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时间:2019-06-11
《2013年工艺课B卷标准答案及评分细则》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在应用文档-天天文库。
1、《集成电路工艺》B卷标准答案及评分细则一、填空题(每空1分共12分)1、芯片元器件数2、每一年半19593、三750℃4、都不同最终的器件性能5、反应离子刻蚀硼磷硅玻璃6、硅的局部氧化轻掺杂漏二、简答题(每小题8分共56分)1、影响二氧化硅热生长的因素有哪些?(8分)答案:氧化温度、氧化时间、氧化方式、掺杂效应、硅片晶向、反应室的压力。评分细则:答出“氧化温度”、“氧化时间”、“氧化方式”三个因素各得2分;答出“掺杂效应”得1分;“硅片晶向”得0.5分;“反应室的压力”得0.5分。2、为什么要进行离子注入的退火?(8分)答案:消除晶格损伤,并且使注
2、入的杂质转入替位位置从而实现电激活。评分细则:答出“消除晶格损伤”得3分;答出“使注入的杂质转入替位位置”得2分;答出“实现电激活”得3分。3、请简要回答光刻的8个基本步骤。(8分)答案:1)气相成底膜;2)旋转涂胶;3)软烘;4)对准和曝光;5)曝光后烘培(PEB);6)显影;7)坚膜烘培;8)显影检查。评分细则:每个基本步骤回答正确得1分。4、请回答刻蚀的概念及刻蚀的工艺目的。(8分)答案:用化学或物理的方法,有选择地去除硅片表面层材料的过程称为刻蚀。刻蚀的工艺目的:把光刻胶图形精确地转移到硅片上,最后达到复制掩膜版图形的目的。评分细则:答出“
3、用化学或物理的方法去除表面层材料”得3.0分;答出“有选择地去除硅片表面层材料的过程”得2分;目的回答正确得3分。5、请简要描述化学气相沉积CVD的概念,并写出LPCVDSi3N4的化学反应式及沉积温度(注:使用二氯二氢硅SiH2Cl2和氨气NH3沉积)。(8分)答案:4化学气相沉积是利用电阻加热、等离子体、光辐射等能源使某些气态物质发生化学反应,生成固态物质并沉积在衬底表面形成薄膜的过程。LPCVDSi3N4的化学反应式:SiH2Cl2+4NH3→Si3N4+6HCl+6H2沉积温度:700℃~800℃评分细则:答出“利用电阻加热、等离子体、光辐
4、射等能源使某些气态物质发生化学反应”得3分;答出“生成固态物质并沉积在衬底表面”得3分;“化学反应式”和“沉积温度”回答正确各得1分。6、请描述溅射过程(6个基本步骤)(8分)答案:溅射有6个基本步骤:1)在高真空腔等离子体中产生正氩离子,并向具有负电势的靶材料加速;2)在加速中离子获得动能,并轰击靶;3)离子通过物理过程从靶表面撞击出(溅射)原子;4)被撞击出(溅射)的原子迁移到硅表面;5)被溅射的原子在硅片表面凝聚并形成膜,薄膜具有与靶相同的材料组分;6)多于粒子由真空泵抽走。评分细则:前5个步骤回答正确各得1.4分;最后的步骤回答正确得1分。
5、7、在“现代先进的0.18μmCMOS集成电路工艺技术”中,轻掺杂漏和侧墙的工艺目的是什么?画图示意轻掺杂漏、侧墙、源漏注入的形成。(8分)答案:轻掺杂漏(LDD)工艺目的:减小源漏间的穿通和沟道漏电,提高源漏击穿电压。侧墙工艺目的:侧墙用来环绕多晶硅栅侧壁掩蔽大剂量的S/D注入以免其接近沟道导致源漏穿通。轻掺杂漏、侧墙、源漏注入的形成如下图所示。评分细则:两个工艺目的回答完整正确各得3分;图画对得2分,意思表达不完整及图标识错误等酌情扣分。4三、计算题(每小题7分共14分)1、已知某台分步重复光刻机的紫外光源的波长为365nm、其光学系统的数值孔
6、径为0.71,试计算该设备光刻图像连续保持清晰的范围。(7分)答案:焦深DOF=λ/2(NA)2=365/2×0.712≈365nm,即该设备光刻图像连续保持清晰的范围是365nm。评分细则:公式正确得3分;计算结果正确得1分;答出“该设备光刻图像连续保持清晰的范围”得3分。2、已知某台离子注入机的束斑为2.5cm2、束流为2.5mA、注入时间为1.6ms,试计算硼离子(B+)注入剂量。(注:电子电荷q=1.6×10-19库仑)(7分)答案:φ=It/qnA=2.5×10-3×1.6×10-3/1.6×10-19×1×2.5=1.0×1013cm-
7、2评分细则:公式正确得3分;单位正确得2分;计算结果正确得2分。四、画图题(18分)在“早期基本的3.0μmCMOS集成电路工艺技术”中,有7大工艺步骤:1)双阱工艺;2)LOCOS隔离工艺;3)多晶硅栅结构工艺;4)源/漏(S/D)注入工艺;5)金属互连的形成;6)制作压点及合金;7)参数测试。请写出其中的双阱工艺和LOCOS隔离工艺的具体工艺流程,并画出双阱工艺和LOCOS隔离工艺所对应的器件制作剖面图及其对应的版图(注意:版图要标出亮区或暗区;剖面图要标出各区名称)。答案:双阱工艺具体工艺流程:备片→初氧氧化→光刻N阱区→N阱磷注入→刻蚀初氧
8、层→光刻P阱区→P阱硼注入→阱推进。N阱光刻版图及N阱剖面图:P阱光刻版图及P阱剖面图:4LOCOS隔离工艺具体工艺流程:
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