湘西北岩溶石山物探找水数据处理方法实例

湘西北岩溶石山物探找水数据处理方法实例

ID:38270849

大小:261.91 KB

页数:5页

时间:2019-05-26

湘西北岩溶石山物探找水数据处理方法实例_第1页
湘西北岩溶石山物探找水数据处理方法实例_第2页
湘西北岩溶石山物探找水数据处理方法实例_第3页
湘西北岩溶石山物探找水数据处理方法实例_第4页
湘西北岩溶石山物探找水数据处理方法实例_第5页
资源描述:

《湘西北岩溶石山物探找水数据处理方法实例》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库

1、第26卷第3期物探与化探Vol.26,No.32002年6月GEOPHYSICAL&GEOCHEMICALEXPLORATIONJun.,2002湘西北岩溶石山物探找水数据处理方法实例杨湘生(湖南省地质工程勘察院,湖南株洲412003)摘要:应用电测深导数计算、联合剖面法s曲线歧离带变化率的计算、多剖面互相关处理及激发极化法数据处理等数据处理方法,能有效地提高含水构造异常的分辨力,在西南贫困岩溶石山地区地下水资源勘查开发中发挥了重要作用。关键词:岩溶石山;物探找水;数据处理方法;异常分辩

2、力+中图分类号:P631.32文献标识码:A文章编号:1000-8918(2002)03-0198-05湘西北岩溶石山地区地下水资源勘查开发是国判断是否富水是不充分的。土资源部关于西南贫困岩溶石山地区地下水资源激发极化机理比较复杂,其异常响应除与水有勘查开发计划的子项目。湘西北岩溶石山地质条关外,还受多种因素的制约和影响,因此仅凭单一参件复杂,找水难度较大,因此物探工作的一个核心内数s来判别富水性也带有一定的局限性。容就是提高对含水构造异常的分辨力,而提高异常在湘西北岩溶石山地区的干扰异常

3、主要有地形分辩力主要有2个技术措施:一是物探方法的优化干扰、炭质及泥质夹层干扰及隐伏的锥形凹陷上引组合,二是数据处理。通过数据处理能有效地分辨起的低电性干扰。地形干扰异常特征为:∀在一条出含水构造的异常特征,在确定富水构造及最佳井测线上用多种方法进行测量,异常不吻合;#异常形位方面发挥了重要作用。态与地形大致成镜像反映;∃多条测线的异常连续性差。炭质及泥质夹层干扰异常特征为:∀异常带1岩溶石山地区找水面临的主要困难走向与地层走向一致;#曲线的异常范围较宽;∃激湘西北岩溶石山地区的地层一般为寒武系白云发极化

4、测深s曲线斜变化率大,而且s>2%。隐岩、灰岩,岩溶水文系统以管道型、管道与裂隙型组伏锥形凹陷引起的干扰异常特征为:∀电测深s曲合、裂隙型组合为主。地下水主要受断裂构造的控线在小极距时斜率变化率大;#断面图中s等值线制,岩溶具极不均匀性。在同一条断裂构造带或岩在浅部出现凹状异常特征,而深部变化平缓。根据溶发育带内,强岩溶发育段富水性好,特别是深部强以上干扰异常特征能区分干扰异常,但不能压制它。岩溶发育段含丰富的地下水。电测深s断面图不针对这些困难,我们采用了以下数据处理方法。能有效地反映强岩溶发育段的

5、异常信息,电测深曲2优选找水方法的数据处理方法线也只能确定1个点的岩溶发育深度,而不能从客观上反映岩溶发育的赋存状态。2.1电测深导数计算用单一的物探方法或物探参数难以确定富水地2.1.1数值计算方法段。由对湘西北孔旁电测深s曲线反演计算可知:在双对数坐标中,可以把电测深曲线看成是若对应电性层的电阻率,在含水破碎段为200~450干样条通过结点连结而成。令!m、不含水破碎段为300~500!m、完整基岩段为Yi=kLg(s)i;Xi=kLg(AB/2)i,2000~7000!m;由此可见含水

6、破碎段与完整基其中,i=1,2,%,n;si为与每一供电极距值对应的岩的电阻率差异明显,而含水破碎段与不含水破碎视电阻率值;k为与双对数坐标对应的模数。段的电阻率差异不明显,因此只依据电阻率的变化设定(X1,Xn)的1个均匀分划收稿日期:2001-04-22基金项目:湖南省地质矿产勘查开发局资助项目(项目编号:K<5.3.6>)3期杨湘生:湘西北岩溶石山物探找水数据处理方法实例!199!X1

7、)。在有电性差异的接触带两侧,联合剖面视电阻由离散取样可以确定每1个Xi所对应的Yi,由中率曲线呈阶跃状变化,歧离带幅度大,范围宽。如果矩形微分公式可以算出Y&&在接触带之间或接触带一侧有良导薄层(如断层、岩1、Yn,利用上述数据可唯一确定三次样条函数溶发育带)存在,良导薄层引起的低阻异常可能由电n+1x-x1性差异的电性层引起的界跃异常所淹没,如果良导S(x)=Ci3(-j),j=0h薄层离开接触带的距离小于极距AO,也不会出现x-x1正交点异常。这是因为接触带歧离带幅度强大,3(-j)为三次B样条

8、函数;Ci为待定系数,hABs、s分得相当开,良导薄层产生的异常不足以使同时满足条件S(xi)=Yi,i=1,2,3,%,n;S&(xi)=这种岐离带的符号改变,故形成不了正交点。虽然Yi,i=1,n。对上式两边求导数,并令它近似代替接触带的视电阻率曲线岐离带相当强大宽广,其变Y(x)的导数N+1化率却比较小,而隐伏良导薄层视电阻率曲线岐离1X-XjY&(x)=S&(x)=Cj&3(),带虽然不大,但变化

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。