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时间:2019-08-08
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1、过程能力受控状态下过程特性数值的分布范围称为过程能力对于服从正态分布的过程特性数值,根据3原则,一般以分布中心±3的范围来表示过程能力过程能力反映了过程中普通因素对过程特性综合影响的程度1过程能力指数对处于受控状态的过程,通常用规格限与过程特性数值的分布范围进行比较,以确定过程特性是否满足要求规格限与过程特性数值分布范围的比值称为过程能力指数过程能力指数反映了过程波动占用规格限的程度,直观表示了过程质量的好坏2能力指数当过程特性数值的分布中心与规格中心重合时,过程能力指数定义为规格范围与6之比,
2、称为潜在过程能力指数Cp:Cp=(Tu-Tl)/6一般地,如果Cp>1,则过程输出能够满足要求;如果Cp<1,过程则会加工出大量不合格品3过程能力指数在实际过程中,特性数值的分布中心与规格中心往往不重合,有一定的偏移,而Cp不能反映过程的偏移情况,这时须用实际过程能力指数Cpk来评价过程能力:Cpk=min(Cpu,Cpl)……(1)其中:Cpu=(Tu-μ)/3,Cpl=(μ-Tl)/34过程能力指数Cpk=(l–k)Cp=(T-2ε)/6……(2)其中:M为标称值,ε=
3、M-μ
4、,偏移系数
5、k=2ε/T单侧公差时:Cpk=(Tu-μ)/3只给出上限标准时Cpk=(μ-Tl)/3只给出下限标准时……(3)5过程能力指数与质量特性关系6过程改进策略确定SPC应用对象制定抽样计划并采集数据过程受控吗?否消除特殊因素的影响是过程有能力吗?否减小普通因素的影响是对过程持续监控失控持续改进受控7过程性能指数又称为长期过程能力指数C系列过程能力指数-Cp、Cpu、Cpl、CpkP系列过程性能指数-Pp、Ppu、Ppl、Ppk8第五节常规控制图的作法及其应用各类常规控制图的使用场合X—R图X—s图X
6、—Rs图Me—R图p图c图u图9各类常规控制图的使用场合10常规计量值控制图RsiUCL=3.267Rs,LCL=0CL=RsRs图n=1XiUCL=X+2.660R,LCL=X-2.660RCL=XX图X—Rs控制图RiUCL=D4R,LCL=D3RCL=RR图11以n>5为宜XiUCL=X+A3S,LCL=X-A3SCL=XX图X—S控制图RiUCL=D
7、4R,LCL=D3RCL=RR图18、上的样本(即k≥20)应采集同一过程的特性值,且测量值之间相互独立12X—s图X-S控制图将X图与S图组合使用,同时分析和监控过程的均值和离散度变化选用X-S控制图的条件:特性连续可计量,服从或近似服从正态分布样本容量n为定数,且n>1按时序可采集20个以上的样本(即k≥20)应采集同一过程的质量特性值,且测量值之间相互独立计算工具应方便在现场计算S值13X—Rs图X-Rs控制图适用场合:小批量生产,无法获得较多数据只能获得一个观测值(如,生产效率、消耗定额)过程质量均匀,无需多次观9、测(流程型材料生产)因费用或时间关系,只能取得一个观测值(破坏性试验)选用X-Rs控制图的条件:质量特性连续可计量样本服从或近似服从正态分布样本容量n=114Me(X)—R图X-R控制图将X图与R图组合使用,同时分析和监控过程的均值和离散度变化选用X-R控制图的条件:特性连续可计量,服从或近似服从正态分布样本容量n为定数,且n<10按时序可采集20个以上的样本(即k≥20)应采集同一过程的特性值,且测量值之间相互独立~~~~15常规计数值控制图固定不变ciCL=cUCL=c+3[c]L10、CL=c-3[c]C图可以用缺陷数来描述的质量特性可以变化uiCL=uUCL=u+3[u/ni]LCL=u-3[u/ni]U图固定不变diCL=dUCL=d+3[d(1-d/n)]LCL=d-3[d(1-d/n)]Np图可以用合格/不合格、通过/不通过等来描述的质量特性可以变化piCL=pUCL=p+3[p(1-p)/ni]LCL=p-3[p(1-p)/ni]p图质量特性样本容量打点值中心线控制限控制图16p图p的含义不一定是不合格品率,它可以是某一特定
8、上的样本(即k≥20)应采集同一过程的特性值,且测量值之间相互独立12X—s图X-S控制图将X图与S图组合使用,同时分析和监控过程的均值和离散度变化选用X-S控制图的条件:特性连续可计量,服从或近似服从正态分布样本容量n为定数,且n>1按时序可采集20个以上的样本(即k≥20)应采集同一过程的质量特性值,且测量值之间相互独立计算工具应方便在现场计算S值13X—Rs图X-Rs控制图适用场合:小批量生产,无法获得较多数据只能获得一个观测值(如,生产效率、消耗定额)过程质量均匀,无需多次观
9、测(流程型材料生产)因费用或时间关系,只能取得一个观测值(破坏性试验)选用X-Rs控制图的条件:质量特性连续可计量样本服从或近似服从正态分布样本容量n=114Me(X)—R图X-R控制图将X图与R图组合使用,同时分析和监控过程的均值和离散度变化选用X-R控制图的条件:特性连续可计量,服从或近似服从正态分布样本容量n为定数,且n<10按时序可采集20个以上的样本(即k≥20)应采集同一过程的特性值,且测量值之间相互独立~~~~15常规计数值控制图固定不变ciCL=cUCL=c+3[c]L
10、CL=c-3[c]C图可以用缺陷数来描述的质量特性可以变化uiCL=uUCL=u+3[u/ni]LCL=u-3[u/ni]U图固定不变diCL=dUCL=d+3[d(1-d/n)]LCL=d-3[d(1-d/n)]Np图可以用合格/不合格、通过/不通过等来描述的质量特性可以变化piCL=pUCL=p+3[p(1-p)/ni]LCL=p-3[p(1-p)/ni]p图质量特性样本容量打点值中心线控制限控制图16p图p的含义不一定是不合格品率,它可以是某一特定
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