基于故障注入的基准电路故障响应分析

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1、维普资讯http://www.cqvip.com俞振华等：基于故障注入的基准电路故障晌应分析基于故障注入的基准电路故障响应分析俞振华，江建慧(同济大学电子信息与工程学院上海200092)摘要：为了提高集成电路的成品率，试图采用更简便有效的方法测试芯片，并获得反映电路特性的故障响应率，在进行电路功能仿真(前仿真)或电路时序仿真(后仿真)的过程中，对电路注入单故障或多故障，然后在电路存在故障的情况下，模拟电路的行为，获得电路的故障响应率。实现了一个通用的数字电路“故障响应分析”程序，他模拟电路注入故障，收集模拟结果，通过分析获取电路的故障响应率。关键词：集成电路；故障响应率；单故障；双重故

2、障中图分类号：TN710文献标识码：B文章编号：1004—373X(2008)04—006一O3AnalysisofDatumCircuitFaultResponseBasedonFaultInjectionYUZhenhua，JIANGJianhui(SchoolofElectronicsandInformation，TonfiiUniversity，Shanghai，200092，China)Abstract：Toimprovetheyieldofintegratecircuit，tryingtotestchipswithsimpleandeffectivewaysandgetth

3、edesiredfaultresponserate．Whenemulatingthefunctionorthetimingofacircuit，itinjectssinglefaultormultiplefaults．Thenemula-tingthebehaviorofthiscircuitwithfaultinjectedtogetthefaultresponserate．Inthisproject，itimplementsageneralpro-gramforanalysisoffaultresponserateofdigitalcircuits．Usingthisprogram

4、，wecaninjectthefaultsautomatically，collecttheresultofemulation，thengetthefaultresponserate．Keywords：integratedcircuit；faultresponserate；singlefault；doublefaults1研究背景2故障与故障注入随着半导体器件的尺寸不断缩小，集成电路(IC)设计故障覆盖率是给定测试集所能检测的给定电路在给的规模越来越大，芯片集成度越来越高，使得芯片测试越定的故障模型下的故障数与电路中含有的故障总数之比。来越困难。为了提高集成电路的成品率，研究人员把更多比

5、较常见的故障模型有固定型故障和桥接故障，桥接故障会改变电路的拓扑结构，本文主要讨论的是固定型故的精力放在芯片的测试技术上，试图采用更简便有效的方障。固定型故障主要反映电路或系统中某一根信号线上法测试芯片，并获得满足要求的故障覆盖率。信号的不可控，即系统运行过程中该信号线永远固定在某电路故障覆盖率的评测方法可以在芯片制造完成后，一个值上。故障注入是指按照选定的故障模型加于运行通过自动测试仪(ATE)获得芯片的故障覆盖率。这种方特定工作负载的目标系统中，用人工的方法有意识地产生法是一种事后的评估行为，他只能对成品芯片的优劣做出故障并施以加速该系统的错误和失效的发生，同时观测和估计，不能对改

6、进芯片设计起到至关重要的作用。回收系统对所注入故障的反应信息，并对回收信息进行分另一种获得故障覆盖率的方法是，设计或测试人员在析，从而向试验者提供有关结果的试验过程。进行电路功能仿真(前仿真)或电路时序仿真(后仿真)的3电路故障响应分析程序设计过程中，对电路注入单故障或多故障，然后在电路存在故障的情况下，模拟电路的行为，确认该故障是否会导致电3．1确定型测试路产生差错或失效。对所选定的故障集中的所有故障进本程序采用确定型测试，即为被测电路的每个故障产行模拟后，就可以获得电路的故障覆盖率。对于门级电生相应的测试码，生成一个能测试电路中所有故障的测试路，故障注入的位置可以是门电路的输入或输

7、出线。这种码集合作为测试码源，无故障电路对应于测试码中的各个方法对改进电路设计有直接的效果。测试的响应值存储起来作为参考值，如图1所示。可以采用公式的方法对测试码进行更准确的定义。收稿日期：2007—09—13x：被测电路的可控输入矢量；6维普资讯http://www.cqvip.com2008第4翼月第267G(x)：电路无故障时的可测输出矢量；依次在输入端输入每个测试向量，然后嵌套循环for(p—no一1；pnodMAXLINE；pG，(x