资源描述：
《MSA测量系统分析(I)》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、MSA(MeasurementSystemAnalysis)学习目标理解测定误差理解计量型DATA测定System的分析方法理解计数型DATA测定System的分析方法测定System概要测定System分析的目的和用途为了测定DATA的质向上得以正确评价测定System的状态为了使PROCESS的散布中由于测定System造成的误差数值化为了比较相互不同的测定设备为了评价存在缺陷的测定设备为了不出现由于测定误差造成的错误的产品出库或错误的SPC结果等为了证明我们手中的DATA和要收集的DATA的可信赖用语测定为了表现特定性质的物质间的关系,对物质赋予数值.测定工程赋予数值
2、的工程测定值赋予的值仪器为了求出测值而使用的设备.测定System为了以数值形式反映被测物的性质而进行的作业,顺序,计测仪与设备,SOFTWARE,另外人的集合等求出测定值的一系列工程体系.测定System概要概要测定DATA用作议事决定的基础资料例如,制造工程的调整与否的决定.两个以上变量之间关联性存在与否的决定..以如此DATA为根据进行议事决定而得到的利益,主要由已使用的测定DATA品质所决定.DATA质量低的话获益则较低,DATA质量好的话获益则较高.为了能够从使用测定DATA中最大程度获益,要保证DATA的质量.测定System概要测定DATA的品质测值接近特性真
3、值的话,DATA的质量较好,反之远离特性真值则DATA质量较差.测定DATA的品质是在稳定状态下测定System中求得的复数的测值通过统计学特性判断而来的.反映DATA质量的统计学特性的参数-偏移(Bias):DATA远离真值有多远位置?-分散(Variance):DATA分布扩散的程度?质量较低DATA的一般原因为测值DATA中存在太多的变动要素;引起大的变动的测定System与工程自体的变动无法区分,故不适合使用于工程分析中.测定System概要测定System的统计学性质测定System的品质具有如下的统计学性特性.测定System需处于统计性管理状态并非指测定Sys
4、tem的变动原因中的特殊原因而指的是偶然原因.测定System的变动要比工程的变动要小.变动应比规定标准略小.测定仪的最小有效刻度单位需小于工程变动或规格界限中较小部分,统计学性质的最小有效可读单位不得大于工程变动或规格界限中较小部分数值的1/10.测定System的统计学性性质会随测定项目的变化而变化,这样的话,测定System的较大变动需要比工程变动或规格界限中的较小部分还要小.测定System概要国家标准体系通常称为了传播测定值而使用的顺序叫校正,依此测定System生成的测定值要与国家标准机关选定的标准值一致的话不大可能.一般来说,形成阶层式,各阶层保有各自的自体标
5、准System.初期标准(Primarystandard)2标准(Secondarystandard)作业标准(WorkingStandard)国家标准(NationalStandard)以国家标准为基础各企业,研究所,政府研究机关等组织进行管理的标准企业使用时称为Company标准,由企业的校正部门管理.国家机构下管理的标准1期,2期标准为基础,制造现场使用的标准표준체계测定值作为1级标准向下一阶层标准水准传播.1级标准开始向2级标准传播2标准向作业标准传播测定System概要评价顺序测定System的评价了解测定System的评价确定被测得的DATA怎样使用,决定测定S
6、ystem需具有的预期统计性质实际是否具有进行评价.阶段1测定System所需的统计性特性是否具有进行决定.(测定System实际使用前须实行.)找出对测定System造成影响的环境要因.(如果周边温度对测定值产生影响的话,温度可调节环境内启动测定System.)阶段2检查确认判断为可控制测定System的测定System是否具有适合的统计性特性.一般所说的“GageR&R”分析指的是阶段2评价的状态.测定System概要倾向和精确度精确,但有偏向无偏向性,但不精确.无偏向并精确=正确性.017.016.015.014.013.012.011.010平均误差真值4984.0
7、16.015.014.013.012.011.010.009.008.007误差1123353331.011.010.009平均真值平均真值7117计量型测定System变动测定误差的构成散布倾向CalibrationStudy-校正周期-方法和顺序GageR&R-测定仪改善-测定方法改善-标准化测定误差=正确度(中心)+精确度(散布)中心:正确度散布:精确度计量型测定System变动计量型测定System变动观测值=基准值+测定误差真值测定值测定OFFSET真值测定值观测散布=制品散布+测定散布σ2整体=σ2制品
