射线培训资料(伯托料位计)

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1、17德国伯托公司LB440料位计培训资料17一、系统概述1．测量原理LB440料位计是利用γ射线通过物料时被物料吸收的原理来测量料位的。γ射线穿过物料时被物料吸收，从而强度减弱，这个过程遵循一个物理定律。写成数学公式如下：I=I0×e-μ×ρ×d其中I0为穿过物质前的射线强度，I为穿过密度为ρ、路径为d的物料后的射线强度，μ为吸收系数，与放射源的类型有关，对于给定的放射源，μ可以认为是常数。图1为测量原理图。d放射源探测器I/I0ρ图1：测量原理由于测量系统与所测物料的非接触性，使得物料对测量不产生任何物理和化学上的影响，从而保证了测量的高可靠性及低维护量。2.系统配置对于不同的测量任

2、务，需要不同的系统配置。选择最佳配置就是选择最合适的放射源以及最合适的探测器。选择系统配置的主要依据是测量范围、测量部位的几何形状等。2.1棒源/点探测器配置17图二是棒源/点探测器的基本配置图以及相应的标定曲线图。棒源的长度根据所需的测量范围而定。棒源的强度分布保证了测量的线性，即探测器接收到的信号与料位的变化成线性关系。在这种情况下，电子线路不再需要线性化。因此，标定及操作很容易。料位棒源探头信号图2：棒源配置示意图2.2棒探测器/点源配置图三是棒探测器/点源的基本配置图。棒探测器的长度根据所需的测量范围而定。如果所需的测量范围太大，则需要两个以上的棒探测器。如果一个点源不适宜就用

3、两个或多个点源。测量的非线性由主机内的电子线路补偿。对于某个特定的测量系统的线性修正数据由EG&GBerthold提供。料位棒源探头信号图3：棒探测器配置示意图172.3棒源/棒探测器配置如果测量范围太大，而且探测器至源的距离太大或者设备的壁太厚，应选择棒源/棒探测器配置，如图四。在这种情况下，源与探测器的长度都应与测量范围相等。测量的非线性由存储在主机内的修正数据修正。修正数据由EG&GBerthold提供。料位棒源探头信号图4：棒源/棒探测器配置示意图2.4点源/点探测器配置在测量范围很小的情况下，可以选择点源/点探测器配置,如图5。此时测量的的非线性纯由指数规律引起，通过主机内的

4、软件就能得到修正。料位探头放射源信号图5：点源/点探测器配置示意图3LB440主机173.1概述主机置于一19英寸、3HE、21TE的框架内，包括CPU板与电源板。微处理器是32位的。面板上有六个触摸式键盘，其中三个是操作键，用于设置或修改参数，另外三个是功能键。面板上的显示窗内有4行显示。RS232接口也在前面板上。图6：LB440面板示意图接线端子在后面板上。包括电源接线端子、探头接线端子、电流输出接线端子、数字输入/输出接线端子。电流输出信号是隔离的，高、低限报警继电器、故障报警继电器的输出也是隔离的。一个机架内可以容纳一个主机、数个副机。副机用于与其余的探头连接并与主机通信。系

5、统对放射源的自然衰减进行自动补偿。全部标定数据存储在可擦写存储器内，就是在电源出现故障时也不会丢失。主机的显示窗内有4行显示，前三行是菜单内容，用于显示被选的参数或者当前的测量值。最后一行显示当前三个操作键的功能，或者，当仪表处于测量状态时，显示“run”。3.2菜单结构（原理）图7为菜单结构图。键〈more〉用于选择各菜单组，键〈sk1〉及键〈sk2>用于从菜单组中选择的子菜单。在子菜单中用〈more〉选择不同的条目，在子菜单的结尾，用〈done〉即可回到本子菜单所在的菜单组。17图7：菜单结构图173.3键盘功能料位计的操作通过键盘来完成。键盘包括操作键及功能键。操作键操作键用于选

6、择不同的菜单组和存取参数。在菜单的不同位置操作键有不同的意义。其意义由显示窗对应的符号决定。操作键功能Sk1与Sk2在某一菜单组中选择子菜单more进入下一个菜单组操作键功能^^^在子菜单中选择不同条目，或在光标所在的数上加“1”。操作键功能<<<循环移动光标操作键功能+与-在下一级子菜单中作循环选择done回到菜单组图8：LB440显示窗17EG&GBertholdLCD显示窗LB440V1.0LEVELGAUGEmore操作键enterClearrun功能键图9：LB440键盘示意图键盘功能存入（enter）存入数据及移动光标至下一个位置或使光标在两个位置之间移动。清除（clear

7、）清除数据运行（run）启动或终止测量，或直接返回至测量值显示状态，且在测量开始时直接进入测量值显示状态。173.4探测器探测器为闪烁计数器，这是因为闪烁计数器探测γ射线的灵敏度较高，且它们的使用寿命与辐射场的强度无关。图10：闪烁探测器原理图探测器有两个不同的类型：棒探测器闪烁体采用塑料晶体。棒探测器的长度最大可达2米。根据所需测量范围的不同，可以选择长度合适的探测器。如果测量范围很大，可以用两个或两个以上的探测器。点探测器闪烁体采用NaI晶