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《消除导线分布电容对电阻应变测试影响方法的综述》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、消除导线分布电容对电阻应变侧试影响方法的综述刘长君提要,,在本刊今年的第二期中笔者曾以《导线分布电容对电阻应变浏试的影响》为题从交流电桥的基本原理出发,‘结合交流供桥、载波放大式应变仪的实,阐明了导际电路线分布电容衬电俱应变测试影响的主要因素为应变仪载频的高低和加在相邻桥臂上容差、、。,,的大小推证了卧式丰桥且满足。《!的特定条件下借助于低通滤波器的帮助相教检波器确时容抗不平衡分量具有抑制作用从,主要为仪而说明其影响的表现形式,,器的灵歌度降低严重时将导致放大器阻塞而产生饱和失真同时文中还提出了利定。,测试中所能允许的电容最大不平衡度的方法在此基拙
2、上本文将综述用以消除导线分,布电容影响的四种方法的基本原理并在理论上加以证明以及上述各方法的适用范围和优缺点。直流供桥与直流放大器相匹配,由于电子工业的飞速发展和半导体技术的不断进步使晶体管的热稳定性有很大的,∀提高加之集成电路的出现为更进一步地提高直流放大器的稳定性创造了良好的条件因此,用直流供桥与差分或调制型直流放大器相匹配的方式来制造高频或超高频的动态,。,、、应变仪在国外早已得到了应用近年来特别基低燥声小漂移高增益运算放大器,的出现为在应变仪中广泛使用直流放大器开拓了更加广阔的前景!,。,因容抗#∃&当山”∋时#‘∋(说明电容具有隔直作用当采
3、用直%,,流供桥时便使并联在桥臂上的导线分布电容实际为一开路从而使该电路变成了一,,个纯电阻电桥)即直流桥∗由于这种供桥方式的仪器不受分布电容的干扰因此它,,的工作频率可达!+,−.以上但也必须强调指出这种供桥方式的仪器各元件在整,个工作过程中均要受到热电势的影响故仪器自身的热漂移仍然是制造该类型仪器的主,,,要矛盾虽然这一问题在国外已能较好地解决但由于国内的元件还不够完全过关要,制造这种高称定性的直流放大器只有通过对元件进行严格地选择来实现这就势必增大,。,仪器的造价因而这种供桥方式的应变仪在国内尚未得到采用但是随着我国半导体/0,技术的不断进步
4、这种供桥方式的应变仪必将很快出现二、方波供桥与脉冲放大器相匹配、,夜便仪藉真有漂衫尔几灵敏度高的优用方波供桥与脉冲放犬器相匹配的方式示热,,点而且当桥臂的(不超过一定值时借·助于开关电路的补助还能达到消除分布。,电容影响的目的因此近年来它己作为“种消除分布龟容牛抚的形式在应变仪中出现。,电,。众所周知容器本来是一电能储存器它具有端电压不能突变的特点该特点可、。1,用阻容串联电路)图!∗来加以说明当电路中的开关,突然闭合时假定电容器「35答42口口%2尸护甲刁窟口口口匕叼门曰曰曰口门必门曰曰6口口78口口口口口‘7口口四叫口口口护。柳口9公‘尹卜。)∗)
5、:∗)∗图;充电回路及电量和电流随时间变化曲线’5二,两,,一而“。苦胆鲜贫塑誊竺塑凡1咒立塑鬓二认矍全霜鹭算皇蔚黔孽。、、,‘’‘中“<=工“‘‘训’?任意横载回上刚甩重胜刀恨钻叱畏梦坦坪竺>少资。∀只刃扩改衡盆习二山阳卜的台匕卜1廿活朴招耗方备和由容器能量增量之和故有。≅Α一‘’、≅ΒΧ“;令)∗若将,一代!∗式。有斋、钡55刀≅,ΑΑ、,、、电夕了、少艺〕石一寸Ε州‘Δ,一八Φ挤(,—,,1解)0∗式并注意才∃∋时有Α∃∋则有ΒΑ∃(。!一Γ∗),由电流的定义式,一有斋Ε!、‘一一·奈命厂丽)Η∗,,1用上述类似方法不难获得放电过程时有
6、Β;·ϑ(Α二叮二Ι君‘)/∗‘/Δ谙Κ∃ΚΛΙ二。9∗),、,由上述各式表明在电容器的充放电过程中电容器极板上的电量和电路中的电流与时间之何按一指数,。通常是以电函数关系变化所延续的时间主要由左(之积决定容充电)放电∗达到稳定态值的Μ/肠为衡量充电)放电∗过程结束的标准根据这一标。。准就不难求出其充电)放电∗所需的时间,,1由电容器的定义式一则可将)”∗式改写为千三一兰。。一’Ν∗犷∃)“)一·,,。。1,1将犷∃&Μ/代入)了∗并令(二则有5ΒΓΟ”;一‘+夕粉∃++/、,一。Ο“才二息二Δ(扒一鹰∗由)Π∗式可以着、,由电容器的充
7、电)放电∗时间Β为电路中和的乘积士的三倍’,二,、1‘。越大充电)放电∗的时向也越长反之亦然图;:∗∗为电路中两极板上的电量和电路中的电流变化曲线,,1方波供桥的电桥电路如图0所示若阻抚用Θ、表示其输入阻抗.为桥臂的111‘)ΘΧΘ∗)ΘΧΘ∗Θ∃545、,夕,二Ρ‘【一∀一下一了石产二布一二十卜二下书乍扮万,全,【二一廿寸方‘产二方十二不一丁言一产二二!2ΚΣΚ七!>,Ο2八0Φ0、!门32八Δ七Δ!ΓΤ;=‘‘甲脚脚丁山6八场山3)Μ∗1ΘΤ∀一Χ寸一锣二Χ;Χ%Υ1(1!Χ%Υ1(1沂Τ;Χ%田左!Ο2毋ΚΒ一七Δ丁百二
8、,1。‘,11Δ‘,1当∃∃∃(∃(∃(∃()即等臂电桥∗
