声、电井壁成像测井技术介绍

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1、声、电井壁成像测井技术声、电井壁成像测井技术目目录录一．一．概述概述二．二．井井眼声眼声电成电成像像原理原理三．三．声声电成电成像处像处理理流程流程四．四．声声电成电成像数像数据据处理处理技术技术五．五．声声电成电成像地像地质质应用应用评评价技术价技术六．六．处处理实例理实例一、概述一、概述电声成像能解决什么问题？••确定确定地地层产层产状状及层及层理理特征特征••识别识别裂裂缝、缝、孔孔洞等洞等并并定量定量评价评价••套管套管变变形、形、射射孔分孔分析析评价评价••根据根据测测井资井资料料分析分析沉沉积环境积环境••利用利用测测井资井资料料进行进行井井旁构旁构造造外推外推二、声二

2、、声电电成成像像测井原理测井原理2.1电成像测井原理及仪器简介121极板11测量原理和2液压推靠器103预处理短节地层倾角测量相4测斜短节95采集短节类似。阵列电扣8绝缘短节667绝缘外套电流经适当处理58万向接头可刻度为彩色或VEmex9遥测短节7410扶正器灰度等级图像，11防转短节312马龙头反映地层微电阻IEmex率的变化。211Ib微电扫描成像仪示意图二、声二、声电电成成像像测井原理测井原理国内外微电阻率扫描仪器技术指标对比技术指标EMI仪器FMI仪器STARII仪器MCI-AMCI_B哈里伯顿斯仑贝谢阿特拉斯国产国产重量(kg)225211272223223关腿直径(m

3、m)127127140127127最小井眼(cm)160160165160160最大井眼(cm)533533406500500最大压力(MPa)138138138100100最大温度(度)175175175155155井别裸眼井裸眼井裸眼井裸眼井裸眼井泥浆类型水基水基水基水基水基测井速度(m/h)550550365225225传感器类型微电扣微电扣微电扣微电扣微电扣钮式电扣数150(6×25)192(8×24)144(6×24)120(6×20)144(6×24)垂直分辨率(cm)0.50.50.50.50.5覆盖率60%80%60%48%60%二、声二、声电电成成像像测井原理测井

4、原理2.2超声成像测井原理及仪器简介旋转式聚焦换能器按顺时针以脉冲回波的方式对井壁扫描测量，仪器记录到的地层回波幅度及时间经处理后得到井周声波幅度和传播时间图像，用以识别、描述地层特征。仪器包括：USI、CBIL、CAST、BHTV、MUST等。三、声三、声电电成成像像处理流程处理流程Ø电成像处理流程Ø声成像处理流程Ø成像处理流程链Ø处理模块三、声三、声电电成成像像处理流程处理流程3.1微电阻率扫描处理解释流程XTF格式LIS加速度校正直方图增强沉积和构造分析DLIS格式716格式ASCII裂缝交互提取处理格式电扣深度对齐地应力分析处理文件生生EMEX电压校正成成静动声电成像地质交

5、互分析态态数据加死电扣校正图图用户载模块像像岩心图像分析LLS/SFL电阻率标定参数计算数据均衡处理综合地质成果输出数据预处理图像生成解释分析和成果输出三、电声成像处理流程三、电声成像处理流程3.2超声成像处理解释流程XTF格式LIS加速度校正直方图增强沉积和构造分析DLIS格式716格式ASCII裂缝交互提取处理格式井眼几何校正地应力分析处理文件生生偏心校正成成幅时声电成像地质交互分析度间数据加图图用户载模块井径刻度像像套管变形分析相位对齐射孔分析数据均衡处理综合地质成果输出数据预处理图像生成解释分析和成果输出四、电声成像数据预处理技术四、电声成像数据预处理技术深度和速度校正Ø电

6、扣深度对齐:消除因仪器设计导致的电扣深度错位；Ø速度校正：因仪器运动中速度不均匀而产生的图像错位；lwllslw判断仪器遇卡示意图四、电声成像数据预处理技术四、电声成像数据预处理技术加速度校正处理框图EMI仪器Ø三分量加速度校正Ø相关对比校正STAR仪器四、电声成像数据预处理技术四、电声成像数据预处理技术EMEX发射电压校正仪器工作时，当记录电流过大时，将调低发射电压；当仪器电流过小时，将调高发射电压。必须进行发射电压校正，以确保测量值正确反映地层电阻率信息。四、电声成像数据预处理技术四、电声成像数据预处理技术坏电扣校正测井中可能出现个别电扣短路或短路，使测量值不正常，必须进行失效

7、电扣校正。最简单的解决方法是直接采用周围电扣数据来平均。四、电声成像数据预处理技术四、电声成像数据预处理技术均衡处理电扣贴井壁程度及电极系数各不相同，导致各电扣间的测量背景值，图像无相同背景色。须进行数据规一化处理，确保各电扣测量数据具有一致的数学统计期望值。四、电声成像数据预处理技术四、电声成像数据预处理技术电阻率标定发射电压校正后的电扣曲线只是具有微电阻率特征的视电阻率曲线。它准确地反映所测剖面微电阻率的变化程度，但不能准确地反映所测剖面微电阻率数值。四、电声成像