ds18b20实验报告

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1、机电系统控制电路设计实验实验项目：现场温度测量与显示实验日期：2013年12月21日指导教师：张志安学号:1001500356姓名：周健专业：机电工程实验要求1.实验目的：(1)熟悉atmega128单片机输入输出，数码管的显示等。(2)掌握DS18B20温度传感器的使用，包括ROM编码读取、温度测量、暂存器读取与写入、复制暂存器内容到EEPEOM的操作。2.实验器材：(1)带有DS18B20的ATmega128单片机开发板(2)JTAG仿真器3.实验内容：编写程序控制DS18B20温度传感器，实现64位ROM编

2、码的读取、现场温度测量与显示（利用数码管显示）、暂存器读取与写入、复制暂存器内容到EEPEOM。4.实验原理图：1.实验步骤：(1)查看开发板原理图，了解连接接口。(2)GCC下编写源程序，检查无误后编译，生成仿真文件。(3)打开AVRStdio，导入生成的*.cof仿真文件，软件仿真，调试程序。(4)程序调试无误后，通过JTEG在线仿真，在开发板上检验程序运行结果，并记录。(5)按照（1）—（4）步骤，依次实现64位ROM编码的读取、现场温度测量与显示（利用数码管显示）、暂存器读取与写入、复制暂存器内容到EEP

3、EOM。2.实验现象分析：(1)64位ROM编码的读取：2813E45704000019关键程序：(2)现场温度测量与显示（利用数码管显示）：20.5(3)暂存器读取与写入写入TH=0x40TL=0x04(1)复制暂存器内容到EEPEOM