《微机原理及接口技术》实验大纲

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时间:2019-08-16

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1、《微机原理及接口技术》实验大纲课程名称:微机原理及接口技术适用专业: 理工科专业学时: 72H     授课学时:54H    实验学时:18H 先修课程:计算机应用基础、电子线路、高级语言程序设计实验目的:掌握微型计算机的组成和工作原理、内存储器的结构组成和工作原理。通过实验基本掌握汇编语言程序设计的方法,以及微型计算机的中断技术、内存扩充技术、典型接口芯片的接口设计及其应用。1:实验综述微机原理及接口技术是一门实践性很强的课程,只有通过上机实践才有可能掌握程序设计技术、并在此基础上掌握微型计算的工作原理和微

2、机应用系统的实现技术。本课程的实验要求包括:熟悉与实验有关的系统软件(如编辑程序、汇编程序、连接程序和调试程序等)的使用方法;基本指令使用训练;基本程序结构(循环、分支和子程序)训练;几种主要输入/输出设备的编程技术;高级汇编语言技术及连接技术训练;学会正确使用典型接口电路和CPU及外设的接口方法,掌握I/O接口电路的编程原理及其应用。每次实验前,学生必须按照指导书要求进行不少于实验课时数的预习与准备。实验结果必须经实验教师认可。2:实验环境与先修课程实验环境:   硬件条件:高档PC机和专用实验板。   软件

3、条件: ·DOS操作系统。·任意一种编辑程序,如EDIT。·宏汇编程序MASM。·连接程序LINK。·调试程序DEBUG。先修课程:·高级语言程序设计。·微电子学基础3、实验内容3.1实验一实验名称:80X86指令系统及程序调试实验时间:实验课时2H,预习及准备课时不得少于2H 实验目的:掌握汇编语言基本运行环境和熟悉DEBUG调试程序命令。·学习使用指令,掌握常用的指令功能和简单程序设计。·掌握DEBUG调试程序的命令,熟悉程序输入、存储器和CPU寄存器及标志位的检查方法,单步、断点、连续等运行程序的调试方法

4、。实验题目:  编制一个数据块传送程序。首先将内存RAM中的有效偏移地址为600H开始的单元内存入1-20H连续排列的字节数据,然后将该内存的数据送入有效偏移地址为400H开始的内存中。思考题:观察程序运行前和运行后各寄存器和存储器的变化,说出影响标识位变化的原因。3.2实验二实验名称:两个多位十进制数相加实验时间:实验课时2H,预习及准备课时不得少于2H 实验目的:掌握运算程序的设计方法。包括:·掌握数据传送指令和运算指令及基本伪指令的用法。·掌握乘法指令和循环指令的用法。·掌握用汇编语言实现相乘运算的基本方

5、法。    ·熟悉在微机上建立、汇编、连接、调试和运行的过程。实验题目1:  将两个不带符号的多位十进制数相加。要求加数和被加数均以ASCII码形式分别顺序存放在以DATA1和DATA2为首的5个内存单元中(低位在前),结果送以DATA1为首的内存单元中。实验题目2:  编制一个数据块传送程序。首先将内存RAM中的有效偏移地址为600H开始的单元内存入1-20H连续排列的字节数据,然后将该内存的数据送入有效偏移地址为400H开始的内存中。思考题:   编写两个带符号的多位十进制数相加的程序。编写两个带符号的四位

6、十进制数相乘的运算程序。3.3实验三实验名称:从键盘输入数据并显示,键盘输入的小写字母转换成大写字母实验时间:实验课时2H,预习及准备课时不得少于2H 实验目的:掌握汇编语言程序设计方法。l掌握接收键盘输入数据的方法,l了解将键盘输入数据显示时,必须转换为ASCII码的原理。l了解小写字母和大写字母在计算机内的表示方法,l学习如何进行转换 实验题目1:  编写程序,将键盘接收到的四位十六进制数据转换为等值的二进制数,并显示在终端上。实验题目2:接收键盘字符(以Ctrl—z为结束),并将其中的小写字母转换为大写字

7、母,然后进行显示。思考题:若编写程序,将建盘接受到的四位十进制数转换为等值得二进制数和十六进制数,并分别显示在终端上。将源程序接收的键盘字符中的大写字母变为小写字母,则程序应如何修改?3.4实验四实验名称:8255A并行接口实验实验时间:实验课时2H,预习及准备课时不得少于2H 实验目的:8255可编程并行接口芯片有三个通道和三种工作方式。其中A、B通道和外设交换数据,C通道和外设交换状态信息。8255并行I/O接口于外设交换的方式由软件预先设置,该过程称为初始化。包括·学会正确使用8255和CPU及外设的接口

8、方法。·掌握8255的编程原理。·熟悉外设的信息通过8255和CPU的交换过程。实验题目:  1.用8255的A端口控制8个LED发光二极管的循环亮灭。其硬件线路连接见实验书。2.用8255的A端口控制8个LED发光二极管;B端口连接至8个逻辑电平开关BK1--BK8。将B端口的开关数据读入,并在A端口的发光二极管上加以显示。其硬件线路连接见实验书。思考题:对小规模TTL集成电路测试可

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