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1、1.以下通过GageR&R不能得知的项目有:(4점)(B,D)A)部品间的变动B)测量仪器与部品的交互作用C)测量者间的变动D)测量仪的准确度2.标准品用同一仪器对同一特性值在不同时间下进行测定时,得到的测定值的变动体现?(4)①再现性(Reproduce-ability)②反复性(Repeatability)③正确性(Accuracy)④安定性(Stability)3.合理性Sub-grouping要求的最少Sub-group数(6个)和Sub-group当试料数(5个)是?(2)①a:5,b:
2、6②a:6,b:5③a:30,b:30④a:5,b:54.对CTQ的6σ设计目标(短期)短期是(4)①ZBENCH=6.0,ZUSL=6.0,ZLSL=6.0②ZBENCH=4.5,ZUSL=4.65,ZLSL=4.65③ZBENCH=4.5,ZUSL=4.5,ZLSL=4.5④ZBENCH=6.0,ZUSL=6.15,ZLSL=6.155.GageR&R的ANOVA分析结果Operator间的P-Value值为0.000,这意味着什么?=>测定者见存在差异的情况.对于同一试料,测定者间的数据统计
3、不同.测定者的目光,方法不同.通过教育同意标准6.6.(2,4,9)找出GageR&R中所有错误项.①评价者数,标本SIZE,反复数等要事先确定。②规格是1/100单位时应使用1/100单位的Gage。③GageR&R为27%时,限度Accept。④测定者自己随意确定测定方法进行测定。⑤试料应覆盖Spec是全范围。⑥GageR&R的目的是对测定System的信赖度用客观方法得出。⑦长期性方法可以得知反复性和再现性占有率。⑧评价者应在操作仪器的日常作业者中选择。⑨测定不必Randam实施。7.以下是
4、对测定System的说明,找出所有错误项??(2,3)①Project实行时一定要检讨测定System。②Sampleparts不必要包括spec的全范围。③不必要考虑Gage的区分能力。④GageR&R>30%时应树立改善计划。8.在测定阶段为了解现在的工程能力,体现对工程变动有影响的所有要素,应收集(层别)Data,算出ZLevel。9.SMD工程中生产500Unit,发现了26个Defect,Opportunity如果是60,DPU是(26/500=0.052),DPMO是(26/(500*
5、60)=0.00087).多人测定(人的再现사림이재현)同一测试仪器的反复策定(仪器反复)值的差异环境变化的差异(时间差)10.Data的形态(种类)按Data可以分解测定的数字大小都有意义的Data,叫做(连续型),Data不能分解,测定Data的数字要计数才有意义的叫做(离散型)。11.6σ根据测定的Data如果System有问题,则Data无信赖性,利用统计Tool对结果进行分析检验的方法是(GageR&R)112.从长期观点看,想对PCB焊接不良的Z值进行换算。检查张数600Unit中检出
6、了200个Defect,这时的长期机会数为10,请算出以下各项.1)dpu:=200/600=0.3332)dpo:=200/(600*10)=0.03333)dpmo:=0.033333*1000000=33333.34)Zlt:=1.835)Zst:=Zlt+1.5=1.83+1.5=3.3313.请把以下长期Data的工程能力分析结果用4BlockDiagram图Plotting,并对现况及改善方向进行说明。(단Zshift=Zst_bench-Zlt_bench以上公式计算)从Bench结
7、算来看Zlt-bench=3*Ppk=3*0.24=0.72Zst-bench=3*Cp=3*0.32=0.96Zshift=0.96–0.72=0.24在C域,工程管理优秀,机械程度,技术水准低的状态,需要学习管理机械程度及设备的技术,实行B/MABCD2.52.01.51.00.5123456ZstZshift(0.96,0.24)214.以下是对某个Y有影响的预想CTQ,为了确认它们各自测定System的信赖度,实施了GageR&R,得到结果如下:请对三个测定仪不同GageR&R结果进行说明
8、CTQA:当%Studyvar12.3%OK或%Tolerance80.8%时,此测定系统无法使用.特别是因为反复性,再现性的不好而使用更高分解性的仪器时,需要对测定者教育.CTQB:对于%Tolerance达到12.7%的部品测定可以使用.但是,对于*%StudyVar达到53.8%,公差更tight的其他部品进行测定时候,需要改善测定系统CTQC:%Studyvar,%Tolerance超过30%时,无法使用此测定系统.因为再现性差,需要在测定者接受教育后再次确认测定标准.15