奈米材料结构分析-南台科技大学

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1、南台科技大學95學年度第二學期課程資訊課程名稱奈米材料結構分析課程編碼10M02801系所代碼1開課班級博研機電一甲碩研機械一甲碩研奈米一甲開課教師王聖璋學分3.0時數3上課節次地點一123教室K214必選修選修課程概述課程主要介紹包括物顯微結構形貌觀察、物相種類確定及其定量分析、微晶及納米粉體尺寸測定、體材料及及其微區成分分析和定量測定等；同時側重介紹進行上述顯微結構分析通常所採用的各種現代儀器的主要功能特性及其分析方法，其中包括X射線衍射儀(XRD)、TEM,SPM等儀器的原理課程目標材料顯微結構分析是材料科學中最為重要的研究方法之一。準確、快捷的

2、分析結果為材料的製備工藝、材料性能微結構表徵研究及其材料顯微結構設計提供可靠的實驗和理論依據。課程大綱1.Introduction-Whatisthenanotechnology?-Howtocharacterizethenanophasematerials2.CrystalStructure(I)-Basictheoryofcrystal3.CrystalStructure(II)-Reciprocallattice4.CrystalStructure(III)-Stereographicprojection5.X-RayCharacterizati

3、on(I)-HistroyofX-ray-CharacterizationofX-Ray-Bragg’slaw6.X-RayCharacterization(II)-Diffraction7.X-RayCharacterization(III)-Identificationprocedure8.TEM(I)-basictheory9.TEM(II)-Brightfieldimage3-Darkfieldimage-DiffractionPattern-HRTEM10.TEM(III)-TEMsamplepreparation-Practicaloper

4、ationofTEM11.SEM-AGuidetoScanningMicroscopeObservation-EDSanalysisinSEM12.SPM13.AFM英文大綱1.Introduction-Whatisthenanotechnology?-Howtocharacterizethenanophasematerials2.CrystalStructure(I)-Basictheoryofcrystal3.CrystalStructure(II)-Reciprocallattice4.CrystalStructure(III)-Stereogr

5、aphicprojection5.X-RayCharacterization(I)-HistroyofX-ray-CharacterizationofX-Ray-Bragg’slaw6.X-RayCharacterization(II)-Diffraction7.X-RayCharacterization(III)-Identificationprocedure8.TEM(I)-basictheory9.TEM(II)-Brightfieldimage-Darkfieldimage-DiffractionPattern-HRTEM10.TEM(III)

6、-TEMsamplepreparation-PracticaloperationofTEM11.SEM3-AGuidetoScanningMicroscopeObservation-EDSanalysisinSEM12.SPM13.AFM教學方式評量方法自行設計測驗,課堂討論,課程參與度(出席率),指定用書參考書籍先修科目教學資源注意事項全程外語授課0授課語言1中文授課語言2輔導考照1輔導考照23