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1、SiC材料的特性及应用颜小琴2004.11.15SiC材料的发展史话SiC材料的特性及应用SiC材料的制备方法小结SiliconCarbideTechnology(SiC)WhyanewTechnology?SihasservedwonderfullywellasasemiconductorformostapplicationsSidevicesfailtooperateathightemperaturesofaround300ºCSinceSiisasmallbandgapmaterial,sufficientlyhighbreakdownvoltagescannotb
2、eappliedSiC’ssuperiorPerformanceSiCisespeciallyusefulfor:HighTemperatureEnvironmentHighRadiationconditionsHighVoltageswitchingapplicationsHighpowerMicrowaveapplicationsSiCissuperiorcomparedtoSibecause:IthasexceptionallyhighBreakdownelectricfieldWideBandgapEnergyHighThermalconductivityHigh
3、carriersaturatedvelocity起初Acheson错误地认为这种材料是C和Al的化合物,他的目的是想寻找一种材料能够代替金刚石和其他研磨材料,用于材料的切割和抛光,他发现这种单晶材料具有硬度大、熔点高等特性,于1893年申请了专利,将这种产品称为“Carborundum”。开辟了SiC材料和器件研究的新纪元,此后,有关SiC的研究工作全面展开,并且于1958年在Boston召开了第一届SiC会议。但是,Si技术的成功以及迅猛发展,使得人们对SiC的研究兴趣下降,这一时期的研究工作,即60年代中期到70年代中期,主要在前苏联进行,在西方一些国家,SiC的研究
4、工作仅处于维持状态。SiC材料的发展史话1824年,瑞典科学家Berzelius(1779-1848)在人工合成金刚石的过程中就观察到了SiC;1885年Acheson(1856-1931)首次生长出了SiC晶体(Carborundum);1905年,法国科学家Moissan(1852-1907)在美国Arizona的Dablo大峡谷陨石里发现了天然的SiC单晶(Moissanite);1907年,英国电子工程师Round(1881-1966)制造出了第一只SiC的电致发光二极管;SiC材料的发展史话1955年,Lely发明了一种采用升华法生长出高质量单晶体的新方法;(转
5、折点)1978年,俄罗斯科学家Tairov和Tsvetkov发明了改良的Lely法以获得较大晶体的SiC生长技术;(里程碑)1979年,成功制造出了SiC蓝色发光二极管;1981年,Matsunami发明了Si衬底上生长单晶SiC的工艺技术,并在SiC领域引发了技术的高速发展;1987年,CreeResearch成立,成为了第一个销售SiC单晶衬底的美国公司。SiC材料的特性及应用Ⅰ.SiCforHighPower,HighTemperatureElectronicsSiGaAs3C-SiC6H-SiC4H-SiC晶格常数(Å)5.435.654.35963.08115.
6、0923.08110.061熔点(K)14201235>2100>2100>2100热稳定性GoodFairExcellentExcellentExcellent带宽(eV)1.111.432.233.023.26最高工作温度(K)600760125015801580电子迁移率(cm2V·S)1500850010004001140空穴迁移率(cm2V·S)600400505050饱和电子速率(107cms)1.01.02.22.02.0临界电场(106Vcm)0.30.62.03.23.0介电常数11.812.59.7109.6热导率(Wcm·K)1.50.46
7、4.94.94.9SiC与Si和GaAs的有关参数的对比SiC的这些性能使其成为高频、大功率、耐高温、抗辐照的半导体器件的优选材料,用于地面核反应堆系统的监控、原油勘探、环境检测及航空、航天、雷达、通讯系统及汽车马达等领域的极端环境中。SiC材料的特性及应用Ⅱ.PolytypisminSiC3C-SiC6H-SiC4H-SiC3C-SiC6H-SiCSiC材料的特性及应用Ⅲ.DopantConsiderations杂质掺入量过大导致了非晶或多晶的形式,深的杂质能级是不利的,不仅激活温度高,而且也不利于器件的设计。SiC材料常用
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