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时间:2019-06-18
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1、实验二组合逻辑电路一、实验目的1.掌握组和逻辑电路的功能测试。2.验证半加器和全加器的逻辑功能。3.学会二进制数的运算规律。二、实验仪器及器件1.仪器:数字电路学习机2.器件:74LS00二输入端四与非门3片74LS86二输入端四异或门1片74LS54四组输入与或非门1片三、实验内容1.组合逻辑电路功能测试(1).用2片74LS00按图2.1连线,为便于接线和检查,在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。(2).图中A、B、C接电平开关,Y1、Y2接发光管电平显示(3).按表2.1要求,改变A、B、C的状态,填表并写出Y1、Y2的逻辑表达式。输入输出ABCY1Y20000000
2、101011111111011010100101011101011(4).将运算结果与实验比较。Y1=A+B,2.测试用异或门(74LS86)和与非门组成的半加器的逻辑功能。根据半加器的逻辑表达式可知,半加器Y是A、B的异或,而进位Z是A、B相与,故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成,如图2.2。(1).用异或门和与非门接成以上电路。输入A、B接电平开关,输出Y、Z接电平显示。(2).按表2.2要求改变A、B状态,填表。输入输出ABYZ00000110101011013.测试全加器的逻辑功能。(1).写出图2.3电路的逻辑表达式。(2).根据逻辑表达式列真值表。(3).根
3、据真值表画逻辑函数SiCi的卡诺图。(4).连接电路,测量并填写表2.3各点状态。AiBiCi-1YZX1X2X3SiCi00000111000101010110100101011011000111010010111010011110110110111011011110111011SiCiAiBiCi-1000111100010111010AiBiCi-10001111000010101114.测试用异或门、与或门和非门组成的全加器的功能。全加器可以用两个半加器和两个与门一个或门组成,在实验中,常用一块双异或门、一个与或非门和一个与非门实现。(1).写出用异或门、与或非门和非门
4、实现全加器的逻辑表达式,画出逻辑电路图。(2).连接电路图,注意“与或非”门中不用的“与门”输入端要接地。(3).按表2.4记录Si和Ci的状态。,AiSiBi+CiCi-1AiBiCi-1SiCi0000001010100101100100110011011010111111一、实验报告1.整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论。2.总结组合逻辑电路的分析方法。
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