关键质量特性

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1、关键质量特性(简称CTQ,CriticaltoQuality)关键质量特性（CTQ）定义：产品或零部件可能对最终产品的主要功能，安全性，可靠性或成本造成显著影响的特性。关键工序（CTP）定义：对关键特性的形成起决定性作用的工序。关键质量特性（简称CTQ）可视化管理绿色区域表示完全满足；对于过程能力来讲，过程能力完全满足要求，CPK(PPK)>1.5;对于测量系统来讲,测量能力完全满足要求,R﹠R<10%.黄色区域表示部分满足；对于过程能力来讲，过程能力部分满足要求，1

2、﹠R<30%.红色区域表示不满足;对于过程能力来讲，过程能力不满足要求，CPK(PPK)<1;对于测量系统来讲,测量能力不满足要求,R﹠R>30%.过程（工序）能力分析（简称CPCapabilityProcessAnalysis）1、过程能力（简称CP）在制造业中，过程能力称为工序能力，是指工序中人、机、料、法、测、环（5M1E）诸因素均处于规定的条件下，操作呈稳定状态下的实际加工能力。用6б表示。根据统计学理论，若质量特征值服从正态分布，则质量特征值落入6倍的标准偏差s内，其概率为99.73%。2、过程能力指数(简称CPK)（1）过程（工序）

3、能力指数（简称CPKCapabilityProcessKey）过程（工序）能力指数是表示过程（工序）能力满足公差范围要求程度的量值。过程能力指数是公差范围（T）和过程（工序）能力（6б）的比值。一般用符号CP表示。(2)过程（工序）能力指数计算1)当给定双侧公差，质量数据分布中心（X）与公差中心(M)相一致时，用符号CP表示。CP=T/6σ≈(TU-TL)/6S2）当给定双侧公差，质量数据分布中心（X）与公差中心(M)不一致时，用符号CPK表示，ε=

4、X－M

5、CPK=(T-2ε)/6σ≈(T-2ε)/6S=（1-K）CP3）当给定单向公差的上限

6、时:CPU≈(TU-X)/3S4）当给定单向公差的下限时:CPL≈(X-TL)/3S(3)过程（工序）能力指数的评定A.过程（工序）能力等级评定表，对有偏过程能力的判断（供参考）。CPK值偏离系数K建议的措施1.33

7、.减少加工中心的偏移量；b.减少标准偏差；c.增大公差范围。实践证明，在工序加工分析时，减少中心偏移量，在技术上，操作上比较容易实现。只有当中心偏移量等于0，工序能力指数小于1时，才考虑是否采用b或c两种途径。测量系统分析（简称MSAMeasurementSystemAnalysis）使用数理统计和图表对测量系统误差进行分析，以评估测量系统对于被测量的参数是否合适，并确定测量系统误差的主要成分。为了明确流程变动的原因,首先应知道测量系统的变动,并且要把它与流程变动相区分,测量GageR&R分析将这样的变动要因定量化。观测到的流程变动有两种：（1

8、）实际流程(制品)的变动长期流程变动：PPK有偏移长期过程能力指数。短期流程变动：CPK有偏移短期过程能力指数。（2）测量系统的变动第一类由测量gage造成的变动1.分辨力（Discrimination）：指测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。传统是公差范围的十分之一。建议的要求是总过程6σ(标准偏差)的十分之一。2.偏倚（Bias）：是测量结果的观测平均值与基准值的差值。基准值的取得可以通过用更高级别的测量设备进行多次测量，取其平均值来确定。3.稳定性（Stability）：是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的相同特性时获

9、得的测量值的总变差。4.线性（Linearity）：线性是在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值：可以用整个仪器量程范围内的偏移之差（或偏差）的量度来度量样本的线性度。如果偏移在整个量程范围内不变，则具有很好的线性度。5.重复性（Repeatability）：是由一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。第二类由测量者造成的变动6.再现性（Reproducibility）：再现性是由不同的评价人采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。其中：R﹠R分别代表重复性（Repeatability）和

10、再现性（Reproducibility），其数值的大小说明测量系统的稳定性。StudyVariation（测量系统标准偏差对总标准偏差的贡献，用%表示