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1、常州银河世纪微电子有限公司检验质量标准文件编号:BLSS/SIP-C-001分立器件成品检验质量标准实施日期:2010年4月1日文件版次:A1、目的规定成品的质量检验要求,抽样、检验和判断方法。2、范围适用于成品的质量检验。3、职责品管负责抽检。4、内容检验项目不良描述抽样计划检验方法异常处置执行人员图示标签不符合包装规范要求目检品管≤10万只检验1盘标签介于10万只到20万只标签与实际产品不符目检品管之间检验2盘(以外箱为单位)美纹带美纹带粘接不牢,编带松散目检品管空编:载带料袋除规定的前、后空部分外有空格,目检品管无产品。Re=1,Ac=0≤10万只检验1盘管体不良:介于10万
2、只到20万只管子塑封体缺损、破裂;目检品管之间检验2盘毛边过大造成入载带卡料。(以外箱为单位)管脚不良:管脚断裂、变形、翘脚;目检品管管脚氧化、发黑。第1页共3页常州银河世纪微电子有限公司检验质量标准文件编号:BLSS/SIP-C-001分立器件成品检验质量标准实施日期:2010年4月1日文件版次:A1、目的规定成品的质量检验要求,抽样、检验和判断方法。2、范围适用于成品的质量检验。3、职责品管负责抽检。4、内容检验项目不良描述抽样计划检验方法异常处置执行人员图示管体表面不良:管体擦伤,影响打印质量;目检品管≤10万只检验1盘管体表面颜色发灰或者有色差。介于10万只到20万只管子R
3、e=1,Ac=0之间检验2盘(以外箱为单位)管体在载带中侧翻目检品管印记不良:印记印字错误,缺字、无印记、重印、深浅不一目检品管、有沾污。载带与盖带分离或者脱落目检品管≤10万只检验1盘盖带与载带结合不良:介于10万只到20万只Re=1,Ac=0封合出现撕裂、破损、凹痕、扭曲;之间检验2盘目检品管载、盖带封合不连续;(以外箱为单位)盖带受热形成熔点或者收缩。盖带偏移:载带定位孔被盖带覆盖超过1/4孔径或者盖目检品管带向外漂移超出0.2mm;盖带没有全部覆盖载带料袋。第2页共3页常州银河世纪微电子有限公司检验质量标准文件编号:BLSS/SIP-C-001分立器件成品检验质量标准实施日
4、期:2010年4月1日文件版次:A1、目的规定成品的质量检验要求,抽样、检验和判断方法。2、范围适用于成品的质量检验。3、职责品管负责抽检。4、内容检验项目不良描述抽样计划检验方法异常处置执行人员图示载、盖带受损:载带有异常破损;≤10万只检验1盘目检品管盖带有刮痕。介于10万只到20万只载、盖带Re=1,Ac=0之间检验2盘(以外箱为单位)载带中有异物目检品管无卤素产品不符合ROHS及无卤素内控30%的以检验批为单位,每无卤素检测荧光分析仪Re=1,Ac=0品管标准要求。批一盘每生产批第1组装箱抽电性能直流参数不能达到检验标准要求测试设备Re=1,Ac=0品管500只注:产品返工
5、后不能达到编带质量要求的,必须上机重新光检、编带。拟制:审核:批准:第3页共3页
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