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时间:2019-05-26
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1、承压设备无损检测JB/T4730.2—2005像质计灵敏度值——单壁透照、像质计置于源测应识别丝号(丝径,mm)公称厚度(T)范围,mmA级AB级B级18(0.063)——≤2.517(0.080)—≤2.0≤2.5~4.016(0.100)≤2.0>2.0~3.5>4~615(0.125)>2.0~3.5>3.5~4.0>6~814(0.160)>3.5~5.0>5.0~7.0>8~1213(0.200)>5.0~7.0>7.0~10.0>12~2012(0.250)>7~10>10~15>20~3011(0.320)>10~
2、15>15~25>30~3510(0.400)>15~25>25~32>35~459(0.500)>25~32>32~40>45~658(0.630)>32~40>40~55>65~1207(0.800)>40~55>40~55>65~1206(1.000)>55~85>85~150>120~2005(1.250)>85~150>150~250>200~3504(1.600)>150~200>250~350—3(2.000)>250~350>350—2(2.500)>350——像质计灵敏度值——双壁双影透照、像质计置于源测应识别
3、丝号(丝径,mm)公称厚度(T)范围,mmA级AB级B级18(0.063)——≤2.517(0.080)—≤2.0≤2.5~4.016(0.100)≤2.0>2.0~3.0>4~615(0.125)>2.0~3.0>3.5~4.5>6~914(0.160)>3.5~4.5>4.5~7.0>9~1513(0.200)>4.5~7.0>7.0~11.0>15~2212(0.250)>7~11>11~15>22~3111(0.320)>10~15>15~22>31~4010(0.400)>15~22>22~32>40~489(0.50
4、0)>22~32>32~44>48~568(0.630)>32~44>44~54—7(0.800)>44~54——-3-承压设备无损检测JB/T4730.2—2005像质计灵敏度值——双壁单影或双壁双影透照、像质计置于片测应识别丝号(丝径,mm)公称厚度(T)范围,mmA级AB级B级18(0.063)——≤2.517(0.080)—≤2.0≤2.5~4.016(0.100)≤2.0>2.0~3.5>4~615(0.125)>2.0~3.5>3.5~5.5>6~1214(0.160)>3.5~5.5>5.5~11>12~1813(
5、0.200)>5.5~11>11~17>18~3012(0.250)>11~17>17~26>30~4211(0.320)>17~26>26~39>42~5510(0.400)>26~39>39~51>55~709(0.500)>39~51>51~64>70~1008(0.630)>51~64>64~85>100~1807(0.800)>64~85>85~125>180~3006(1.000)>85~125>125~225>3005(1.250)>125~225>225~375—4(1.600)>225~375>375—3(2.
6、000)>375——注:A级:1.5≤D≤4.0B级:2.0≤D≤4.0B级:2.3≤D≤4.0用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时,AB级最低黑度允许至1.5;B级最低黑度可降至2.0。采用多胶片方法时,单片观察的黑度应符合以上要求。双片叠加观察仅限于A级,叠加观察时,单片的黑度应不低于1.3。缺陷评定区母材公称厚度T≤25>25~100>100评定区尺寸10×1010×2010×30注:在圆形缺陷评定区内或与圆形缺陷评定区边界评定区边界线切割的缺陷均应划入评定区内缺陷点数换算表缺陷长径mm≤1>1~2>2~3>3~
7、4>4~6>6~8>8缺陷点数1236101525-3-承压设备无损检测JB/T4730.2—2005各级别允许的缺陷点数评定区(mm×mm)10×1010×2010×30母材工称厚度T,mm10>10~15>15~25>25~50>50~100>100Ⅰ级123456Ⅱ级369121518Ⅲ级61218243036Ⅳ级缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于T/2注:当母材公称厚度不同时,取较薄板的厚度。各级别对接焊接接头允许的条形缺陷长度mm级别单个条形缺陷最大长度一组条形缺陷累计最大长度Ⅰ不允许Ⅱ≤T/3(最小可为4)且≤20在长度
8、为12T的任意选定条形缺陷评定区内,相邻缺陷间距不超过6L的任一组条形却像的累计长度应不超过T,但最小可为4Ⅲ2T/3(最小可为6)且≤30在长度为6T的任意选定条形缺陷评定区内,相邻缺陷间距不超过3L的任一组条形却像的累计长度应不超过T,但最小可为6Ⅳ大于Ⅲ级
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