容165.3测量结果175.4误差分析186结束语18参考文献19附录A21附录B22附录C23谢辞.........................

6、...................................................................................................................27IVIV1前言1.1电容测试仪的发展历史及现状当今电子测试领域,电容的测量已经在测量技术和产品研发中应用的十分广泛。电容通常以传感器形式出现,因此,电容测量技术的发展归根结底就是电容传感器的发展。由最初的用交流不平衡电桥就能测量基本的电容传感器。最初的电容传感器有变面积型,变介质介电常数型和变极板间型

7、。现在的电容式传感器越做越先进,现在用的比较多的有容栅式电容传感器,陶瓷电容压力传感器等。电容测量技术发展也很快现在的电容测量技术也由单一化发展为多元化。现在国内外做传感器的厂商也比较多,在世界范围内做电容传感器做的比较好的公司有:日本figaro、德国tecsis、美国alphasense。中国本土测量仪器设备发展的主要瓶颈。尽管本土测试测量产业得到了快速发展,但客观地说中国开发测试测量仪器还普遍比较落后。每当提起中国测试仪器落后的原因,就会有许多不同的说法,诸如精度不高,外观不好,可靠性差等。实际上,这些都还是表面现象,真正影

8、响中国测量仪器发展的瓶颈为:1.测试在整个产品流程中的地位偏低。由于人们的传统观念的影响,在产品的制造流程中,研发始终处于核心位置,而测试则处于从属和辅助位置。关于这一点,在几乎所有的研究机构部门配置上即可窥其一斑。这种错误观念上的原因,造成整个社

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。