电解电容参数特性

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1、电解电容器的参数特性上海BIT-CAP技术中心2.1容量2.1.1标称容量（CR）电容器设计所确定的容量和通常在电容器上所标出的电容量值。2.1.2容量公差容量偏差是指电容器的实际容量离开标称容量的范围，容量偏差一般会标示在出货检验单上和包装箱盒贴上。YM产品的容量公差为±20%。2.1.3容量偏差等级为了保证每批电容器容量的一致性，保证客户装在同一台机器上的所有电容器之间的容量偏差在。特别为每一个电容器贴上表示容量偏差的标签。客户在装机时选用同一标签的电容器装在一台设备内，这样能够有效的保证了同一

2、台设备内的电容器容量的一致性。偏差等级见表1。容量等级代码容量偏差D-20%≤Cap＜-15%C-15%≤Cap＜-10%B-10%≤Cap＜-5%A-5%≤Cap＜0E0≤Cap＜5%F5%≤Cap＜10%G10%≤Cap＜15%H15%≤Cap≤20%表1容量偏差等级表2.1.4容量的温度特性电解电容的容量不是所有的工作温度下都是常量，温度对容量的影响很大。温度降低时，电解液的粘性增加，导电能力下降，容量下降。图4容量温度特性（测试频率120Hz）2.1.5容量的频率特性电解电容器的容量决定于温

3、度，还决定于测试频率。容量频率关系：C代表容量，单位Ff代表频率，单位Hzz代表阻抗，单位Ω图5容量频率特性曲线（测试温度20℃）2.1.6频繁的电压波动及充放电频繁的电压波动及充放电都会导致容量下降，为了应对频繁的电压波动及充放电的使用条件，特别设计了ER6系列产品（充放电应对品）。详细情况请联系我们。2.2损耗角的正切值tanδ用于脉动电路中的铝电解电容器，实际上要消耗一部分的有功功率，这可以用损耗角的正切值来表征。损耗角的正切值为在正弦电压下有功功率与无功功率的比值。对于电解电容器较常采用的等

4、效电路，如图6，则损耗角的正切值为：CRIUCURU图6等效串联电路图BIT各系列的最大损耗角的正切值：ES3、ES6、EH3、系列ES3M、ES6M、EW3、EW6、ER6、EL20、EL60EH6ES6H20℃，120Hz下的0.180.300.15损耗值（tanδ）表2各系列电容器的最大损耗角的正切值注：这些值适用于的最大容量为47000μF，相应的容量更高的电容器的损耗角的正切值会更大。2.2.1损耗角的正切值tanδ的频率特性损耗角的正切值取决于频率。损耗角的正切值tanδ的频率特性图图7

5、损耗角的正切值tanδ频率特性（测试温度20℃）2.2.2损耗角的正切值tanδ的温度特性损耗角的正切值除了取决于频率外，还取决于温度。随着温度的下降，电解液的粘性增大，导电能力下降，损耗角的正切值增大。损耗角的正切值tanδ的温度特性图图8损耗角的正切值tanδ温度特性（测试频率120Hz）2.3等效串联电感（ESL）等效串联电感来源于接线端子和电容器内部设计。电容器的等效电路：CESRESL图9电容器的等效电路图2.4等效串联电阻（ESR）等效串联电阻是等效串联线路中的阻性成分。电容器的等效电路

6、见图6，电容器的等效串联阻抗ESR的组成为：R（ESR）=R(介)+R（液）+R（金）R(介)为介质氧化膜的电阻，R（液）为电解液中的电阻，R（金）为金属铆接电阻。影响ESR值的因素有温度、频率、损耗角的正切值。其中ESR等效串联电阻，单位：Ωtanδ为损耗角的正切值为串联电容，单位F2.5阻抗值Z阻抗值包括：○1容量C的容抗○2等效串联电阻ESR○3由电容器内部卷绕方式及接线端子产生的感抗。当低频时容抗起主要支配作用；当频率增大容抗逐渐减小，直至达到串联电阻ESR的数量级；频率更高ESR起主要作用

7、；当电容器达到共振频率时容抗与感抗相互抵消。图10频率阻抗特性曲线（测试温度20℃）图11阻抗Z的温度特性（测试频率120Hz）2.6漏电流Lc由于铝电解电容器的特殊性，其氧化膜（）也充当绝缘层，在施加直流电压很长时间后还会有一个小电流继续流过电容器，这个电流就叫做漏电流。漏电流产生的根源为铝壳电容器的氧化膜（）是由电化学方法形成的，因其厚度极薄，易受原材料纯度、制造工艺等因素影响，故氧化膜表面总是或多或少存在微小的缝隙、杂质和疵点，同时在晶体结构上易形成晶格缺陷。这样铝电解电容器在施加电压后，就在

8、上述隐患出形成电子流和离子流，其主要为电子流，就是漏电流。所以漏电流大小能够衡量电解电容器的制造工艺水平及原材料的选用。2.6.1漏电流与充电时间的关系给铝电解电容器充电的过程中电容器内部通过电化学方法修复氧化膜，使漏电流减小，当充电到一定时间后漏电流就趋于一个恒定的值。Lc010203040min时间图12漏电流与充电时间的关系2.6.2漏电流与充电电压的关系LC0VRVSVFV图13漏电流与电压的关系为额定电压，单位V为浪涌电压，单位V为正极箔的化成电压（正极箔耐