GBT17554-1998 识别卡 测试方法.pdf

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1、GB/T17554--1998前言本标准等同采用国际标准ISO/IEC10373:1993《识别卡测试方法》本标准由中华人民共和国电f工业部提出本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位:电子工业部标准化研究所。本标准主要起草人:李韵琴、刘钟、聂舒、王云生、蔡怀中、冯敬.www.bzxzk.com.GB/T17554-1998ISO/IEC前言ISO国际标准化组织)和IEC(国际电工委员会)建立了世界范围标准化的专门系统。ISO或IEC的国家成员团体通过由各自的组织建立的技术委员会所涉及的

2、专门领域的技术活动，来参与国际标准的制定。ISO和IEC技术委员会在共同感兴趣的领域合作。其他与[ISO和IEC有联系的官方和非官方的各国际组织也参与此项工作。在信息技术领域，ISO和IEC建立了一个联合技术委员会，即ISO/IECJTClo由联合技术委员会提出的国际标准草案须分发给各成员团体进行表决。作为国际标准批准发行至少需要75%的成员团体投票赞成。国际标准ISO/IEC10373由联合技术委员会ISO/IECJTCI(信息技术)的分技术委员会SC17(识别卡和相关设备)制定。.www.bz

3、xzk.com.中华人民共和国国家标准GB/T17554一1998识别卡测试方法idtISO/IEC10373门993Identificationcards-Testmethods1范围木标准描述了GB/T14916,(;B/T15120,GB/T17552和(zB/T166.1，所规定的识别卜的侧试力法。全上t验收标准不形成本标准的内容，但可以在-1述标准中找到2术标准所述的测试方法是可以单独完成的指定的卡不需要顺序进行所有的侧试2引用标准下列标准中所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准

4、的条文。本标准出版时，fl-1:版本均为有效。所有标准都会被修汀，使用本标准的各方应探讨使用卜列标准最新版本的可能性GB/'h131一1993机械制图表而粗糙度符号、代号及其注法(eqvISO1302:1992)GS/"h14916--1994识别卡物理特性(idtISO/IEC7810:1985)GB/T15120.3--1994识别fi-记录技术第3部分:In-1卡上IFI印字符的位6(idtISO78113:1985)GB/T15120.4-1994识别卡记录技术第4部分:t7读磁道的第1磁

5、道和第2滋道的位，ltl:(idtISO7811一4:1985)GB/T15120.5-1994识别卜记录技术第5部分:读写磁道的第3磁道的位'i''((idiISO78115:1985)GB/T16649.1--1996识别卡带触点的集成电路卡第]部分物理特性(idtISO'/81611987)GB厂116649.2--1996识别卡带触点的集成电路卡第.2部分:触点的尺寸和位践〔浏门以)7816-2:1988)GB/T17552-1998识X111`金融交易f}(idtISO/IEC7813:

6、1995)ISO5-1:1984摄彩技术密度测里第1部分:术语、符号和记法ISO5-2:1991掇影技术密度测里第2部分:透射密度的线性条件ISO53:1981摄影技术密度测觉第3部分:光谱条件ISO105E04:1989纺织品色牢度试验第E04部分耐汁渍色牢度ISO1817:1985硬橡胶确定对液态的影响ISO1880:1979用轮廓法表而粗糙测址仪递进式轮廓变形的触电(指针)仪器轮廓记录仪ISO7811-1:1993识别}记录技术第I部分11$印ISO7811-2:1993识别片记录技术第2部

7、分:磁条ISO9227:199()人仁环境中的浸蚀试验盆雾国家质量技术监督局1998一11-05批准1999一06一01实rk.www.bzxzk.com.GB;'T17554--1998IEC512-2:1976电子设备用机电兀件基术试验规程及测坛方法第2部分:‘般检查、接触电阻测试、绝缘试验和电应力试验3定义下列定义适用于本标准3-1测试方法testmethods为了if明识别卡符合标准而对其特性进行测试的方法4测试环境和条件除非另外规定.测试应在温度为23C士3C、相对湿度为40厂-60%的

8、环境「川左行。在测试之前识别卡应在上述同等环境条件「放置24ho5测试方法5.1卡的翘曲本测试旨在测量卡试样中的翘曲程度(见GB/丁14916)卡的翘曲是卡的平坦性的任意变形。5门.，无凸字K-和凸字卡的总翘曲5门门.1设备最小精确度为。.01mm的轮廓投影仪或测量设备5.1.1.2规程将待测试样品卡放在测量设备的水平刚性平台上长的边沿应搁仪在该平台卜(卜的翘曲对半台成凸形)。从卡的正面测量.在比例尺放大镜上读出最大位移点处的卡的翘曲值L〕5.1.1.3结果最大位移点处的翘曲范围值