EOS 原理与避免

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1、MAEOS原理与避免®英特尔机密集成优势—支持渠道1MAEOS概念E-ELECTRICALO-OVERS-STRESSEOS指所有的过度电性应力。超过其最大指定极限后，器件功能会减弱或损坏。®英特尔机密集成优势—支持渠道2MAEOS与ESD的区别EOSESD•通常产生于：•属于EOS–电源–能量有限–由于静态电荷引起–测试装置•其过程持续时间可能是几微秒到•其过程持续时间为几皮秒到几秒（也可能是几纳秒）几纳秒•很短的EOS脉冲导致的损坏与•其可见性不强ESD损坏相似。•通常导致晶体管级别的损•损坏表征坏。–金属线会膨胀–通常会发热–功率升高–会出

2、现闭锁情况®英特尔机密集成优势—支持渠道3MA导致EOS的常见原因•由于测试程序切换（热切换）导致的瞬变电流/峰值/低频干扰•电源(AC/DC)干扰和过电压。•测试设计欠佳，例如，在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。•从其他装置发送的脉冲。•工作流程不甚合理•接地反弹（由于接地点不够，快速电流切换导致电压升高）®英特尔机密集成优势—支持渠道4MAEOS示例图®英特尔机密集成优势—支持渠道5MAEOS示例图在FESEM仪器下看到的EOS对闪存设备造成的损坏情况®英特尔机密集成优势—支持渠道6MAEOS避免•电源•工作流程–确

3、保交流电源配备了瞬态电流–将正确流程存档。抑制器（滤波器）–确保针对以下内容进行培训并–电源过压保护给出警示标志：–交流电源稳压器（可选）。»电源开/关顺序–电源时序控制器，可调整时序»不可“热插拔”–不共用滤波器和稳压器»正确的插入方向–定期检查以确保遵守相关规定•维护•电路板或元件测试–定期进行预防性维护。–确保不进行热切换。进行测–确保接头良好紧固，以防止其试时使用存储范围捕获信号带来间歇性故障。或电源的瞬态电流。–确保不出现峰值/低频干扰。•培训–确保正确设置测试参数（不–确保对所有人员进行培训并及会过压）。时复习相关内容。–确保测试硬件

4、中使用了正确的保险丝。®英特尔机密集成优势—支持渠道7MAEOS小结•EOS现象持续时间比ESD的持续时间长•EOS具有和ESD相同的弱点•通过在测试和操作过程中确保不超过所测试集成电路的极限值就可根除EOS–电源–工作流程–维护–培训–电路板/系统测试®英特尔机密集成优势—支持渠道8MA常见问题(FAQ)®英特尔机密集成优势—支持渠道9MA常见问题问：为什么已接地的导电工作台上需要有能够防静电的垫子？答：工作台的导电表面是一个电势为0伏的大导体。如果某个带电器件放置在此表面上，即使工作台通过10兆欧的电阻接地，电荷仍然会快速从器件转移到桌面。防

5、静电的材料能够减缓放电速度，从而能防止对器件造成损坏。®英特尔机密集成优势—支持渠道10MA常见问题问：处理ESD的指导原则是什么？答：未采取保护措施的器件周围12英寸内的所有人员都必须接地。问：为什么人体没有接触设备也要接地？答：因为即使只是与没有保护措施的器件很接近也可能导致场感应型的ESD。®英特尔机密集成优势—支持渠道11MA常见问题问：ESD/EOS会导致哪些常见故障？答：漏电和短路是最常见的故障形式。ESD/EOS也可能导致基本功能失效。EOS也可能导致开路故障。®英特尔机密集成优势—支持渠道12MA资源•EIA规范–EIA541—E

6、SD敏感元件的包装材料标准–EIA625—静电放电敏感(ESDS)器件的处理要求•ESD协会规范：http://www.esda.org–ANSI/ESDS20.20—静电放电控制程序的开发»此规范取代了MIL-STD1686，可替代EIA-625，作为ESD控制标准®英特尔机密集成优势—支持渠道13