瓷片电容-SMD贴片电容检验标准

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1、深圳市好礼来电子产品厂頁數第1頁共3頁工作文件生效日期分發號文件名瓷片電容/SMD貼片電容檢驗標準文件編號版本狀態A1.0目的為深圳市好礼来电子产品厂所使用的瓷片電容/SMD貼片電容提供檢驗依據.2.0適用范圍僅適用于深圳市好礼来电子产品厂所使用的瓷片電容/SMD貼片電容.3.0參考資料《中華人民共和國行業標準---電容器》4.0抽樣水准按MIL-STD-105E正常單次(Ⅱ)抽樣計劃進行抽樣:CRI:0MAJ:0.65MIN:1.0(如客戶有要求按客戶要求)5.0所需工具電容測試儀(L.C.R儀)一台電流表一塊電壓表一塊可調直流穩壓源一台30W烙鐵一把6.0檢驗方法6.

2、1外觀檢驗6.1.1引腳是否氧化、生鏽、脫落、過短.6.1.2主體是否變形、破損、破裂.6.1.3字跡模糊或標識不清.6.1.4用手指或棉簽沾酒精輕輕擦試主體字符是否會脫落.6.1.5SMD貼片電容需置于20倍顯微鏡下觀察不能有裂痕.6.2容量測量用電容測試儀(L.C.R儀)【測試頻率為1KHZ,測試電壓為1.0V】對其進行容量測量,其容量應誤差范圍內..注#:中括號內要求只有在使用L.C.R儀測試時才參照編制審批日期日期深圳市好礼来电子产品厂頁數第2頁共3頁工作文件生效日期分發號文件名瓷片電容SMD貼片電容檢驗標準文件編號版本狀態A附:電容容量誤差字母表示F表示±1%J

3、表示±5%M表示±20%Z表示(+80,-20)%6.3漏電流測試將被測電容按下圖串入線路中,將直流電壓調至與電容耐壓相等,此時μA表的顯示應小于0.1μA.6.4耐壓測試將被測電容按上圖串入線路中,將直流電壓調至與電容耐壓相等,對其進行連續充電12小時,不能出現冒湮、變黑、異味、裂開、短路、開路等現象.6.5高低溫測試:將在常溫下測試容量、漏電均正常的電容放入-10℃的溫度中2小時.然后用30W烙鐵對其進行加熱3秒,再測試容量,漏電是否合格.如此連續反復3次高低溫試驗,其容量,漏電應正常.6.6吃錫試驗:用30W烙鐵對兩焊點做吃錫試驗,3秒內應吃錫良好.7.0檢驗標准:

4、序號檢驗項目品質要求判定CRIMAJMIN編制審批日期日期深圳市好礼来电子产品厂頁數第3頁共3頁工作文件生效日期分發號文件名瓷片電容SMD貼片電容檢驗標準文件編號版本狀態A序號檢驗項目品質要求判定CRIMAJMIN7.1外觀引腳氧化、生鏽、脫落、過短.※主體變形、破損、破裂.※字跡模糊或標識不清.※用手指或棉簽沾酒精輕輕擦試主體字符會脫落.※SMD貼片電容需置于20倍顯微鏡下觀察有裂痕.※7.2容量容量大小超出充許誤差范圍※7.3漏電漏電流超出充許誤差范圍※7.4高低溫容量超出誤差范圍※漏電流超出誤差范圍※外觀有破裂,破損※7.5吃錫不吃錫或吃錫不夠※外觀有破裂,破損※編

5、制審批日期日期