自动化故障模拟流程的开发

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1、摘要随着科学技术的发展，一方面，微控制器在尺寸上已经变得越来越小，另一方面，生产制造的困难度也变得越来越大，这就导致了设计与测试的难度急剧上升。由此可见，区分出完好的芯片与有缺陷的芯片变成了一个艰苦的工作。功能性测试的出现为测试提供了一个简单易行的方法。用功能性测试向量来测试生产出的芯片变得越来越重要，甚至可以说是必要的。但是如何检测功能性测试的质量与完整性呢?这就需要借助故障模拟的方法。本课题发出一种自动化的故障模拟来测量功能性测试向量的质量。关键词：微控制器功能性测试向量故障模拟自动化AbstractAstechnologyadvance

2、s，inonehand，microcontrollerbecomessmallerandsmaller,intheotherhand，manufacturingdifficultiesbecomesbiggerandbiggerwhich，asaconsequence，leadtodesignandtestcomplexitydramaticallyenhanced．Therefore，sortgoodandbadchipbecomesareallytoughwork．Totestadesignwithfunctional，testvecto

3、rsandtomeasurethequalityoftestvectorswithfaultsimulationbecomesmoreandmoreimportantevenmandatory．Thisthesisproposesthedevelopmentofanautomaticwaytoperformfaultsimulmionwhichisusedtomeasurethequalityofthefunctjonaltestvectors．Keyword：MicrocontrollerFunctionalTestVectorFaultS

4、imulationAutomation学位论文独创性(或创新性)声明秉承学校严谨的学风和优良的科学道德，本人声明所呈交的论文是我个人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。尽我所知，除了文中特别加以标注和致谢中所罗列的内容以外，论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果；也不包含为获得西安电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中做了明确的说明并表示了谢意。，申请学位论文与资料若有不实之处，本人承担一切的法律责任。本人签名：关于论文使用授权的说明本人完全了解西安电子科技大学

5、有关保留和使用学位论文的规定，即：研究生在校攻读学位期间论文工作的知识产权单位属西安电子科技大学。学校有权保留送交论文的复印件，允许查阅和借阅论文；学校可以公布论文的全部或部分内容，可以允许采用影印、缩印或其它复制手段保存论文。同时本人保证，毕业后结合学位论文研究课题再撰写的文章一律署名单位为西安电子科技大学。(保密的论文在解密后遵守此规定)本学位论文属于保密，在一年解密后适用本授权书。本人签名：导师签名：日期婴￡：竺主：堑日期⋯一第一章简介1．1动机功能性测试对于有非常高质量要求的微控制器来说是必须的。他们既可以用来测试不能被ATPG(Au

6、tomatedTestPatternGeneration)所覆盖到的节点也可以用来找出不能被静态的方法所发现的故障。ATPG是一种应用专用硬件来产生结构性测试向量的方法(这种方法将在2．3．5小节中予以解释)。为了确定所应用的功能性测试可以覆盖微控制器的所有可能功能，保证功能性测试可以或者尽可能100％的覆盖所有功能，我们引入故障模拟的方法。英飞凌科技公司使用WinterLogic公司所提供的Z01X软件来进行故障模拟，但是目前这个工具并没有集成在英飞凌科技公司高度自动化的验证流程之中。因此，本论文将研究怎样建立起故障模拟的环境，准备测试向量

7、以及实施自动化的故障模拟。这篇论文的目的是分析英飞凌科技公司微控制器部门现有的测试环境，为所有的测试工程师包括那些从未有任何关于故障模拟经验的工程师们建立起一个自动化的易用的故障模拟测试平台。1．2论文的任务为了能够达到论文的目标，论文所包含的任务应该被清晰的定义并分析。本论文所包含的任务包括：1)建立起为微控制器进行故障模拟的环境，包含为故障模拟建模；执行故障模拟的先决性条件应该首先被分析，从而使建立起故障模拟成为可能，故障模拟所需的故障模型也应该被分析，这样才可能把最适合的故障模型应用于我们的设计并且尽可能多的找出电路中的故障。2)自动化

8、故障模拟的配置过程，定义此过程的需求并且写脚本以实现此过程；在进行故障模拟之前，模拟器自身需要在现有的测试系统环境中被配置，自动化的工具配置过程对于实现最终的“一键