LK-G基恩士激光测头

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1、CCD激光位移传感器总目录LK-G系列超精确/高精度/长距离创新的CCD激光位移传感器超快的速度超高的精度超高的再现性长距离测量50kHz±0.02%0.01µm最大1,000mmLK-G系列一览无与伦比的规格实现了高精度并解决了已往不可能的应用问题。边缘切割技术和多种传感头为任何应用提供了惊人的性能。超长距离长距离中等距离多用途LK-G500/505LK-G400/405LK-G150/155LK-G80/8565至95mm110至190mm0.2µm300至500mm0.5µm250至1000mm2µm2µm测量距离再现性2应用半导体/LCD汽检测晶片的位移硅芯片厚度的不

2、规则性LED基板检查机的聚焦调整电子/电气部件金测量PCB的变形测量焊料喷嘴的高度测量板的厚度OA/媒体塑光头的聚焦调整调整HDD手臂的装配测量压电驱动器的振动3汽车/运输测量转动盘片的偏转测量液体密封剂的高度调整内倾/外倾角金属钢板双层送料检出焊接流程的高度控制测量钢板的厚度/宽度塑料/橡胶/薄膜厚度测量/监控胶片的弯曲测量薄膜的厚度测量聚氨酯泡沫的高度4P.6-7先进的产品规格无与伦比的技术力使得产品规格达到了最高水平。超快的速度高精度超精确50kHzLK-G30/35LK-G10/15超高的精度±0.02%超高的再现性0.01µm9至11mm25至35mm0.01µm0

3、.05µmP.8-9全新开发的算法全新开发的算法确保了测量物体时的高精确性，而使用传统的检测法很难做到这一点。RPD算法全新设计的半透明物体带有嵌入式显示和数据存储的多功能控制器多重ABLE控制透明物体MRC算法一体化控制器独立控制器显示面板多重反射LK-G3001(P)VLK-G3001(P)LK-GD5005体现高性能的先进技术ABLEABLE可以对激光发射时间、激光功Li-CCD率以及增益（CCD放大系数）这三种要素进行智能控制。在精确度，速度和灵敏度方*ABLE=ACTIVEBALANCED面具有更高层次的表现。LASERCONTROLENGINE(活动平衡激光控制引

4、擎)高精度物镜单元结合了感测头的高精度Ernostar物镜能够实现高精度高稳定性的测量。Li-CCD*高精度物镜单元它减少了像素边缘误差，精确度是传统型号的两倍之多。减少像差造成的误差由于CCD有数字输出每个像素的特点，因此在像素边缘产生的渐进输KEYENCE设计了一种新型的光线接收单元，用于将接收光聚集到出所造成的错误会影响精确度的进一步提高。KEYENCE开发了一种Li-CCD上。该全新研制的高精度Ernostar物镜极大地减少了因像差所造Li-CCD作为对策，这种CCD能够以一个像素输出反射光的位置，在精成的光点扭曲。此外，它还采用了整合感测头和物镜的专用模铸外壳，确性

5、方面极为出色，是传统型号的两倍。此外，传感器还使用了专门的具有极强的硬度。设计，速度和灵敏度分别是传统型号的25倍和10倍。*Li-CCD=直线性CCD高精度Ernostar物镜其测量原理就是使用了三角形测量法。反射光在Li-CCD上的位置随目标物着目标物位置的改变而改变，通过光学系统由四个物镜组成，其特点是检测该变化就可以测量物体的位移像差非常小。通过其优秀的成像性量。Li-CCD能，可以将不同角度的光线集中在一点上。实现高精度测量的Li-CCD的原理三角切割技术在像素的在像素边缘由相邻像素中央接收到光线附近接收到光线接收光线在长距离上对反射光的精确接收是达到高精度的关键。

6、KEYENCE修改了反射型机壳设计并开发了三角切割技术，降低了滤光镜表面的反射。CCD与传统产品的比较普通CCD的输出由于无法检测反射光线在像素中的位置，因而会在像素边缘附近产生可用三角切割不可用三角切割渐变，进而导致测量错误。CCDCCD精确的聚焦点转移的聚焦点Li-CCD的输出高精度相邻像素的输出根据像素内的反射位置变化，能够表现出更多的线性特性。Ernostar镜头表面反射造成的衰减滤光镜滤光镜和光轴的角度造成的折射*LK-G155/G405/G505系列650kHz的超高采样速度比传统型号快25倍的高速采样是Li-CCD的一大特色。由专用波15形处理器（数字信号处理器

7、）对发自Li-CCD的信号进行高速数字10处理，能够满足高速测量和高精度测量的要求。可以对高速移动，5高速转动或高速振动的物体进行可靠的测量。0-58.3ms-10-15检测HDD的偏转[µm]取样率:20µs±0.02%的高精确度KEYENCE对光学系统进行重新设计，以实现高精度的测量。1.5Ernostar光学系统和Li-CCD的结合能够产生极为出色的线性特性。1.0它精确地聚焦/检测到来自目标的反射，以此提供两倍于常规型号0.5的精度。因此，LK-G系列被设计用于产品小型化和高精度测量。0.0-0