电力电子半导体器件SCR

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时间:2019-05-12

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1、第三章晶闸管§3.1普通晶闸管Thyristor硅可控整流器,可控硅,SCR。一、结构:四层PNPN结构,三端器件符号正向阻断:A—K接正电压,J2反偏,漏电流很小。反向阻断:A—K接负电压,J1,J3反偏,漏电流很小。等效电路:由PNP和NPN两个晶体管互联,内部正反馈连接。正反馈过程令:两个晶体管共基极电流放大数α1、α2J2结反向漏电流为IC0则:共基极电流放大系数α1、α2与发射极电流变化关系:①IG=0时,α1、α2约为0,IA≈IC0,晶闸管正向阻断。②IG>0时,α1、α2随射极电流增大而上升,当α1+α2≈1时,IA迅速增大,正向导通。*此时,即使再为0,晶闸管仍继

2、续导通——半控型器件。1.晶闸管导通的几种情况:①门极触发:A-K极之间加正向电压;G-K极间加正向电压和电流。——通用方法②阳极电压作用:阳极电压上升到相当数值时,J3结击穿,IB2增大,由正反馈作用导致导通。——会引起局部过热,易击穿,不易控制。③du/dt作用:阳极电压上升速率快,J3结电容C产生位移电流导致射极电流增大,引起导通。——控制困难,过大的du/dt会损坏管子。④温度作用:结温增高,漏电流增大,引起导通。⑤光触发:光照射下,产生电子空穴对,形成触发电流。——光触发晶闸管⑤光触发:光照射下,产生电子空穴对,形成触发电流。——光触发晶闸管1.晶闸管导通的几种情况:①门

3、极触发:A-K极之间加正向电压;G-K极间加正向电压和电流。——通用方法②阳极电压作用:阳极电压上升到相当数值时,J3结击穿,IB2增大,由正反馈作用导致导通。——会引起局部过热,易击穿,不易控制。③du/dt作用:阳极电压上升速率快,J3结电容C产生位移电流导致射极电流增大,引起导通。——控制困难,过大的du/dt会损坏管子。④温度作用:结温增高,漏电流增大,引起导通。2.关断条件:阳极电压减小/反向,使阳极电流减小到维持电流以下,IA

4、性:VG—IG关系(P3结二极管伏安特性)IGTVGTPGM可靠触发区不可触发区不可靠触发区VGD:门极不触发电压IGD:门极不触发电流VGT:最小门极触发电压IGT:最小门极触发电流VFGM:门极正向峰值电压IFGM:门极正向峰值电流说明:①门极触发电压、电流应处于可靠触发区内,触发功率过大,会使SCR结温上升,影响正常工作,甚至会烧坏门极。②触发电压、电流应大于VGT和IGT,方可保证正常触发。③不触发时,触发电路输出电压应低于门极不触发电压VGD(0.2V);为提高抗干扰能力,避免误触发,必要时可加负偏压(1—3V;不大于5V),负偏压过大,会使器件触发灵敏度下降,不利于快速

5、导通,同时门极损耗增大。三、动态特性:P(功耗)iAIA0.9IA0.1IA000UAKtdtrtstontrrtGrtoff开通损耗通态损耗关断损耗断态损耗td:延迟时间tr:上升时间(局部导通)ts:扩展时间(全导通)trr:反向恢复时间非平衡少子耗散时间tGr:门极恢复时间正向阻断恢复时间①开通时间:ton=td+tr普通SCR,td为:0.5—1.5us;tr为:0.5—3us;IG越大,ton越小。②关断时间:toff=trr+tGr;一般为几百us。说明:1.开通时间ton随门极电流增大而减小;阳极电压提高,可使内部正反馈加速,上升时间、延迟时间显著缩短。2.正向电流越

6、大,关断时间toff越长;外加反向电压越高,反向电流越大,关断时间可缩短;结温越高,关断时间越长。3.关断时,过早施加正向电压,会引起误导通。三、参数(一)电压参数1.断态不重复峰值电压VDSM门极开路,加在SCR阳极正向电压上升到正向伏安特性曲线急剧弯曲处所对应的电压值。不能重复,每次持续时间不大于10ms的脉冲电压。(转折电压,小于VBO)2.断态重复峰值电压VDRM门极开路,额定结温下,允许50次/s,持续时间不大于10ms,重复施加在阳极上的正向最大脉冲电压。VDRM≈90%VDSM3.反向不重复峰值电压VRSM门极开路,加在SCR阳极反向电压上升到反向伏安特性曲线急剧弯曲

7、处所对应的电压值。不能重复,每次持续时间不大于10ms的脉冲电压。4.反向重复峰值电压VRRM门极开路,额定结温下,允许50次/s,持续时间不大于10ms,重复施加在SCR上的反向最大脉冲电压。VRRM≈90%VRSM5.额定电压将VDRM和VRRM中较小的一个取整后,做额定电压。(使用时,选择2—3倍;π倍)6.通态峰值电压VTMSCR通以两倍/或规定倍数额定通态平均电流时,在额定结温下,A—K之间瞬态峰值电压(管压降)。越小,通态损耗越小。(二)电流参数1.通态平

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