基于单片机的Flash存储器坏块自动检测

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1、万方数据第18卷第3期电子设计工程2010年3月V01．18No．3ElectronicDesignEngineeringMar．2010基才单片机的Flash存储器坏块自动检测王新舜，张存善，韩力英，杨振华(河北工业大学信息工程学院，天津300130)摘要：在深入了解Flash存储器的基础上，采用单片机自动检测存储器无效块。主要通过读取每一块的第l、第2页内容，判断该块的好坏，并给出具体的实现过程，以及部分关键的电路原理图和C语言程序代码。该设计最终实现单片机自动检测Flash坏块的功能．并通过读取ID号检测Flash的性能，同时该设计能够存储和读取lGB数据。关键词：NAND

2、Flash；ID号；AT89C51单片机；数码管中图分类号：TN30文献标识码：A文章编号：1674．_6236(2010)03—0124—03AutodetectioninvalidblockofFlashmemorybasedonSCMWANGXin—shun，ZHANGCun·shah，HANLi—ying，YANGZhen—hua(schoolofInformationEn∥needng，HebeiUnivers盼ofTechnology，Tianjin300130。China)Abstract：Onthebasisofin-depthunderstandingtheFl

3、ashchips．thispaperdesignsanewpro羽'amwhichusingtheSCMtodetecttheinvalidblock．Mainlythroughreadingthedataofthefirstandsecondpagetodepottheinvalidblock．SpecificimplementationprocedureWas舀ven，andthekeycircuitschematicdiagramandClanguageprogramcodeWasintroduced．Thisdesignachievedthefunctionofusing

4、theMCUcheckstheinvalidblockfinally．andincreasedthefunctionbyreadingtheIDnumberofn勰htogettheperformanceofthememory．Andthed船ignalsocanwriteandreadIGBdata．Keywords：NANDFlashmemory；IDcode；AT89C51；digitaltube随着电子技术飞速发展。智能电子产品随处可见，如PC机、移动电话、PDA、数码相机、游戏机、数字电视等。而诸如此类的电子产品的核心器件往往离不开存储器。无论是从存储器的物理结构、存储

5、容量、数据读写速度、可靠性、耐用性，还是产品的实用性方面，其种类繁多Ill。然而由于种种原因，越来越多的电子产品采用数据传输快、容量大的NAND型Flash存储器。虽然NAND型Flash具有许多优点．但其有随机产生不可避免的坏块．如果不能很好解决该坏块将导致高故障率。因此，这里提出一种基于DSP的Flash存储器坏块自动检测系统。1系统设计方案图I为兀ash存储器坏块自动检测系统结构框图。图1Flash存储器坏块自动检测系统结构框图本系统设计采用A明9C51自动检测NAND型Flash存储器的无效块。获取nash存储器的坏块信息。为后续数据存储做准备。本系统设计包括硬件电路和配

6、套软件设计2部分。其硬件电路主要由单片机、控制、显示和存储器4部分组成，其中单片机部分采用常规的最小系统电路；控制部分由按键和单片机的外部中断组成．按钮通过电阻与接地端相收稿日期：2009—09—03稿件编号：200909013连，而复位键则与电源端相连；显示部分采用单片机的Po和Pl端口控制8位七段共阳极数码管。位选通端由P2端口控制数据端由Pl控制：存储器部分与单片机相连，由于存在电平差异，所以需加电平转换器74LVX4245，可将由单片机输出的5V电压转到3V．并将由Flash输出的3V电压转到5V。其转换方向便于控制。而软件设计部分采用单片机C语言编写程序。当数据存储到单

7、片机后．用一个循环语句将其放到数组里。这样可以通过改变某一变量实现上下查询。则将这个变量的改变放在外部中断程序中。2硬件电路设计硬件电路设计由于选用的5l单片机是rIrI'L器件[21，而所要检测的NAND型n船h存储器是CMOS器件，这2种类型器件的电平不相匹配，因此需增加电平转换器74LS4245，从而实现电压的5V与3V的双向转换。2．1单片机的连接为了方便读图。该系统设计的电路原理图中的许多导线连接都采用网络标号131的方法．而标号的命名基本采用引脚名称。单片机的P1端口