1、一、实验目的1.采用探针扫描显微镜进行微纳米级表面形貌测量。2.了解扫描探针显微镜的工作原理并熟悉原子力显微镜的操纵。二、实验设备原子力显微镜、光盘块、装有SPMConsole在线控制软件和Image后处理软件的计算机。三、实验基础原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。原子力显微镜的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子